[發明專利]靜電感度儀放電波形的測試校準系統及方法

在審

• 申請號: 202011171873.0
• 申請日: 2020-10-28
• 公開（公告）號: CN112255581A
• 公開（公告）日: 2021-01-22
• 發明（設計）人: 張宇;袁亞飛;劉民;季啟政;梅高峰;崔振剛;周黎;劉英乾
• 申請（專利權）人: 北京東方計量測試研究所
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 北京善任知識產權代理有限公司 11650
• 代理人: 張振偉

1.一種靜電感度儀放電波形的測試校準系統，其特征在于，包括：

探測電極，用于接收靜電感度儀的靜電放電電流信號；

屏蔽支架，所述探測電極固定在所述屏蔽支架的頂端，其中：所述屏蔽支架內部設置有信號傳輸線，所述信號傳輸線的第一端與所述電極電連接，所述信號傳輸線的第二端透過所述屏蔽支架與信號處理單元電連接；

所述信號處理單元，設置在所述屏蔽支架外圍，用于記錄所述靜電放電電流信號的波形，并記錄的信號波形與標準波形進行比對，得到比對結果；

底座，與所述屏蔽支架的底端固定連接。

2.根據權利要求1所述靜電感度儀放電波形的測試校準系統，其特征在于，所述信號處理單元，包括：

信號衰減器，與所述信號傳輸線的第二端電連接，用于對所述靜電放電電流信號進行衰減，并轉換所述電流信號為電壓信號；

波形顯示器，與所述信號衰減器電連接，用于顯示所述記錄的波形，和/或，所述比對結果。

3.根據權利要求1所述靜電感度儀放電波形的測試校準系統，其特征在于，所述屏蔽支架上設置有調節裝置；

所述調節裝置，用于調節所述屏蔽支架的高度。

4.根據權利要求1所述靜電感度儀放電波形的測試校準系統，其特征在于，所述探測電極采用電流靶擊柱電極形式。

5.根據權利要求1所述靜電感度儀放電波形的測試校準系統，其特征在于，所述屏蔽支架為金屬材質制作的內部中空結構。

6.根據權利要求1所述靜電感度儀放電波形的測試校準系統，其特征在于，所述屏蔽支架上開設有傳輸口，所述信號傳輸線通過所述傳輸口透過所述屏蔽支架。

7.根據權利要求1所述靜電感度儀放電波形的測試校準系統，其特征在于，所述波形顯示器為波形顯示記錄設備，包括數字示波器，和/或數字存儲示波器。

8.一種靜電感度儀放電波形的測試校準方法，其特征在于，包括：

根據測試目的，調節所述靜電感度儀的放電針電極與測試校準系統內探測電極之間的相對位置；

在調節完所述相對位置之后，控制所述靜電感度儀進入工作狀態；

記錄所述靜電感度儀在所述工作狀態下靜電放電電流信號的波形；

將記錄的波形與所述測試目的對應的標準波形進行比對，得到比對結果。

9.根據權利要求8所述靜電感度儀放電波形的測試校準方法，其特征在于，所述根據測試目的，調節所述靜電感度儀的放電針電極與測試校準系統內探測電極之間的相對位置，包括：

在測試所述靜電感度儀的回路電學特性時，控制所述靜電感度儀的放電針電極與所述探測電極接觸；

在測試所述靜電感度儀的空氣放電擊穿特性時，控制所述靜電感度儀的放電針電極與所述探測電極間距設置；

在測試所述靜電感度儀的帶載工作能力時，在所述靜電感度儀帶負載的狀態下，控制所述靜電感度儀的放電針電極與所述測試校準系統的所述探測電極間距設置。

10.根據權利要求9所述靜電感度儀放電波形的測試校準方法，其特征在于，所述負載包括絕緣介質塊或絕緣介質粉末。