[發明專利]一種通過干涉條紋中心區域數據確定成像系統參數的方法在審
| 申請號： | 202011171212.8 | 申請日： | 2020-10-28 |
| 公開（公告）號： | CN112326203A | 公開（公告）日： | 2021-02-05 |
| 發明（設計）人： | 葉松;張紫楊;朱保華;李樹;張文濤;張玉婷;王方原;汪杰君;王新強;陳妮艷 | 申請（專利權）人： | 桂林電子科技大學 |
| 主分類號： | G01M11/02 | 分類號： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 541004 廣西*** | 國省代碼： | 廣西;45 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 通過 干涉 條紋 中心 區域 數據 確定 成像 系統 參數 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種通過干涉條紋中心區域數據確定成像系統參數的方法。其特征在于，該方法的具體過程包括如下步驟：
A1，對一定帶寬的入射光進行空間調制偏振成像，得到包含偏振信息的干涉圖像；
A2，提取得到的干涉圖的中心區域的干涉條紋數據；
A3，對提取的干涉條紋進行變換得到偏振信息在頻域中的分布情況；
A4，通過結合偏振信息在頻域中的分布情況可以更加精確的確定偏振成像系統的相關參數。
2.根據權利要求1所述的通過干涉條紋中心區域數據確定成像系統參數的方法。其特征是：當寬帶寬入射光進入到空間調制偏振成像系統后，得到的干涉圖像會出現一些混疊的現象，在使用干涉圖像進行偏振成像系統的參數的確定時會出現一些誤差，而混疊的程度也有一定的變化規律，中心位置的干涉條紋混疊的現象較輕。
3.根據權利要求1所述的通過干涉條紋中心區域數據確定成像系統參數的方法。其特征是：在使用干涉圖像中心位置的混疊現象較輕的干涉條紋進行變換，然后通過在頻域中不同偏振信息的分布情況計算偏振成像系統的參數，可以減少因為寬帶寬入射光引入的誤差，得到精度更高的系統參數。
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