[發(fā)明專利]研究溫度、濕度對不同土體細顆粒流失的影響的試驗裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011170408.5
• 申請日: 2020-10-28
• 公開（公告）號: CN112285324A
• 公開（公告）日: 2021-01-29
• 發(fā)明（設計）人: 劉偉平;張伯超
• 申請（專利權）人: 南昌大學
• 主分類號: G01N33/24
• 分類號: G01N33/24;G01N5/04;G01N1/28;G01D21/02;G05D27/02
• 代理公司: 南昌青遠專利代理事務所(普通合伙) 36123
• 代理人: 涂志剛

1.一種研究溫度、濕度對不同土體細顆粒流失的影響的試驗裝置，其特征在于：包括模型試樣（10）、承載所述模型試樣（10）的模型箱（2），所述模型箱（2）為中空頂部和底部開口的方形結構，其前壁設有電子濕度計（1）、后壁設有電子溫度計（3）；所述模型箱頂部開口處設有剛性底座（4），所述剛性底座（4）的頂部承載有濕度控制系統(tǒng)、可控光熱系統(tǒng)和影像采集系統(tǒng)；所述模型箱（2）的底部開口處設有金屬網（7），所述金屬網（7）外側設有收集盤（8）。

2.根據權利要求1所述的研究溫度、濕度對不同土體細顆粒流失的影響的試驗裝置，其特征在于：所述模型箱（2）內壁沿著豎直和水平方向均設有刻度線。

3.根據權利要求 1所述的研究溫度、濕度對不同土體細顆粒流失的影響的試驗裝置，其特征在于：所述可控光熱系統(tǒng)為四個能夠調節(jié)溫度的加熱燈（5），所述影像采集系統(tǒng)為工業(yè)相機（6），所述濕度控制系統(tǒng)為四個電子噴霧器（9），所述工業(yè)相機（6）固定于所述剛性底座（4）的中部，所述加熱燈（5）設置于所述工業(yè)相機（6）的周圍，四個所述電子噴霧器（9）固定于所述剛性底座（4）的四個角上，所述電子噴霧器（9）的噴頭穿過所述剛性底座（4）能夠對所述模型箱（2）內的模型試樣（10）進行噴霧。

4.根據權利要求3所述的研究溫度、濕度對不同土體細顆粒流失的影響的試驗裝置，其特征在于：所述剛性底座（4）為透明塑料板。

5.根據權利要求1所述的研究溫度、濕度對不同土體細顆粒流失的影響的試驗裝置，其特征在于：所述收集盤（8）呈頂部開口的中空方形結構，所述收集盤（8）內腔底部與所述金屬網（7）之間設有間隙，所述收集盤（8）的內腔橫截面大于所述金屬網（7）的橫截面。