[發明專利]一種基于全偏振測量系統的偏振敏感材料的受力分析方法

在審

• 申請號: 202011165453.1
• 申請日: 2020-10-27
• 公開（公告）號: CN112378752A
• 公開（公告）日: 2021-02-19
• 發明（設計）人: 張春熹;楊艷強;王心;于佳
• 申請（專利權）人: 衡陽市智谷科技發展有限公司
• 主分類號: G01N3/08
• 分類號: G01N3/08;G01N19/00
• 代理公司: 深圳市蘭鋒盛世知識產權代理有限公司 44504
• 代理人: 羅炳鋒

本發明公開了一種基于全偏振測量系統的偏振敏感材料的受力分析方法，涉及偏振測量技術領域，包括將傳感器和偏振敏感材料進行安裝，對所述偏振敏感材料建立力學分析模型，對所述偏振敏感材料的力學分析模型進行離散化，生成力學分析模型的四個方向的單元，對所述偏振敏感材料施加載荷，并通過傳感器記錄所述偏振敏感材料的受力，根據所述偏振敏感材料在三維空間中的應變。該基于全偏振測量系統的偏振敏感材料的受力分析方法，通過利用將建立的偏振敏感材料的力學分析模型進行離散化，可以將力學分析模型分為四個不同方向的單元來進行受力分析，通過四個方向的受力分析可以使得對偏振敏感材料的布設更加精準。

技術領域

本發明涉及偏振測量技術領域，具體為一種基于全偏振測量系統的偏振敏感材料的受力分析方法。

背景技術

偏振測量是一種測量并呈現橫波偏振的方法，尤其是用于電磁波。典型的偏振測量是通過分析目標材料所透過、反射、折射乃至衍射的電磁波來描述該物體的種種特性。

現有技術中，全偏振測量系統中必然會使用到偏振敏感材料來對偏振進行測量，但是在測量之前需要對偏振敏感材料進行受力分析使得偏振敏感材料的布設更加精準，但是現有的受力分析方法太過單一，通過一個位置的受力分析難以保證偏振敏感材料的布設精準性。

發明內容

(一)解決的技術問題

針對現有技術的不足，本發明提供了一種基于全偏振測量系統的偏振敏感材料的受力分析方法，解決了上述背景技術中提到的問題。

(二)技術方案

為實現以上目的，本發明通過以下技術方案予以實現：一種基于全偏振測量系統的偏振敏感材料的受力分析方法，包括：

將傳感器和偏振敏感材料進行安裝，對所述偏振敏感材料建立力學分析模型，對所述偏振敏感材料的力學分析模型進行離散化，生成力學分析模型的四個方向的單元，對所述偏振敏感材料施加載荷，并通過傳感器記錄所述偏振敏感材料的受力，根據所述偏振敏感材料在三維空間中的應變，建立所述單元的剛度方程，求解所述剛度方程，通過求解的結果對偏振敏感材料的布設進行調整。

進一步的，所述將傳感器和偏振敏感材料進行安裝，包括：

根據所述在偏振敏感材料上開設有安裝孔，將所述傳感器通過安裝孔固定安裝與偏振敏感材料上，并調節所述傳感器的預緊力。

進一步的，所述對所述偏振敏感材料建立力學分析模型，包括：

根據所述偏振敏感材料利用一個立體空間來建立一個所述偏振敏感材料的立體的力學分析模型，根據所述偏振敏感材料的具體安裝位置來確定立體空間的高度及位置。

進一步的，所述對所述偏振敏感材料的力學分析模型進行離散化，生成力學分析模型的四個方向的單元，包括：

根據所述偏振敏感材料的立體力學分析模型的位置為基準，對偏振敏感材料的正面進行網格化。

進一步的，所述偏振敏感材料的正面進行網格化，包括：

根據所述網格化后所述正面上的各個二維單元為所述立體模型的單元，并將所述立體模型的單元分為四個單元；

根據偏振敏感材料正面的網格化的上端分為上側單元；

根據偏振敏感材料正面的網格化的下端分為下側單元；

根據偏振敏感材料正面的網格化的左端分為左側單元；

根據偏振敏感材料正面的網格化的右端分為右側單元。

進一步的，所述對所述偏振敏感材料施加載荷，并通過傳感器記錄所述偏振敏感材料的受力，包括：