[發明專利]基于數字全息干涉的光波偏振態測量方法

在審

• 申請號: 202011163666.0
• 申請日: 2020-10-27
• 公開（公告）號: CN112378517A
• 公開（公告）日: 2021-02-19
• 發明（設計）人: 張春熹;楊艷強;王心;于佳
• 申請（專利權）人: 衡陽市智谷科技發展有限公司
• 主分類號: G01J4/00
• 分類號: G01J4/00
• 代理公司: 深圳市蘭鋒盛世知識產權代理有限公司 44504
• 代理人: 羅炳鋒

1.一種基于數字全息干涉的光波偏振態測量方法，其特征在于：該基于數字全息干涉的光波偏振態測量方法包括以下步驟：

步驟一、對待測的光路進行調整，使得測量光源與測量背板處于同一水平線上，此時的測量光源所發射的光波與測量背板處于垂直狀態，且在測量光源與測量背板的中心位置放置光學偏振片；

步驟二、開啟測量光源，二元光柵放置在測量光源與光學偏振片的中心位置上，并使得光學偏振片與二元光柵處于平行的狀態中，測得此時CCD探測器上光波偏振態的數值，將此時的CCD探測器測量的數值記為γ₁，然后將圖像傳感器采集到的全息圖上傳到計算機中，并將此時的計算機上中得到的偏振值記為ε₁；

步驟三、對步驟二中的CCD探測器進行光波偏振態的數值的檢測后，調整光學偏振片的角度，并且對光學偏振片的角度進行調整，調整后的光學偏振片的角度與原先光學偏振片存在的位置之間為45度的夾角，測得此時的CCD探測器的數值，并將此時測得的數值記為γ₂，然后將圖像傳感器采集到的全息圖上傳到計算機中，并將此時計算機中的得到的偏振值記為ε₂；

步驟四、對光波偏振態的數值S進行計算，其中

步驟五、進行三次重復試驗，然后取三次試驗的光波偏振態的數值S平均值作為最終的測量結果。

2.根據權利要求1所述的基于數字全息干涉的光波偏振態測量方法，其特征在于：整個實驗測量的過程均位于密閉的空間中進行的，無外在的光源進行污染。

3.根據權利要求1所述的基于數字全息干涉的光波偏振態測量方法，其特征在于：所述測量背板為透明的玻璃板材質，其中測量背板的厚度為1～1.5cm。

4.根據權利要求1所述的基于數字全息干涉的光波偏振態測量方法，其特征在于：所述光學偏振片為厚度為0.8cm的線偏振鏡與厚度為0.12cm的四分之一波片膠合而成。

5.根據權利要求1所述的基于數字全息干涉的光波偏振態測量方法，其特征在于：步驟二和步驟三中的二元光柵的面積大于測量光源照射的面積。

6.根據權利要求1所述的基于數字全息干涉的光波偏振態測量方法，其特征在于：步驟二中CCD探測器為反彈式單CCD探測器，像素矩陣4K×4K，最大像素為1600萬。

7.根據權利要求1所述的基于數字全息干涉的光波偏振態測量方法，其特征在于：步驟二和步驟三中圖像傳感器為CMOS圖像傳感器，CMOS圖像傳感器計算機處于電信連接狀態。

8.根據權利要求1所述的基于數字全息干涉的光波偏振態測量方法，其特征在于：步驟三中的對光學偏振片的角度進行調整，其調整后的測量光源照射的面積全部位于光學偏振片上。

9.根據權利要求1所述的基于數字全息干涉的光波偏振態測量方法，其特征在于：步驟二和步驟三中的二元光柵的厚度為0.8cm。