[發明專利]一種電子產品測試過程結構化描述方法

有效

• 申請號: 202011162746.4
• 申請日: 2020-10-27
• 公開（公告）號: CN112415301B
• 公開（公告）日: 2022-07-15
• 發明（設計）人: 舒武靜;鄧樂武;莫文靜;胡際東;李佳璇
• 申請（專利權）人: 成都飛機工業（集團）有限責任公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 成都天嘉專利事務所(普通合伙) 51211
• 代理人: 趙凱

1.一種電子產品測試過程結構化描述方法，其特征在于，包括以下步驟：

a、通過對被測對象的測試需求進行分析，對測試過程設計進行定義與表達，包括被測對象故障模式集、測試入口、測試單元、測試組和測試輸出結果；

b、根據機載系統某一功能的檢查的特點，將分離的測試單元按照順序根據上一測試單元的輸出結果進行順序組合；

c、測試單元順序組合時，根據上一測試單元的輸出結果組合，限定輸出結果影響下一執行測試單元的判斷或測試組的輸出結果的判斷；

所述步驟a中，被測對象故障模式集，用于設計和描述被測對象的故障模式，故障模式信息用于在測試執行時進行故障定位；

所述步驟a中，測試入口，用于明確測試執行時的起始點；

所述步驟a中，測試單元包括測試過程中使用的參數、變量、操作類別和測試結果判據；測試單元由一個或多個測試操作組成；

所述步驟a中，測試組，用于完成機載系統某一功能的檢查，測試組由多個測試單元的排序組成，是對多個測試單元的執行順序；

所述步驟a中，測試輸出結果，用于設計每個測試單元或測試組的所有可能輸出的結果。

2.根據權利要求1所述的一種電子產品測試過程結構化描述方法，其特征在于：所述故障模式包括故障率、故障位置、故障等級、可探測度和維修指導的信息集合。

3.根據權利要求2所述的一種電子產品測試過程結構化描述方法，其特征在于：所述故障等級包括致命故障、一般故障和警告；可探測度包括毀壞性探測、可檢測探測和不可探測；維修指導包括維修行為和維修建議，維修行為和維修建議通過結構化文本形式存在或采用外部鏈接方式存在。

4.根據權利要求3所述的一種電子產品測試過程結構化描述方法，其特征在于：所述測試操作包括基本操作、總線操作和人機交互操作；基本操作用于非總線信號測試執行結構化描述；總線操作用于總線信號測試執行結構化描述；人機交互操作用于人機交互測試執行的結構化描述。

5.根據權利要求4所述的一種電子產品測試過程結構化描述方法，其特征在于：所述基本操作包括初始化操作、連接操作、讀取操作、斷開連接操作、重置操作、使能操作和重復操作；總線操作包括編碼操作、解碼操作、交換信息操作、幀操作和讀取總線數據操作；人機交互操作包括輸入操作和輸出操作，輸入操作用于測試操作中的結果輸入提醒和結果接收，輸出操作用于提示測試操作中人執行的動作。