[發明專利]顯示面板及顯示裝置

在審

• 申請號: 202011161245.4
• 申請日: 2020-10-27
• 公開（公告）號: CN112289776A
• 公開（公告）日: 2021-01-29
• 發明（設計）人: 彭文龍
• 申請（專利權）人: 武漢華星光電半導體顯示技術有限公司
• 主分類號: H01L23/544
• 分類號: H01L23/544;G09F9/30
• 代理公司: 深圳紫藤知識產權代理有限公司 44570
• 代理人: 何輝

本發明實施例公開了一種顯示面板及顯示裝置，其中，該顯示面板包括：檢測區域和顯示區域，所述顯示區域包括多個子像素，所述顯示面板還包括：襯底基板，包括第一子部和第二子部，所述第一子部的位置與所述檢測區域的位置對應；所述第二子部與所述顯示區域的位置對應；檢測端子，設于所述第一子部上；限定層，包括第一限定部，所述第一限定部設于所述第二子部上；所述第一限定部上設置有第一開口區域，所述第一開口區域的位置與所述子像素的位置對應；間隙子，設于所述第一限定部上。本發明實施例的顯示面板及顯示裝置，可以提高產品良率。

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，具體涉及一種顯示面板及顯示裝置。

背景技術

柔性顯示面板由于其輕薄、可彎曲折疊等優勢，近年來在電子設備中的占比越來越高，目前顯示面板的陣列區域基本上都是采用的7T1C設計，由于涉及到補償電路，所以對產品電性的要求較高；而產線上監控電性的設備基本上采用測試元件組(Test ElementGroup，TEG)。

TEG設備在測量產品電性時，需要進行兩道識別工序，識別工序是通過圖像識別設備抓取檢測端子的圖像以確定檢測端子的位置，然后再將TEG的探針接在檢測端子上。然而在最后一道識別工序時，容易受到其他膜層的干擾，導致無法準確地獲取待檢測端子的圖像，從而無法接入探針，進而無法進行測量，降低了顯示面板的產品良率。

發明內容

本發明實施例提供一種顯示面板及顯示裝置，可以提高顯示面板的產品良率。

本發明實施例提供一種顯示面板，其包括：檢測區域和顯示區域，所述顯示區域包括多個子像素，所述顯示面板還包括：

襯底基板，包括第一子部和第二子部，所述第一子部的位置與所述檢測區域的位置對應；所述第二子部與所述顯示區域的位置對應；

檢測端子，設于所述第一子部上；

限定層，包括第一限定部，所述第一限定部設于所述第二子部上；所述第一限定部上設置有第一開口區域，所述第一開口區域的位置與所述子像素的位置對應；

間隙子，設于所述第一限定部上。

本發明還提供一種顯示裝置，其包括上述顯示面板。

本發明實施例的顯示面板及顯示裝置，包括檢測區域和顯示區域，所述顯示區域包括多個子像素，所述顯示面板還包括：襯底基板，包括第一子部和第二子部，所述第一子部的位置與所述檢測區域的位置對應；所述第二子部與所述顯示區域的位置對應；檢測端子，設于所述第一子部上；限定層，包括第一限定部，所述第一限定部設于所述第二子部上；所述第一限定部上設置有第一開口區域，所述第一開口區域的位置與所述子像素的位置對應；間隙子，設于所述第一限定部上；由于在檢測端子的兩側未設置像素定義層和間隙子，因此可以避免受到間隙子和限定層的干擾，進而可以準確地獲取待檢測端子的圖像，便于接入探針和測量，提高了顯示面板的產品良率。

附圖說明

圖1為現有顯示面板中第一檢測區域的剖面示意圖。

圖2為現有顯示面板中第二檢測區域的剖面示意圖。

圖3為本發明一實施例提供的顯示面板的局部剖面示意圖。

圖4為本發明一實施例提供的顯示面板的剖面示意圖。

圖5為本發明另一實施例提供的顯示面板的剖面示意圖。

具體實施方式

下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述。顯然，所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發明中的實施例，本領域技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發明保護的范圍。