[發(fā)明專利]基于IDE調(diào)試框架的用于CPU程序的調(diào)試方法及調(diào)試系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011160052.7
• 申請日: 2020-10-27
• 公開（公告）號: CN112000584B
• 公開（公告）日: 2021-01-29
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 陳健;種挺;劉亮;張茜歌;張海峰;原義棟
• 申請（專利權(quán)）人: 北京智芯微電子科技有限公司;國網(wǎng)信息通信產(chǎn)業(yè)集團有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 北京潤平知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11283
• 代理人: 肖冰濱;王曉曉

本發(fā)明涉及程序調(diào)試技術(shù)領(lǐng)域，提供一種基于IDE調(diào)試框架的用于CPU程序的調(diào)試方法、調(diào)試系統(tǒng)以及存儲介質(zhì)。所述調(diào)試方法包括：根據(jù)CPU程序的調(diào)試狀態(tài)創(chuàng)建與所述調(diào)試狀態(tài)相對應(yīng)的啟動程序；判斷所述啟動程序的類型，根據(jù)所述啟動程序的類型確定是否創(chuàng)建調(diào)試程序。本發(fā)明基于IDE調(diào)試框架改進用于CPU程序的調(diào)試方法，對調(diào)試的啟動程序進行分類，根據(jù)啟動程序的類型確定是否創(chuàng)建調(diào)試程序。在CPU程序處于調(diào)試狀態(tài)時，在用戶錯誤操作或多次點擊Debug按鈕情況下能夠?qū)σ褎?chuàng)建的調(diào)試程序進行保護，使IDE開發(fā)環(huán)境容錯性更好，保證IDE開發(fā)環(huán)境處于健康狀態(tài)，大大提升研發(fā)效率。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及程序調(diào)試技術(shù)領(lǐng)域，具體地涉及一種基于IDE調(diào)試框架的用于CPU程序的調(diào)試方法、一種基于IDE調(diào)試框架的用于CPU程序的調(diào)試系統(tǒng)以及一種存儲介質(zhì)。

背景技術(shù)

在CPU芯片程序調(diào)試階段，CPU開發(fā)工具為芯片調(diào)試提供的一套開發(fā)工具系統(tǒng)，包括開發(fā)工具軟件和開發(fā)工具硬件。開發(fā)工具軟件包含集成開發(fā)環(huán)境（IDE）、編譯器（Compiler）、匯編器（ASSembler）、鏈接器（Linker）、調(diào)試器（Debugger）等；開發(fā)工具硬件為一套開發(fā)板，通過FPGA和一些外圍電路對CPU的硬件邏輯進行仿真，配合開發(fā)工具軟件實現(xiàn)對CPU的調(diào)試功能。在CPU軟件調(diào)試時，研發(fā)人員可以操控IDE實現(xiàn)對CPU的調(diào)試，整體流程為：IDE開發(fā)環(huán)境將參數(shù)經(jīng)過動態(tài)庫解析，下發(fā)給USB設(shè)備驅(qū)動程序，再由設(shè)備驅(qū)動與硬件進行命令或數(shù)據(jù)下發(fā)，同時設(shè)備驅(qū)動可以返回設(shè)備狀態(tài)給動態(tài)庫，并最終把結(jié)果傳遞到IDE界面。由此可見，CPU的開發(fā)離不開IDE開發(fā)環(huán)境，IDE開發(fā)環(huán)境的優(yōu)劣嚴重影響CPU程序調(diào)試。

常見的CPU集成開發(fā)環(huán)境（IDE）是在Eclipse CDT的基礎(chǔ)上集成插件，完成IDE開發(fā)環(huán)境和芯片的交互，IDE的調(diào)試框架也繼承了Eclipse CDT的調(diào)試框架。Eclipse CDT原生態(tài)的調(diào)試框架可以對程序進行多次調(diào)試，只要用戶點擊Debug按鈕，原生態(tài)的調(diào)試框架會一直創(chuàng)建調(diào)試程序，即單個程序可以進入多個調(diào)試狀態(tài)，但是在調(diào)試CPU時，當CPU處于調(diào)試狀態(tài)，用戶通過IDE Debug按鈕再次給CPU發(fā)起調(diào)試指令（或者用戶誤操作多次點擊Debug按鈕）會導(dǎo)致芯片進入Error機制，最后反饋結(jié)果會傳遞到IDE開發(fā)環(huán)境，導(dǎo)致IDE調(diào)試模塊失效，甚至需重新啟動IDE才可使用調(diào)試模塊。如何在CPU處于調(diào)試狀態(tài)時，保護IDE開發(fā)環(huán)境的完整性成為在設(shè)計IDE開發(fā)環(huán)境時需要重點考慮的問題。

針對保護IDE開發(fā)環(huán)境的完整性這一問題，現(xiàn)有IDE設(shè)計主要是基于用戶層面去解決，即用戶發(fā)起一次CPU調(diào)試后不再操作IDE向芯片發(fā)送調(diào)試指令，必須先關(guān)閉CPU調(diào)試狀態(tài)后才可再次發(fā)起調(diào)試指令。一旦用戶發(fā)生誤操作多次點擊Debug按鈕，IDE出現(xiàn)崩潰，需要關(guān)閉IDE后再重新打開，重復(fù)操作Debug步驟，這些重復(fù)操作都需要等待時間，嚴重影響研發(fā)效率。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是提供一種基于IDE調(diào)試框架的用于CPU程序的調(diào)試方法及調(diào)試系統(tǒng)，以解決上述的問題。

為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明一方面提供一種基于IDE調(diào)試框架的用于CPU程序的調(diào)試方法，所述方法包括：

根據(jù)CPU程序的調(diào)試狀態(tài)創(chuàng)建與所述調(diào)試狀態(tài)相對應(yīng)的啟動程序；

判斷所述啟動程序的類型，根據(jù)所述啟動程序的類型確定是否創(chuàng)建調(diào)試程序。

進一步地，所述根據(jù)CPU程序的調(diào)試狀態(tài)創(chuàng)建與所述調(diào)試狀態(tài)相對應(yīng)的啟動程序，包括：

通過工程的配置信息、調(diào)試啟動信息以及工程名稱確定CPU程序是否進入調(diào)試狀態(tài)；

在CPU程序未進入調(diào)試狀態(tài)的情況下，創(chuàng)建第一類型的啟動程序；

在CPU程序已進入調(diào)試狀態(tài)的情況下，創(chuàng)建第二類型的啟動程序。

進一步地，所述根據(jù)所述啟動程序的類型確定是否創(chuàng)建調(diào)試程序，包括：