[發明專利]一種輸入冗余電路及方法在審
| 申請號: | 202011158212.4 | 申請日: | 2020-10-26 |
| 公開(公告)號: | CN112332413A | 公開(公告)日: | 2021-02-05 |
| 發明(設計)人: | 張成土;薛東升 | 申請(專利權)人: | 銳捷網絡股份有限公司 |
| 主分類號: | H02J3/00 | 分類號: | H02J3/00 |
| 代理公司: | 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291 | 代理人: | 常曉 |
| 地址: | 350002 福建省福州市倉*** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 輸入 冗余 電路 方法 | ||
1.一種輸入冗余電路,其特征在于,包括輸入電源單元、電壓檢測單元、控制單元和選擇單元,所述輸入電源單元分別與所述電壓檢測單元、所述選擇單元連接,所述電壓檢測單元與所述控制單元連接,所述控制單元與所述選擇單元連接,其中:
所述輸入電源單元,用于將至少兩路電源輸入到所述選擇單元;
所述電壓檢測單元,用于檢測所述至少兩路電源的電壓是否適合供電,并將檢測結果發送到所述控制單元;
所述控制單元,用于接收所述檢測結果,根據所述檢測結果從所述至少兩路電源中進行選擇,并將選擇結果發送到所述選擇單元;
所述選擇單元,用于接收所述選擇結果,將所述選擇結果對應的電源輸入到所述輸入冗余電路連接的電磁干擾EMI及濾波整流電路,以向受電設備供電。
2.根據權利要求1所述的電路,其特征在于,若所述至少兩路電源包括第一電源和第二電源,則所述選擇單元包括第一雙刀雙擲開關和第二雙刀雙擲開關,所述第一雙刀雙擲開關分別與所述第一電源、所述EMI及濾波整流電路連接,所述第二雙刀雙擲開關分別與所述第二電源、所述EMI及濾波整流電路連接,其中:
所述第一雙刀雙擲開關,用于導通時,將所述第一電源輸入到所述EMI及濾波整流電路;
所述第二雙刀雙擲開關,用于導通時,將所述第二電源輸入到所述EMI及濾波整流電路。
3.根據權利要求2所述的電路,其特征在于,所述選擇單元還包括第一線圈和第二線圈,所述第一雙刀雙擲開關包括第一磁吸開關和第二磁吸開關,所述第一磁吸開關和所述第二磁吸開關與所述第一線圈連接,所述第二雙刀雙擲開關包括第三磁吸開關和第四磁吸開關,所述第三磁吸開關和所述第四磁吸開關與所述第二線圈連接,其中:
所述第一線圈,用于通電時,將所述第一磁吸開關和所述第二磁吸開關閉合,使所述第一雙刀雙擲開關導通;
所述第二線圈,用于通電時,將所述第三磁吸開關和所述第四磁吸開關閉合,使所述第二雙刀雙擲開關導通。
4.根據權利要求3所述的電路,其特征在于,所述選擇單元還包括加速開關單元,所述加速開關單元分別與所述第一線圈和所述第二線圈連接,其中:
所述加速開關單元,用于根據所述選擇結果向所述第一線圈或所述第二線圈輸入N倍額定驅動電壓,以使所述第一雙刀雙擲開關或所述第二雙刀雙擲開關快速導通,所述N大于1。
5.根據權利要求1所述的電路,其特征在于,所述電壓檢測單元包括第一比較器,其中:
所述第一比較器,用于將所述至少兩路電源的電壓分別與第一預設電壓值進行比較,得到所述檢測結果。
6.根據權利要求5所述的電路,其特征在于,所述電壓檢測單元還包括第二比較器,其中:
所述第二比較器,用于在所述檢測結果為所述至少兩路電源的電壓均不大于所述第一預設電壓值時,將所述至少兩路電源的電壓分別與第二預設電壓值進行比較,重新確定所述檢測結果,所述第二預設電壓值小于所述第一預設電壓值。
7.根據權利要求6所述的電路,其特征在于,所述電壓檢測單元還包括分壓電路,所述分壓電路分別與所述第一比較器、所述第二比較器連接,其中:
所述分壓電路,用于將所述至少兩路電源的電壓按預設比例進行分壓處理,并將分壓后的電壓輸入所述第一比較器、所述第二比較器。
8.根據權利要求1所述的電路,其特征在于,所述控制單元還用于:
根據所述至少兩路電源的優先級,在所述檢測結果中將優先級最高的電源確定為所述選擇結果。
9.一種輸入冗余方法,應用于如權利要求1-8任一所述的輸入冗余電路中,其特征在于,所述方法包括:
檢測至少兩路電源的電壓是否適合供電;
根據檢測結果從所述至少兩路電源中進行選擇;
將選擇結果對應的電源輸入到EMI及濾波整流電路,以向受電設備供電。
10.一種計算機可讀存儲介質,其特征在于,所述計算機可讀存儲介質用于存儲計算機程序,當所述計算機程序在計算機上運行時,使得所述計算機執行如權利要求9所述的輸入冗余方法。
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