[發明專利]一種連接器測試夾具

在審

• 申請號: 202011157307.4
• 申請日: 2020-10-26
• 公開（公告）號: CN112327012A
• 公開（公告）日: 2021-02-05
• 發明（設計）人: 齊偉;王有名;陳俊;鄭道遠;吳煉
• 申請（專利權）人: 安捷利（番禺）電子實業有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R1/067;G01R1/073
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 孟金喆

本發明公開一種連接器測試夾具，包括載體和探針，載體上開設有多個貫穿載體的插孔，探針可插設于插孔內，探針的第一端用于連接被測連接器，探針的第二端用于連接電路板。在測試過程中，采用探針的方式與被測連接器接觸連接，因此，避免了與被測連接器配合連接，簡化了與被測連接器的連接過程，節省了時間成本。在針對不同類型的連接器時，只需根據不同類型的連接器插入相應數量的探針即可，無需為每一類型的連接器匹配特殊的測試夾具，提高了測試夾具的兼容性，降低了測試成本。

技術領域

本發明涉及測試夾具技術領域，尤其涉及一種連接器測試夾具。

背景技術

由于科技發展快速，高科技產品推陳出新，眾多科技產品都朝向運算功能強、體積小，擴充性高的方向邁進，因此現今科技產品的電路板大都設置有擴充、連接功能的板對板連接器，作為兩電路板之間的接合以及電性連接，使主要電路板可額外連結一個或多個附加電路板。

由于連接器兩電路板之間的接合以及電性連接的作用，因此，測試連接器傳輸性能就成為一件十分重要而且必要的工作。

現有的連接器測試夾具通常是采用與被測板上的連接器的針腳或插孔相匹配的測試夾具形成一個連接配合進行測試。但是這種方法存在下列缺點：1、測試效率低，尤其是在測試有大量連接器的背板時，要耗費大量時間用于連接相互匹配的連接器配合。2、兼容性差，每當采用不同型號的連接器時，都必須更換成與之相匹配的測試夾具進行測試，這樣使得測試成本提高。

發明內容

本發明實施例提供了一種連接器測試夾具，能夠簡化被測連接器的連接過程，提高測試夾具的兼容性，降低測試成本。

本發明實施例提供了一種連接器測試夾具，包括：載體，所述載體上開設有多個貫穿所述載體的插孔；

載體，所述載體上開設有多個貫穿所述載體的插孔；

探針，所述探針可插設于所述插孔內，所述探針的第一端用于連接被測連接器，所述探針的第二端用于連接電路板。

可選的，所述探針包括接地探針和信號探針，所述接地探針用于與所述被測連接器的接地觸點電連接，所述信號探針用于與所述被測連接器的信號觸點電連接；

所述插孔包括信號探針插孔和接地探針插孔，所述信號探針插孔用于插入信號探針，所述接地探針插孔用于插入所述接地探針。

可選的，所述信號探針插孔設置于多個所述接地探針插孔之間。

可選的，所述信號探針用于傳輸高頻信號，所述載體為導電金屬塊。

可選的，所述信號探針插孔內填充有高頻介質。

可選的，所述夾具還包括固定環，所述固定環分別套設于所述探針的第一端和第二端。

可選的，所述探針包括固定部、第一端和第二端；

所述探針插入所述插孔時，所述固定部固定于所述插孔內，所述第一端和所述第二端至少部分超出所述載體的表面。

可選的，所述固定部的半徑大于所述第一端和第二端的半徑，且所述固定部的半徑小于或等于所述插孔的半徑。

可選的，所述載體上設置有定位結構，所述定位結構用于實現所述載體與所述被測連接器的定位。

可選的，所述定位結構包括定位槽或定位孔。