[發(fā)明專利]一種精確修調(diào)芯片電參數(shù)的方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011153465.2
• 申請(qǐng)日: 2020-10-26
• 公開（公告）號(hào): CN112345923B
• 公開（公告）日: 2022-09-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 黃年亞;高艦艇
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 無錫靖芯科技有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/317
• 分類號(hào): G01R31/317
• 代理公司: 無錫蘇元專利代理事務(wù)所(普通合伙) 32471
• 代理人: 張姝

本發(fā)明公開了一種精確修調(diào)芯片電參數(shù)的方法，該精確修調(diào)芯片電參數(shù)的方法包括以下步驟：可修調(diào)存儲(chǔ)器模塊根據(jù)應(yīng)用需求，最終的N bit修調(diào)數(shù)據(jù)D*需要寫入該存儲(chǔ)器模塊寫為固件；數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及處理模塊先處理主機(jī)發(fā)送的2n個(gè)N bit的D0～Dn?1數(shù)據(jù)，D0～Dn?1的數(shù)據(jù)通過參數(shù)選擇模塊與待修調(diào)的電參數(shù)P*產(chǎn)生2n個(gè)P0～Pn?1的數(shù)值，該數(shù)值以P*為中心數(shù)值分布；本發(fā)明測(cè)試平臺(tái)配合形成自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，對(duì)成品芯片進(jìn)行內(nèi)部電參數(shù)的修調(diào)，這樣可以客服制程，測(cè)試及封裝等生產(chǎn)過程中產(chǎn)生的諸多因素的影響。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及精確修調(diào)芯片技術(shù)領(lǐng)域，具體為一種精確修調(diào)芯片電參數(shù)的方法。

背景技術(shù)

電子設(shè)備與人類的交互信號(hào)均為模擬信號(hào)，為了衡量該模擬信號(hào)的強(qiáng)弱，幅度，頻率等參數(shù)，通常需要電子設(shè)備芯片內(nèi)部產(chǎn)生一個(gè)精確的電參數(shù)參考值，比如基準(zhǔn)電壓，基準(zhǔn)電流，精確的時(shí)鐘頻率等等。由于芯片在整個(gè)生產(chǎn)中受制程，測(cè)試，封裝等諸多因素的影響，即使電路設(shè)計(jì)非常完美，生產(chǎn)完成后，內(nèi)部電參數(shù)大概率會(huì)隨機(jī)漂移。

因此迫切的需要一種精確修調(diào)芯片電參數(shù)的方法來解決上述不足之處。

發(fā)明內(nèi)容

針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明提供如下技術(shù)方案：一種精確修調(diào)芯片電參數(shù)的方法，該精確修調(diào)芯片電參數(shù)的方法包括以下步驟：

步驟一、可修調(diào)存儲(chǔ)器模塊根據(jù)應(yīng)用需求，最終的N bit修調(diào)數(shù)據(jù)D*需要寫入該存儲(chǔ)器模塊寫為固件；

步驟二、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及處理模塊先處理主機(jī)發(fā)送的2n個(gè)N bit的D0～Dn-1數(shù)據(jù)，D0～Dn-1的數(shù)據(jù)通過參數(shù)選擇模塊與待修調(diào)的電參數(shù)P*產(chǎn)生2n個(gè)P0～Pn-1的數(shù)值，該數(shù)值以P*為中心數(shù)值分布；

步驟三、P0～Pn-1通過參數(shù)查表和判決模塊與目標(biāo)參數(shù)表格中設(shè)定的P**數(shù)值進(jìn)行比較，找出當(dāng)中最接近P**的一個(gè)數(shù)值，該數(shù)值對(duì)應(yīng)D0～Dn-1數(shù)據(jù)中唯一的一個(gè)數(shù)據(jù)，記為D*，D*既為P*精確修調(diào)的目標(biāo)數(shù)值對(duì)應(yīng)的唯一一個(gè)數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)D*反饋給主機(jī)后，主機(jī)把D*發(fā)送給芯片，此時(shí)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及處理模塊會(huì)刪除D0～Dn-1，并把D*發(fā)送給可修調(diào)存儲(chǔ)器模塊，進(jìn)行修調(diào)；

步驟四、修調(diào)完成D*被寫入存儲(chǔ)器，并送給參數(shù)選擇模塊，此時(shí)參數(shù)選擇模塊的輸出數(shù)值為一個(gè)固定值記為P***，通過參數(shù)查找和判決模塊比較P***和P**的差值是否符合設(shè)定值，如果符合則精確修調(diào)完成。

優(yōu)選的，所述可修調(diào)存儲(chǔ)器模塊為單次寫入型存儲(chǔ)器，優(yōu)選為ROM，或可擦寫型存儲(chǔ)器優(yōu)選為Flash。

優(yōu)選的，所述P0～Pn-1的數(shù)值以P*為中心數(shù)值分布。

該方法適用于修調(diào)成品芯片電參數(shù)，該方法包括以下步驟：

步驟一、主機(jī)通過通訊接口把2n個(gè)N bit數(shù)據(jù)D0～Dn-1發(fā)送給芯片數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及處理模塊，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及處理模塊把D0～Dn-1送給參數(shù)選擇模塊，參數(shù)選擇模塊根據(jù)P*及D0～Dn-1會(huì)產(chǎn)生2n個(gè)數(shù)據(jù)P0～Pn-1，輸出給參數(shù)查找和判決模塊；

步驟二、參數(shù)查找和判決模塊從P0～Pn-1中找出最接近P**的唯一數(shù)值，并返回該數(shù)值對(duì)應(yīng)的D0～Dn-1中唯一的一個(gè)數(shù)據(jù)，記為D*，把D*回發(fā)主機(jī)，主機(jī)把D*發(fā)送給芯片，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及處理模塊刪除D0～Dn-1，并把D*發(fā)送給可修調(diào)存儲(chǔ)器模塊，進(jìn)行修調(diào)；

步驟三、修調(diào)完成D*被寫入存儲(chǔ)器，并送給參數(shù)選擇模塊，參數(shù)選擇模塊輸出數(shù)值P***，通過參數(shù)查找和判決模塊比較P***和P**的精度差是否符合設(shè)定值，如果符合則精確修調(diào)成功，否則判定修調(diào)失敗。

與現(xiàn)有技術(shù)對(duì)比，本發(fā)明具備以下有益效果：本發(fā)明測(cè)試平臺(tái)配合形成自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，對(duì)成品芯片進(jìn)行內(nèi)部電參數(shù)的修調(diào)，這樣可以客服制程，測(cè)試及封裝等生產(chǎn)過程中產(chǎn)生的諸多因素的影響。

附圖說明

圖1為本發(fā)明的實(shí)現(xiàn)方法示意圖；