[發明專利]基于Van Atta陣的介電常數測量系統和方法

有效

• 申請號: 202011152603.5
• 申請日: 2020-10-26
• 公開（公告）號: CN111983330B
• 公開（公告）日: 2020-12-18
• 發明（設計）人: 丁亮;鄭月軍;陳強;肖科;付云起;柴舜連
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍國防科技大學
• 主分類號: G01R27/26
• 分類號: G01R27/26
• 代理公司: 長沙國科天河知識產權代理有限公司 43225
• 代理人: 邱軼

1.一種基于Van Atta陣的介電常數測量系統，其特征在于，所述系統包括測量天線陣、VanAtta陣和介電常數計算設備，

所述測量天線陣設置在所述VanAtta陣的遠場區，用于使用預設的頻率和極化方式發射測量信號，以及接收所述測量信號經待測物作用和所述VanAtta陣反射后的反射信號，并將所述反射信號發送至介電常數計算設備；

所述VanAtta陣與所述測量天線陣相對設置，所述VanAtta陣的口徑大于所述待測物的直徑，所述VanAtta陣的工作頻率和極化方式根據所述測量信號設置，所述Van Atta陣的回溯方向圖覆蓋所述測量天線陣；

所述介電常數計算設備與所述測量天線陣連接，接收所述測量天線陣發送的所述測量信號的反射信號，根據所述反射信號計算所述待測物的介電常數。

2.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，還包括測量天線陣開關陣列，用于控制所述測量天線陣中天線的發射所述測量信號的時間。

3.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述介電常數計算設備包括矢量網絡分析儀和介電常數計算單元，所述介電常數計算單元預裝有基于逆散射算法的介電常數計算軟件，所述介電常數計算軟件根據所述矢量網絡分析儀的輸出計算所述待測物的介電常數。

4.根據權利要求1至3中任意一項所述的系統，其特征在于，所述Van Atta陣的陣元采用低剖面結構。

5.根據權利要求1至3中任意一項所述的系統，其特征在于，所述測量天線陣包括用于接收所述反射信號的探頭。

6.一種基于Van Atta陣的介電常數測量方法，其特征在于，使用如權利要求1至5中任意一項所述的系統測量放置在所述VanAtta陣的遠場區的待測物的介電常數，所述方法包括：

使用所述測量天線陣以預設的頻率、極化方式和持續時長發射測量信號；

使用所述介電常數計算設備接收所述測量天線陣發送的所述測量信號的反射信號，根據所述反射信號計算所述待測物的介電常數。

7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，所述使用所述測量天線陣以預設的頻率、極化方式和持續時長發射測量信號的步驟之前，還包括：

使用標準定標物對所述系統進行校準，獲得所述測量天線陣的收發天線對的校準系數值。

8.一種基于Van Atta陣的介電常數測量裝置，其特征在于，使用如權利要求1至5中任意一項所述的系統測量放置在所述VanAtta陣的遠場區的待測物的介電常數，所述裝置包括：

測量信號發射模塊，用于使用所述測量天線陣以預設的頻率、極化方式和持續時長發射測量信號；

介電常數計算模塊，用于使用所述介電常數計算設備接收所述測量天線陣發送的所述測量信號的反射信號，根據所述反射信號計算所述待測物的介電常數。

9.一種計算機設備，包括存儲器和處理器，所述存儲器存儲有計算機程序，其特征在于，所述處理器執行所述計算機程序時實現權利要求6或7中所述方法的步驟。

10.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執行時實現權利要求6或7所述方法的步驟。