[發明專利]光電檢測電路

有效

• 申請號: 202011148579.8
• 申請日: 2020-10-23
• 公開（公告）號: CN112304429B
• 公開（公告）日: 2022-09-30
• 發明（設計）人: 張研
• 申請（專利權）人: 蘇州坤元微電子有限公司
• 主分類號: G01J1/44
• 分類號: G01J1/44
• 代理公司: 蘇州威世朋知識產權代理事務所(普通合伙) 32235
• 代理人: 沈曉敏

1.一種光電檢測電路，其特征在于，包括：光電二極管、跨阻放大器、自舉模塊和分流模塊；

所述光電二極管連接所述跨阻放大器、所述自舉模塊和所述分流模塊，所述自舉模塊連接所述分流模塊的兩端；

所述跨阻放大器包括反饋電阻，所述反饋電阻的阻值大于所述分流模塊的總阻值；

其中，所述自舉模塊包括第二運放單元，所述第二運放單元的反相輸入端連接所述第二運放單元的輸出端，所述第二運放單元的輸出端連接所述分流模塊的一端，所述分流模塊的另一端連接所述光電二極管的陰極和所述第二運放單元的同相輸入端，所述自舉模塊用于提高所述分流模塊的交流阻抗，防止所述光電二極管的交流分量流經所述分流模塊。

2.根據權利要求1所述的光電檢測電路，其特征在于，所述跨阻放大器包括第一運放單元和第一隔直單元；

所述第一隔直單元一端連接所述反饋電阻的一端與所述光電二極管的陰極，另一端連接所述第一運放單元的反相輸入端，用于隔離直流分量流入所述第一運放單元；

所述第一運放單元用于將所述光電二極管產生的交流分量轉換為放大的電壓信號。

3.根據權利要求2所述的光電檢測電路，其特征在于，所述跨阻放大器還包括相位補償單元和直流偏置單元，所述相位補償單元和所述直流偏置單元并聯后一端連接所述第一運放單元的反相輸入端，另一端連接所述第一運放單元的輸出端。

4.根據權利要求1所述的光電檢測電路，其特征在于，所述自舉模塊還包括第二隔直單元，所述第二隔直單元的一端連接所述第二運放單元的同相輸入端，另一端連接所述光電二極管的陰極和所述分流模塊的連接點，用于隔離直流分量流入所述第二運放單元。

5.根據權利要求4所述的光電檢測電路，其特征在于，所述分流模塊的總阻值隨所述直流分量的增大而減小。

6.根據權利要求5所述的光電檢測電路，其特征在于，所述分流模塊用于為所述光電二極管的直流分量提供通路；

所述分流模塊包括至少一個開關單元和至少兩個電阻，所述電阻的數量大于所述開關單元的數量，每個所述電阻串聯連接，每個所述開關單元對應并聯一個電阻。

7.根據權利要求6所述的光電檢測電路，其特征在于，所述分流模塊包括第一開關單元、第二開關單元、電阻R1、電阻R2和電阻R3；

所述第一開關單元的控制端連接所述第二運放單元的輸出端和所述電阻R1的一端，所述第一開關單元的第一端接入高電平，所述第一開關單元的第二端連接所述電阻R1的另一端、所述第二開關單元的控制端和所述電阻R2的一端，所述第二開關單元的第一端接入所述高電平，所述第二開關單元的第二端連接所述電阻R2的另一端和所述電阻R3的一端，所述電阻R3的另一端連接所述光電二極管的陰極和所述第二隔直單元的連接點。

8.根據權利要求1所述的光電檢測電路，其特征在于，還包括電阻R4，所述電阻R4連接所述自舉模塊的輸入端和所述光電二極管的陰極；

所述電阻R4的阻值大于所述反饋電阻的阻值。

9.根據權利要求1所述的光電檢測電路，其特征在于，還包括三極管Q1，所述三極管Q1的基極接入第一參考電壓，所述三極管Q1的集電極接入高電平，所述三極管Q1的發射級連接所述自舉模塊的輸出端和所述分流模塊的連接點。