[發(fā)明專利]基于共路差分和自校零的二維小角度激光測量方法與裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011147408.3 | 申請日: | 2020-10-23 |
| 公開(公告)號: | CN112325802B | 公開(公告)日: | 2022-06-21 |
| 發(fā)明(設計)人: | 馮其波;鄭發(fā)家;于春宇;張斌;劉志全;李家琨;楊婧;袁丁 | 申請(專利權)人: | 北京交通大學;北京空間飛行器總體設計部;航天東方紅衛(wèi)星有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/26 | 分類號: | G01B11/26 |
| 代理公司: | 北京市商泰律師事務所 11255 | 代理人: | 黃曉軍 |
| 地址: | 100044 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 共路差分 二維 角度 激光 測量方法 裝置 | ||
1.一種基于共路差分和自校零的二維小角度激光測量方法,其特征在于,包括:
步驟1、激光器出射的一束激光,經過準直鏡擴束準直成平行光束,平行光束經過起偏器后,得到兩正交偏振光S光與P光,S光與P光經分光鏡透射后,沿相同軌跡出射;
步驟2、所述相同軌跡出射的S光與P光入射至第一偏振分光鏡后,S光被第一偏振分光鏡反射、P光被第一偏振分光鏡透射;
步驟3、所述第一偏振分光鏡的反射光經參考反射鏡反射后,變?yōu)镾′光,S′光經第一偏振分光鏡反射后、沿原光路返回,S′經分光鏡反射、聚焦透鏡聚焦和第二偏振分光鏡反射后,成像在第一探測器敏感面上,根據成像坐標計算出光線的角度漂移量;
步驟4、所述第一偏振分光鏡的透射光經測量反射鏡反射后、攜帶測量反射鏡的二維角度信息,變?yōu)镻′光,P′光經第一偏振分光鏡透射后、沿原光路返回,P′經分光鏡反射、聚焦透鏡聚焦和第二偏振分光鏡透射后,成像在第二探測器敏感面上,根據成像坐標計算出包含光線角度漂移量誤差的測量反射鏡的二維角度信息;
步驟5、根據所述光線的角度漂移量和所述包含光線角度漂移量誤差的測量反射鏡二維角度信息,計算得到測量反射鏡的不含光線角度漂移量誤差的二維角度信息;
步驟6、將由第三偏振分光鏡、第三反射鏡和第四反射鏡組成的校零光學單元移至分光鏡與第一偏振分光鏡中間,使得沿相同軌跡出射的S光與P光入射至第三偏振分光鏡,S光被第三偏振分光鏡反射、第三反射鏡表面反射和第三偏振分光鏡反射后,變?yōu)镾0光,P光被第三偏振分光鏡透射、第四反射鏡表面反射和第三偏振分光鏡透射后,變?yōu)镻0光,S0光與P0光沿相同軌跡返回分光鏡;
步驟7、所述S0光經分光鏡反射、聚焦透鏡聚焦和第二偏振分光鏡反射后,由第一探測器采集成像,根據成像坐標(xs,ys)與聚焦透鏡焦距f計算出第一探測器信號的漂移量,所述第一探測器信號的漂移量包含第一探測器電路漂移量與S0光經過的光學器件的機械結構穩(wěn)定性引入的誤差;
第一探測器信號的漂移量由如下公式計算得出:
αs=arctan(xs/2f)、βs=arctan(ys/2f)
步驟8、所述P0光經分光鏡反射、聚焦透鏡聚焦和第二偏振分光鏡透射后,由第二探測器采集成像,根據成像坐標(xp,yp)與聚焦透鏡焦距f計算出第二探測器信號的漂移量,所述第二探測器信號的漂移量包含第二探測器電路漂移量與P0光經過的光學器件的機械結構穩(wěn)定性引入的誤差;
第二探測器信號的漂移量由如下公式計算得出:
αp=arctan(xp/2f)、βp=arctan(yp/2f)
步驟9、根據所述光線角度漂移量、所述包含光線角度漂移量誤差的測量反射鏡的二維角度信息、所述第一探測器信號的漂移量和所述第二探測器信號的漂移量,計算得到測量反射鏡的不含光線角度漂移量誤差的二維角度信息;
測量反射鏡的不含光線角度漂移量誤差的二維角度信息分別由如下兩個公式計算得出:
α=(α2-αp)-(α1-αs)
=arctan(x2/2f)-arctan(xp/2f)-arctan(x1/2f)+arctan(xs/2f)
β=(β2-βp)-(β1-βs)
=arctan(y2/2f)-arctan(yp/2f)-arctan(y1/2f)+arctan(ys/2f)。
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