[發明專利]一種測試光源的復用裝置及方法有效
| 申請號: | 202011145334.X | 申請日: | 2020-10-23 |
| 公開(公告)號: | CN112304571B | 公開(公告)日: | 2021-12-31 |
| 發明(設計)人: | 茅昕;于競雄;梅科學;胡遠朋;張智恒;劉懋恂;曹蓓蓓 | 申請(專利權)人: | 長飛光纖光纜股份有限公司 |
| 主分類號: | G01M11/00 | 分類號: | G01M11/00 |
| 代理公司: | 武漢臻誠專利代理事務所(普通合伙) 42233 | 代理人: | 胡星馳 |
| 地址: | 430074 湖北省*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 測試 光源 裝置 方法 | ||
1.一種測試光源復用方法,其特征在于,應用測試光源復用裝置;
所述測試光源復用裝置,包括:寬譜光源、衍射光柵和光源復用器;
所述寬譜光源發出寬譜照明光,經過衍射光柵形成單色照明光;
所述光源復用器,具有多個光輸出端口,每個光輸出端口對應一個信號接收器,多個所述信號接收器與邏輯電路的輸入端連接,所述邏輯電路的輸出端與光路控制器和衍射光柵的旋轉電機驅動電路連接;
所述光輸出端口用于與測試設備連接;所述信號接收器用于檢測測試設備就緒信號;所述邏輯電路用于根據所述信號接收器的狀態按照預設的條件發生光路控制信號給光路控制器并發生驅動信號給衍射光柵的旋轉電機驅動電路;所述光路控制器,用于根據所述光路控制信號,將單色光接入特定光輸出端口;所述衍射光柵的旋轉電機驅動電路用于控制所述衍射光柵轉動,使單色光通過由短波長到長波長依次出現;
包括以下步驟:
(1)將多個測試設備組織為測試設備隊列或測試設備組隊列;
(2)按照步驟(1)獲得的測試設備隊列或測試設備組隊列的順序,依次將所述測試光源復用裝置的光源復用器的光輸出端口與測試設備或測試設備組連接;
(3)等待步驟(2)中與光源復用器的光輸出端口接收到測試設備就緒信號,所述光源復用器的邏輯電路按照預設的條件發生光路控制信號給光路控制器并發生驅動信號給衍射光柵的旋轉電機驅動電路,使得單色光接入特定光輸出端口由短波長到長波長依次出現,測試設備完成相應的信號采集和分析后將所述光輸出端口的狀態復位;
(4)重復步驟(2)、(3)直至測試設備隊列或測試設備組隊列中所有的測試設備或測試設備組測試完畢。
2.如權利要求1所述的測試光源復用方法,其特征在于,所述光路控制器,包括光路分路器和/或反射鏡;所述光路分路器將輸入的單色光的光能量均勻的分為多個光輸出端口輸出;所述反射鏡通改變反射角度將輸入的光能量從不同的光輸出端口輸出。
3.如權利要求1所述的測試光源復用方法,其特征在于,步驟(1)按照估計的測試時間由長到短的順序組織測試設備隊列或測試設備組隊列。
4.如權利要求1所述的測試光源復用方法,其特征在于,步驟(1)按照測試設備的待測光纖所需的單色光范圍組織測試設備組。
5.如權利要求4所述的測試光源復用方法,其特征在于,步驟(1)當將多個測試設備組組織為測試設備組隊列時,按照測試設備組中測試設備的數量由多到少組織測試設備組隊列。
6.如權利要求1所述的測試光源復用方法,其特征在于,所述測試光源復用裝置的光路控制器包括光分路器,將輸入的光能量均勻的分給所有光輸出端口輸出,所述光源復用器的所有光輸出端口與測試設備連接;
步驟(3)所述光源復用器當所有光輸出端口的信號接收器狀態為收到就緒信號時,發生驅動信號給衍射光柵的旋轉電機驅動電路,使得單色光接入所有光輸出端口由短波長到長波長依次出現,多臺測試設備進行同步波長掃描測試。
7.如權利要求1所述的測試光源復用方法,其特征在于,所述測試光源復用裝置的光路控制器包括反射鏡,將輸入的光能量從不同的光輸出端口輸出,所述光源復用器的部分或所有光輸出端口與測試設備連接;
步驟(3)所述光源復用器當有至少一個光輸出端口的信號接收器狀態為收到就緒信號時,發生光路控制信號給光路控制器,使得單色光依次接入到信號接收器狀態為收到就緒信號的光輸出端口,所述光源復用器發生驅動信號給衍射光柵的旋轉電機驅動電路,使得單色光接入該光輸出端口由短波長到長波長依次出現,多臺測試設備依次進行波長掃描測試。
8.如權利要求1所述的測試光源復用方法,其特征在于,所述測試光源復用裝置的光路控制器包括光分路器和反射鏡,將輸入的光能量均勻的分給預設個數的光輸出端口輸出,所述光源復用器的所有光輸出端口分組,每組光輸出端口分別與測試設備組連接;
步驟(3)所述光源復用器當至少一組的所有光輸出端口的信號接收器狀態為收到就緒信號時,發生驅動信號給衍射光柵的旋轉電機驅動電路,使得單色光接入該組所有光輸出端口由短波長到長波長依次出現,該測試設備組的多臺測試設備進行同步波長掃描測試,多組測試設備組依次進行波長掃描測試。
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