[發明專利]一種納米氣泡粒徑分布計算方法

在審

• 申請號: 202011144121.5
• 申請日: 2020-10-23
• 公開（公告）號: CN112345417A
• 公開（公告）日: 2021-02-09
• 發明（設計）人: 宋永臣;匡洋民;馮宇;楊磊;趙佳飛;劉延振;孫明瑞;國憲偉;張倫祥;劉衛國;楊明軍;王大勇;劉瑜;張毅;凌錚;蔣蘭蘭;李洋輝
• 申請（專利權）人: 大連理工大學
• 主分類號: G01N15/02
• 分類號: G01N15/02;G06F30/28;G06F17/18
• 代理公司: 大連理工大學專利中心 21200
• 代理人: 陳玲玉

1.一種納米氣泡粒徑分布計算方法，其特征在于，包括如下步驟：

第一步：用NTA初步獲得納米氣泡全部粒徑數據；

利用納米氣泡發生裝置產生含有納米氣泡的水溶液，用玻璃注射器承裝溶液，每組溶液測量兩次以上；利用NTA捕捉納米氣泡布朗運動特性；再利用愛因斯坦方程式計算氣泡的流體力學直徑，獲得全部粒徑數據；

第二步：數據的篩選和分類；

將第一步NTA獲得的數據進行篩選，保留所有True數據，刪去所有False數據；然后對保留的數據進行區間分類計數，設定指定步長，對應區間的氣泡數目進行累加，累加次數與測量次數相同；

第三步：對數正態分布擬合粒徑分布規律；

將第二步得到的不同區間的氣泡數目數據，以粒徑為橫軸、對應區間氣泡數目為縱軸，繪制直方圖，對繪制的直方圖進行對數正態分布擬合，擬合得到的本次測量的氣泡分布規律及平均粒徑；

同時，對于多組數據計算，通過繪制堆疊柱狀圖，再進行對數正態分布擬合得到多組數據的氣泡分布規律和平均粒徑。

2.根據權利要求1所述的一種納米氣泡粒徑分布計算方法，其特征在于，第二步中數據的篩選和分類的具體步驟為：對每一組測量得到的數據篩選，選擇所有True數據，每一組數據放在新的一列，對每一列數據進行篩選計數，再通過求和函數，對處于同一大小范圍、不同列的數據個數進行疊加，得到該樣品溶液的粒徑粗略分布。