[發(fā)明專利]一種磁通率檢測設(shè)備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011143536.0
• 申請日: 2020-10-23
• 公開（公告）號: CN112394305B
• 公開（公告）日: 2022-12-20
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 付翠菊
• 申請（專利權(quán)）人: 聯(lián)鋼精密科技（中國）有限公司
• 主分類號: G01R33/12
• 分類號: G01R33/12;G01R33/06;G01R33/00
• 代理公司: 上海微策知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31333
• 代理人: 張靜

1.一種磁通率檢測設(shè)備，包括外殼(1)，其特征在于：所述外殼(1)呈“凹”字狀結(jié)構(gòu)，所述外殼(1)的右側(cè)開設(shè)與凹槽(2)，所述外殼(1)的內(nèi)壁上開設(shè)有滑槽一(3)和滑槽二(7)，所述滑槽一(3)的內(nèi)部活動安裝有鋼化玻璃(4)，所述外殼(1)的頂部通過螺栓固定安裝有上密封蓋(5)，所述上密封蓋(5)的上端面固定安裝有檢測元件(6)，所述外殼(1)的內(nèi)部固定安裝有控制元件(10)，所述滑槽二(7)的內(nèi)部活動安裝有限位條(8)，所述限位條(8)的上端面開設(shè)有導(dǎo)向孔(9)，所述限位條(8)位于滑槽二(7)的內(nèi)部，所述限位條(8)與滑槽二(7)為滑動連接，所述外殼(1)內(nèi)部的底部固定安裝有控制元件(10)，所述外殼(1)的外側(cè)固定安裝有供電頭(15)，所述外殼(1)內(nèi)部的底部開設(shè)有限位槽(16)，所述限位槽(16)的下端貫穿于外殼(1)的底部，所述限位槽(16)的內(nèi)部設(shè)置有移動頭(11)，所述移動頭(11)呈“圓柱”狀結(jié)構(gòu)，所述導(dǎo)向孔(9)的內(nèi)徑大于移動頭(11)的外徑，所述移動頭(11)的外徑延伸至外殼(1)的外側(cè)，所述移動頭(11)的外側(cè)固定安裝有固定塊(12)，所述固定塊(12)的外側(cè)固定安裝有進(jìn)線塊(13)，所述固定塊(12)的內(nèi)部固定安裝有線圈(14)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種磁通率檢測設(shè)備，其特征在于：所述上密封蓋(5)位于外殼(1)的內(nèi)壁之間，所述上密封蓋(5)的長寬均等于外殼(1)內(nèi)壁的長寬。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種磁通率檢測設(shè)備，其特征在于：所述滑槽一(3)和滑槽二(7)均設(shè)置有兩個，所述滑槽一(3)和滑槽二(7)對稱分布在上密封蓋(5)的左右兩側(cè)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種磁通率檢測設(shè)備，其特征在于：所述鋼化玻璃(4)位于滑槽一(3)的內(nèi)部，所述鋼化玻璃(4)與滑槽一(3)為滑動連接。