[發明專利]一種靜音開關的導通測試方法

有效

• 申請號: 202011143113.9
• 申請日: 2020-10-23
• 公開（公告）號: CN112285548B
• 公開（公告）日: 2023-04-07
• 發明（設計）人: 郝瑤;梁健明;焦文濤;朱啟昌
• 申請（專利權）人: 蘇州匯億達光學科技有限公司
• 主分類號: G01R31/327
• 分類號: G01R31/327;G01R1/073;G01R1/04
• 代理公司: 北京國昊天誠知識產權代理有限公司 11315
• 代理人: 劉昕

1.一種靜音開關的導通測試方法，其特征在于，包括：

設置靜音開關的導通測試裝置為一臺式結構，在臺式結構上設置一測試裝備底座，并在測試裝備底座上設置一個下壓探針固定板伺服推桿電機，在測試裝備底座上還設置測試探針連接電路板、測試探針固定板、下壓探針固定板、彈簧和靜音開關放置板，其中，下壓探針固定板上設置穿過下壓探針固定板的下壓探針，測試探針固定板上設置穿過測試探針固定板的測試探針，測試探針的一端與測試探針連接電路板進行固定連接，靜音開關放置板上放置多個待測的靜音開關，靜音開關包括：銅箔和彈片，彈片設置在銅箔的上方；下壓探針固定板設置于測試探針固定板上方，測試探針連接電路板固定安裝在測試探針固定板的上方，即從上到下設置為：下壓探針固定板、測試探針連接電路板和測試探針固定板；設置彈簧的一端與下壓探針固定板連接，彈簧的另一端與測試探針固定板連接，下壓探針固定板伺服推桿電機的一端與下壓探針固定板接觸；

測試開始，驅動下壓探針固定板伺服推桿電機下降，推動下壓探針固定板和測試探針固定板同時進行下降運動，下降到第一預設位置并停止驅動下壓探針固定板伺服推桿電機后，測試探針與靜音開關放置板上待測的靜音開關進行接觸，即測試探針壓在待測的靜音開關的銅箔上，對待測的靜音開關進行一開路測試；

驅動下壓探針固定板伺服推桿電機下降，推動下壓探針固定板繼續進行下降運動，下降到第二預設位置并停止驅動下壓探針固定板伺服推桿電機后，使下壓探針固定板和測試探針固定板之間彈簧受壓變形后，下壓探針穿過測試探針連接電路板和測試探針固定板，下壓探針與靜音開關放置板上待測的靜音開關進行接觸，即下壓探針壓在待測的靜音開關的彈片上并使彈片變形，將彈片下方的銅箔導通，完成對待測的靜音開關的閉路測試。

2.根據權利要求1所述的導通測試方法，其特征在于，

所述測試裝備底座還包括：固定板導桿、靜音開關待測樣品導輪、測試觸發按鈕和測試結果顯示器；

還包括：設置固定板導桿和靜音開關待測樣品導輪在測試裝備底座的頂面上，設置下壓探針固定板和測試探針固定板通過固定板導桿安裝在測試裝備底座上，設置測試結果顯示器通過一支架固定安裝在測試裝備底座上，測試結果顯示器的顯示屏整個位于測試裝備底座上方的外面。

3.根據權利要求2所述的導通測試方法，其特征在于，

所述待測的靜音開關還包括：承載膜和覆蓋膜，

還包括：設置銅箔放置在承載膜上，彈片放置在銅箔上，覆蓋膜覆蓋在彈片和銅箔上，覆蓋膜和承載膜粘貼在一起，將彈片和銅箔包裹在中間，即待測的靜音開關的由上至下設置為：覆蓋膜、彈片、銅箔和承載膜；覆蓋膜設置為部分開窗，通過開窗露出部分銅箔。

4.根據權利要求3所述的導通測試方法，其特征在于，

所述測試探針包括：測試探針頭部、測試探針針套和測試探針卡環；所述測試探針固定板包括：下壓探針過穿孔、測試探針固定孔、測試探針連接電路板固定孔和測試探針固定板導孔；所述測試探針連接電路板包括：固定孔、下壓探針電路板過穿孔、測試探針焊接孔和排線連接器；所述下壓探針包括：下壓探針頭部、下壓探針針套和下壓探針卡環；所述下壓探針固定板包括：下壓探針固定板導孔、下壓探針固定孔和下壓探針固定板推桿固定孔；

還包括：設置下壓探針通過下壓探針過穿孔穿過測試探針固定板；設置測試探針通過測試探針固定孔固定安裝在測試探針固定板上；設置測試探針固定板通過測試探針固定板導孔放置在測試裝備底座的固定板導桿上，測試探針固定板可沿固定板導桿上下運動；設置測試探針穿進測試探針固定板的測試探針固定孔，測試探針針套和測試探針固定孔為過盈配合連接；設置測試探針卡環卡在測試探針固定板的底部；設置測試探針連接電路板通過固定孔使用銅柱固定在測試探針固定板的測試探針連接電路板固定孔上；設置測試探針的測試探針針套的末端焊接在測試探針連接電路板的測試探針焊接孔上；設置測試探針連接電路板通過排線連接器電連接在測試裝備底座上；設置下壓探針固定板通過下壓探針固定板導孔放置在測試裝備底座的固定板導桿上，下壓探針固定板可沿固定板導桿上下運動；設置下壓探針的下壓探針針套穿進下壓探針固定板的下壓探針固定孔中，下壓探針針套和下壓探針固定孔為過盈配合連接，設置下壓探針卡環卡在下壓探針固定板的底部。