[發明專利]圖像傳感器的太陽黑子消除方法和電路、圖像傳感器

有效

• 申請號: 202011140801.X
• 申請日: 2020-10-22
• 公開（公告）號: CN112261325B
• 公開（公告）日: 2023-03-24
• 發明（設計）人: 蔡化;陳飛;高菊;王勇;陳正;夏天
• 申請（專利權）人: 成都微光集電科技有限公司
• 主分類號: H04N25/68
• 分類號: H04N25/68
• 代理公司: 上海思微知識產權代理事務所(普通合伙) 31237
• 代理人: 曹廷廷

本發明公開了一種圖像傳感器的太陽黑子消除方法和電路、圖像傳感器，首先判斷對應的像素上是否發生太陽黑子現象，若發生了太陽黑子現象，則利用鎖存電路將計數器的所有所述鎖定為高電平以使對應的像素顯示為亮點?；诖?，可以在出現太陽黑子現象時將計數器額定計數值鎖定為滿幅值，保證了在太陽黑子現象發生時能將出現的黑點完全消除。并且可以保證在不同照度的光強照射下出現的太陽黑子均能完全消除，使圖像質量得到了保證，不會出現灰點。

技術領域

本發明涉及集成電路技術應用領域，尤其是涉及一種圖像傳感器的太陽黑子消除方法和電路、圖像傳感器。

背景技術

太陽黑子現象是指在強光照下，CIS(CMOS圖像傳感器)中像素單元的光電二極管會產生多余的光電子，這些光電子會使像素單元的復位電位急劇降低，導致后續模數轉換電路(ADC，Analog to Digital Converter)轉換得到的像素點輸出值實際值偏小，CIS圖像上將出現異常黑點的現象。為了避免出現太陽黑子現象，現有技術會在CIS設計中加入像素輸出鉗位電路，在復位電位讀出階段，該鉗位電路能將像素輸出保持在一個不太低的電位，以保證模數轉換電路CDS(Correlated Double Sampling，相關雙取樣)功能的正常。但鉗位電路輸出的鉗位電壓會受溫度、工藝等因素的影響發生波動。鉗位電壓過低達不到完全抑制太陽黑子的效果，過高會導致CDS出現誤差而使圖像質量變差。另外，鉗位電路并不能保證完全消除圖像上出現的黑子現象，因為像素單元對不同光強照射時響應并不一樣，在照度較大的光照射時鉗位電路起效明顯，而中等照度的光照射時出現的黑點的值在鉗位作用下有所變化，比如由黑點變為灰點，并不能消除。

因此，需要提出一種能在不同照度光的環境下均能消除黑點，同時不能影響其它CIS性能的方案。

發明內容

本發明的目的在于提供一種圖像傳感器的太陽黑子消除方法和電路、圖像傳感器，用于解決現有技術中無法滿足不同照度光下消除黑點的問題。

為了解決上述技術問題，本發明提出一種圖像傳感器的太陽黑子消除方法，包括以下步驟：

判斷對應的像素是否發生太陽黑子現象；

若是，則鎖存電路將計數器的所有輸出鎖定為高電平以使所述對應的像素顯示為亮點；

若否，則正常輸出。

可選地，所述判斷對應的像素是否發生太陽黑子現象包括：

所述鎖存電路判斷比較器在復位階段時，所述計數器的計數值是否計滿；

若是，則對應的像素發生太陽黑子現象；

若否，則未發生太陽黑子現象。

可選地，所述鎖存電路通過以下步驟判斷比較器在復位階段時，所述計數器的計數值是否計滿：

在所述比較器在復位階段時，通過一檢測脈沖檢測所述計數器的計數值是否計滿；

其中，所述檢測脈沖在比較器的輸出結果沒有翻轉時保持第一電平，所述檢測脈沖在所述比較器的輸出結果有翻轉時變為第二電平；當所述檢測脈沖變為所述第二電平時，所述計數器的計數值已計滿；當所述檢測脈沖一直保持所述第一電平時，所述計數器的計數值未計滿。

可選地，還包括以下步驟：

基于當前光照強度設置鉗位電路的使能脈沖的脈寬。

可選地，還包括以下步驟：

基于當前光照強度設置所述鉗位電路的鉗位電壓大小。

基于同一發明構思，本發明還提出一種圖像傳感器的太陽黑子消除電路，包括比較器、計數器以及鎖存電路；