[發(fā)明專(zhuān)利]一種下料電機(jī)異常處理方法、下料系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011139923.7 | 申請(qǐng)日: | 2020-10-22 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN112240978A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-01-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳九零;吳江勇;詹佳欣;江卓鑫 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 珠海優(yōu)特智廚科技有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R31/34 | 分類(lèi)號(hào): | G01R31/34 |
| 代理公司: | 北京中強(qiáng)智尚知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11448 | 代理人: | 黃耀威 |
| 地址: | 519000 廣東省珠海市橫琴新*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 電機(jī) 異常 處理 方法 系統(tǒng) 存儲(chǔ) 介質(zhì) | ||
1.一種下料電機(jī)異常處理方法,包括:
微控制單元讀取由編碼器檢測(cè)到的下料電機(jī)的輸出脈沖;
響應(yīng)于在預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)對(duì)所述輸出脈沖的讀取狀態(tài),獲取各電子模塊的工作狀態(tài);
根據(jù)所述工作狀態(tài)判斷異常所屬的所述電子模塊;
輸出所述異常。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,所述響應(yīng)于在預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)對(duì)所述輸出脈沖的讀取狀態(tài),獲取各電子模塊的工作狀態(tài)包括:
響應(yīng)于在預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)未讀取到所述輸出脈沖,獲取驅(qū)動(dòng)下料電機(jī)工作的電機(jī)驅(qū)動(dòng)模塊的狀態(tài);
若獲取的所述電機(jī)驅(qū)動(dòng)模塊的狀態(tài)異常,分析得到未讀取到所述下料電機(jī)輸出脈沖的原因?yàn)樗鲭姍C(jī)驅(qū)動(dòng)模塊異常。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其中,還包括:
若獲取的電機(jī)驅(qū)動(dòng)模塊的狀態(tài)顯示正常,分析得到未讀取到所述下料電機(jī)輸出脈沖的原因?yàn)樗鼍幋a器異常。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其中,電機(jī)驅(qū)動(dòng)模塊包括電機(jī)驅(qū)動(dòng)傳感器和用于驅(qū)動(dòng)下料電機(jī)工作的電機(jī)驅(qū)動(dòng)芯片,獲取驅(qū)動(dòng)下料電機(jī)工作的電機(jī)驅(qū)動(dòng)模塊的狀態(tài)之前,還包括:
采用所述電機(jī)驅(qū)動(dòng)傳感器實(shí)時(shí)檢測(cè)所述電機(jī)驅(qū)動(dòng)芯片的狀態(tài),將所述電機(jī)驅(qū)動(dòng)芯片的狀態(tài)作為所述電機(jī)驅(qū)動(dòng)模塊的狀態(tài);
將所述電機(jī)驅(qū)動(dòng)模塊狀態(tài)對(duì)應(yīng)的狀態(tài)標(biāo)識(shí)實(shí)時(shí)更新至寄存器中。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法,其中,
獲取驅(qū)動(dòng)下料電機(jī)工作的電機(jī)驅(qū)動(dòng)模塊的狀態(tài),包括:從所述寄存器中獲取所述電機(jī)驅(qū)動(dòng)模塊的當(dāng)前狀態(tài)標(biāo)識(shí);
分析得到未讀取到所述下料電機(jī)輸出脈沖的原因?yàn)樗鲭姍C(jī)驅(qū)動(dòng)模塊異常之后,還包括:依據(jù)所述電機(jī)驅(qū)動(dòng)模塊的當(dāng)前狀態(tài)標(biāo)識(shí)分析所述電機(jī)驅(qū)動(dòng)模塊異常的原因。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法,其中,所述狀態(tài)標(biāo)識(shí)包括以下至少一項(xiàng):
溫度過(guò)高狀態(tài)標(biāo)識(shí)、溫度正常狀態(tài)標(biāo)識(shí)、電壓過(guò)低狀態(tài)標(biāo)識(shí)、電壓正常狀態(tài)標(biāo)識(shí)、電流過(guò)高狀態(tài)標(biāo)識(shí)、電流正常狀態(tài)標(biāo)識(shí)、電機(jī)驅(qū)動(dòng)模塊開(kāi)路狀態(tài)標(biāo)識(shí)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1-6中任一項(xiàng)所述的方法,其中,微控制單元讀取由編碼器檢測(cè)到的下料電機(jī)的輸出脈沖之前,還包括:
所述微控制單元控制所述電機(jī)驅(qū)動(dòng)模塊驅(qū)動(dòng)所述下料電機(jī)工作,并由所述編碼器檢測(cè)所述下料電機(jī)工作時(shí)輸出的脈沖并反饋至所述微控制單元。
8.根據(jù)權(quán)利要求1-6中任一項(xiàng)所述的方法,其中,微控制單元讀取由編碼器檢測(cè)到的下料電機(jī)的輸出脈沖之前,還包括:
對(duì)所述編碼器檢測(cè)到的下料電機(jī)輸出的脈沖波進(jìn)行濾波處理。
9.一種下料系統(tǒng),包括:
下料電機(jī)和電機(jī)驅(qū)動(dòng)模塊,所述電機(jī)驅(qū)動(dòng)模塊驅(qū)動(dòng)所述下料電機(jī)工作;
編碼器,檢測(cè)所述下料電機(jī)工作時(shí)輸出的脈沖;
微控制單元,用于讀取所述編碼器檢測(cè)到的下料電機(jī)的輸出脈沖,響應(yīng)于預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)未讀取到所述輸出脈沖,獲取所述電機(jī)驅(qū)動(dòng)模塊的狀態(tài);若獲取的電機(jī)驅(qū)動(dòng)模塊的狀態(tài)顯示異常,分析得到未讀取到所述下料電機(jī)輸出脈沖的原因?yàn)殡姍C(jī)驅(qū)動(dòng)模塊異常;輸出所述異常。
10.一種計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì),所述計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序代碼,當(dāng)所述計(jì)算機(jī)程序代碼在計(jì)算設(shè)備上運(yùn)行時(shí),導(dǎo)致所述計(jì)算設(shè)備執(zhí)行權(quán)利要求1-8中任一項(xiàng)所述的下料電機(jī)異常處理方法。
11.一種計(jì)算設(shè)備,包括:處理器;存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序代碼的存儲(chǔ)器;當(dāng)所述計(jì)算機(jī)程序代碼被所述處理器運(yùn)行時(shí),導(dǎo)致所述計(jì)算設(shè)備執(zhí)行權(quán)利要求1-8中任一項(xiàng)所述的下料電機(jī)異常處理方法。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 異常檢測(cè)裝置、異常檢測(cè)方法
- 異常檢測(cè)方法、異常檢測(cè)裝置及異常檢測(cè)系統(tǒng)
- 異常檢測(cè)裝置、異常檢測(cè)方法以及異常檢測(cè)系統(tǒng)
- 異常檢測(cè)裝置、異常檢測(cè)方法以及異常檢測(cè)系統(tǒng)
- 異常檢測(cè)裝置、異常檢測(cè)方法及異常檢測(cè)系統(tǒng)
- 異常探測(cè)裝置、異常探測(cè)方法以及計(jì)算機(jī)可讀取的存儲(chǔ)介質(zhì)
- 異常檢測(cè)裝置、異常檢測(cè)方法及記錄介質(zhì)
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