[發明專利]正極活性物質粒子在審
| 申請號： | 202011139850.1 | 申請日： | 2018-05-01 |
| 公開（公告）號： | CN112259720A | 公開（公告）日： | 2021-01-22 |
| 發明（設計）人： | 高橋正弘;落合輝明;門馬洋平;鶴田彩惠 | 申請（專利權）人： | 株式會社半導體能源研究所 |
| 主分類號： | H01M4/36 | 分類號： | H01M4/36;H01M4/525;H01M4/505;H01M10/0525 |
| 代理公司： | 中國貿促會專利商標事務所有限公司 11038 | 代理人： | 賈成功 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 正極 活性 物質 粒子 | ||
1.一種鋰離子二次電池，其為包含正極活性物質粒子的鋰離子二次電池，
其中，所述正極活性物質粒子包含晶界及多個晶粒，
所述晶粒包括包含鈷的復合氧化物，
在對于所述晶粒的EDX的線分析中，鈣在檢測下限程度被檢測出，
并且，在對于所述晶界或所述晶界的附近的EDX的線分析中，鈣超過檢測下限程度而被檢測出。
2.一種鋰離子二次電池，其為包含正極活性物質粒子的鋰離子二次電池，
其中，所述正極活性物質粒子包含晶界及多個晶粒，
所述晶粒包括包含鈷的復合氧化物，
在對于所述晶粒的EDX的線分析中，檢測不出鈣，
并且，在對于所述晶界或所述晶界的附近的EDX的線分析中，鈣超過檢測下限程度而被檢測出。
3.一種鋰離子二次電池，其為包含正極活性物質粒子的鋰離子二次電池，
其中，所述正極活性物質粒子包括第一晶粒、第二晶粒及位于所述第一晶粒與所述第二晶粒間的晶界，
所述第一晶粒及所述第二晶粒分別包括包含鈷的復合氧化物，
并且，在所述第一晶粒、所述第二晶粒、所述晶界及所述晶界的附近的EDX的線分析中，在所述晶界或所述晶界的附近具有鈣的峰。
4.一種鋰離子二次電池，其為包含正極活性物質粒子的鋰離子二次電池，
其中，所述正極活性物質粒子包含晶界及多個晶粒，
所述晶粒包括包含鈷的復合氧化物，
并且，在所述晶粒中，所述晶粒與所述晶界相比、或者所述晶粒與所述晶界的附近相比，實質上不存在鈣。
5.一種鋰離子二次電池，其為包含正極活性物質粒子的鋰離子二次電池，
其中，所述正極活性物質粒子包含晶界及多個晶粒，
所述晶粒包括包含鈷的復合氧化物，
并且，在所述晶界或所述晶界的附近，與所述晶粒相比，存在多的鈣。
6.一種鋰離子二次電池，其為包含正極活性物質粒子的鋰離子二次電池，
其中，所述正極活性物質粒子包含晶界及多個晶粒，
所述晶粒包括包含鈷的復合氧化物，
在對于所述晶粒的EDX的線分析中，鈣在檢測下限程度被檢測出，
在對于所述晶界或所述晶界的附近的EDX的線分析中，鈣超過檢測下限程度而被檢測出，
并且，在所述晶界或所述晶界的附近中的鈷比所述晶粒中的鈷少地存在。
7.一種鋰離子二次電池，其為包含正極活性物質粒子的鋰離子二次電池，
其中，所述正極活性物質粒子包含晶界及多個晶粒，
所述晶粒包括包含鈷的復合氧化物，
在對于所述晶粒的EDX的線分析中，檢測不出鈣，
在對于所述晶界或所述晶界的附近的EDX的線分析中，鈣超過檢測下限程度而被檢測出，
并且，在所述晶界或所述晶界的附近中的鈷比所述晶粒中的鈷少地存在。
8.一種鋰離子二次電池，其為包含正極活性物質粒子的鋰離子二次電池，
其中，所述正極活性物質粒子包括第一晶粒、第二晶粒及位于所述第一晶粒與所述第二晶粒間的晶界，
所述第一晶粒及所述第二晶粒分別包括包含鈷的復合氧化物，
在所述第一晶粒、所述第二晶粒、所述晶界及所述晶界的附近的EDX的線分析中，在所述晶界或所述晶界的附近具有鈣的峰，
并且，在所述晶界或所述晶界的附近中的鈷比所述第一晶粒中的鈷或所述第二晶粒中的鈷少地存在。
9.一種鋰離子二次電池，其為包含正極活性物質粒子的鋰離子二次電池，
其中，所述正極活性物質粒子包含晶界及多個晶粒，
所述晶粒包括包含鈷的復合氧化物，
在所述晶粒中，所述晶粒與所述晶界相比、或者所述晶粒與所述晶界的附近相比，實質上不存在鈣，
并且，在所述晶界或所述晶界的附近中的鈷比所述晶粒中的鈷少地存在。
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