[發明專利]晶閘管過零檢測電路以及檢測方法

在審

• 申請號: 202011138186.9
• 申請日: 2020-10-22
• 公開（公告）號: CN112305298A
• 公開（公告）日: 2021-02-02
• 發明（設計）人: 王鴻雁;陶軍
• 申請（專利權）人: 上海熹源電氣有限公司
• 主分類號: G01R19/175
• 分類號: G01R19/175
• 代理公司: 上海立群專利代理事務所(普通合伙) 31291
• 代理人: 楊楷

1.一種晶閘管過零檢測電路，其特征在于，包括晶閘管、集成運算放大器、電阻以及二極管，所述集成運算放大器的同相輸入端的電位為電阻分壓晶閘管兩端電壓，當所述晶閘管兩端電壓小于1V時，所述二極管不導通，所述集成運算放大器的同相輸入端的電壓為所述晶閘管兩端過零電壓信號和符號信號。

2.如權利要求1所述的晶閘管過零檢測電路，其中所述晶閘管過零檢測電路設置有第一二極管、第二二極管以及第三二極管，當所述晶閘管兩端電壓小于1V時，所述第二二極管以及所述第三二極管不導通。

3.如權利要求2所述的晶閘管過零檢測電路，其中當所述晶閘管兩端電壓高于預設值時，通過所述第一二極管、所述第二二極管以及所述第三二極管鉗位所述集成運算放大器的同相輸入端的電壓，防止所述晶閘管兩端電壓過大而燒壞所述集成運算放大器。

4.如權利要求3所述的晶閘管過零檢測電路，其中所述晶閘管過零檢測電路設置有第一電阻、第二電阻、第三電阻、第四電阻、第五電阻、第六電阻以及第七電阻，所述集成運算放大器的同相輸入端的電位為所述第二電阻的電阻值/所述第一電阻的電阻值、所述第二電阻的電阻值以及所述第七電阻的電阻值之和，分壓晶閘管兩端電壓。

5.如權利要求4所述的晶閘管過零檢測電路，其中所述集成運算放大器的同相輸入端設置有所述第一電阻以及所述第二電阻。

6.如權利要求5所述的晶閘管過零檢測電路，其中所述集成運算放大器的同相輸入端和晶閘管電容端電壓之間設置有所述第一電阻以及所述第七電阻。

7.如權利要求6所述的晶閘管過零檢測電路，其中所述集成運算放大器的同相輸入端設置有所述第一電阻以及所述第二電阻。

8.如權利要求7所述的晶閘管過零檢測電路，其中所述集成運算放大器的輸入端設置有所述第五電阻，所述集成運算放大器的同相輸入端和所述第二二極管之間設置有所述第二電阻。

9.如權利要求8所述的晶閘管過零檢測電路，其中所述晶閘管過零檢測電路設置有第一濾波電容、第二濾波電容以及第三濾波電容，所述集成運算放大器的輸出端和所述第二濾波電容之間設置有所述第五電阻。

10.一種晶閘管過零檢測電路的檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

晶閘管電容端電壓和晶閘管市電電源端電壓接晶閘管兩端電壓，集成運放放大器的同相輸入端電位分壓晶閘管兩端電壓；

當晶閘管兩端電壓小于1V時，晶閘管過零檢測電路中的兩個二極管不導通；以及

通過集成運放放大器的同相輸入端的電壓檢測電壓過零信號和符號信號。