[發明專利]一種軟管狀態仿真方法、裝置、電子設備及存儲介質

在審

• 申請號: 202011135342.6
• 申請日: 2020-10-21
• 公開（公告）號: CN112215937A
• 公開（公告）日: 2021-01-12
• 發明（設計）人: 張雪;雷志興;程鈞沅;熊抗天;林一凡
• 申請（專利權）人: 北京高途云集教育科技有限公司
• 主分類號: G06T15/20
• 分類號: G06T15/20;G06T15/00;G06T11/20;G09B5/08;G06F30/20
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 鐘揚飛

1.一種軟管狀態仿真方法，其特征在于，所述方法包括：

基于第一硬質管的第一預設點和第二硬質管的第二預設點的坐標獲取貝塞爾曲線的關鍵點數組；

基于所述關鍵點數組繪制貝塞爾曲線；

基于所述貝塞爾曲線、所述第一硬質管和第二硬質管上的多個管道采樣點獲取圖形路徑；

對所述圖形路徑進行渲染，以模擬所述第一硬質管和所述第二硬質管之間的軟管的彎曲狀態。

2.根據權利要求1所述的軟管狀態仿真方法，其特征在于，所述第一預設點設置在所述第一硬質管的中心線的延長線上，所述第二預設點設置在所述第二硬質管的中心線的延長線上，所述基于第一硬質管的第一預設點和第二硬質管的第二預設點獲取貝塞爾曲線的關鍵點數組，包括：

選取所述第一硬質管的端部與其中心線的延長線的交點到所述第一預設點之間的第一彎曲起點；

選取所述第二硬質管的端部與其中心線的延長線的交點到所述第二預設點之間的第二彎曲起點；

獲取所述第一預設點到所述第一彎曲起點之間的第一彎曲距離；

獲取所述第二預設點到所述第二彎曲起點之間的第二彎曲距離；

根據所述第一預設點、所述第一彎曲起點、第一彎曲距離、第二預設點、第二彎曲起點以及第二彎曲距離獲取第一彎曲終點和第二彎曲終點的坐標，其中，所述第一彎曲終點和所述第二彎曲終點在所述第一預設點和第二預設點構成的方向向量上；

根據所述第一預設點、第一彎曲起點和第一彎曲終點確定第一關鍵點數組；

根據所述第二預設點、第二彎曲起點和第二彎曲終點確定第二關鍵點數組。

3.根據權利要求2所述的軟管狀態仿真方法，其特征在于，所述根據所述第一預設點、所述第一彎曲起點、第一彎曲距離、第二預設點、第二彎曲起點以及第二彎曲距離獲取第一彎曲終點和第二彎曲終點的坐標，包括：

根據所述第一彎曲距離確定所述第一預設點到所述第一彎曲終點的第三彎曲距離；

根據所述第二彎曲距離確定所述第二預設點到所述第二彎曲終點的第四彎曲距離；

基于第一預設點和第二預設點獲取所述第一預設點到第二預設點之間的直線距離；

基于所述第一預設點和所述第二預設點的坐標計算其構成的方向向量；

根據所述方向向量、所述第三彎曲距離、第四彎曲距離和所述直線距離獲取第一彎曲終點和第二彎曲終點的坐標。

4.根據權利要求1所述的軟管狀態仿真方法，其特征在于，所述管道采樣點包括至少兩個第一采樣點和至少兩個第二采樣點，兩個所述第一采樣點設置在所述第一硬質管的中心線上，兩個所述第二采樣點設置在所述第二硬質管的中心線上，所述基于所述貝塞爾曲線、第一硬質管和第二硬質管上的多個第二預設點獲取圖形路徑，包括：

利用圖形繪制類并根據所述貝塞爾曲線、所述第一采樣點和所述第二采樣點獲取圖形路徑。

5.根據權利要求4所述的軟管狀態仿真方法，其特征在于，所述對所述圖形路徑進行渲染，以模擬所述第一硬質管和所述第二硬質管之間的軟管的彎曲狀態，包括：

利用路徑點獲取屬性獲取所述圖形路徑上的預設個數的第三采樣點的坐標；

利用所述第三采樣點并調用實例化繪繩類對軟管進行渲染，以模擬所述軟管的彎曲狀態。

6.一種軟管狀態仿真裝置，其特征在于，所述裝置包括：

關鍵點數組獲取模塊，用于基于第一硬質管的第一預設點和第二硬質管的第二預設點坐標獲取貝塞爾曲線的關鍵點數組；

曲線繪制模塊，用于基于所述關鍵點數組繪制貝塞爾曲線；

圖形路徑獲取模塊，用于基于所述貝塞爾曲線、所述第一硬質管和第二硬質管上的多個管道采樣點獲取圖形路徑；

渲染模塊，用于對所述圖形路徑進行渲染，以模擬所述第一硬質管和所述第二硬質管之間的軟管的彎曲狀態。