[發明專利]一種半導體分立器柱形電容的制造用檢測設備

在審

• 申請號: 202011130148.9
• 申請日: 2020-10-21
• 公開（公告）號: CN112305367A
• 公開（公告）日: 2021-02-02
• 發明（設計）人: 彭付萍
• 申請（專利權）人: 廣州藍濤貿易有限公司
• 主分類號: G01R31/01
• 分類號: G01R31/01;G01R1/02;G01R1/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明涉及半導體分立器件制造技術領域，且公開了一種半導體分立器柱形電容的制造用檢測設備，包括底座，所述固定盤的內部左側設置有弧形鐵片，弧形鐵片的右側設置有與檢測針對應的線圈，固定盤的內部右側設置有矩形磁塊，螺紋盤的上部連接有滑動磁塊，主轉盤的上側設置有導向管，導向管的左上方設置有弧形磁塊。通過主轉盤轉動帶動從動盤轉動，且同時與固定盤相互摩擦，從而通過摩擦力帶動從動盤自轉，從動盤通過其上的支撐桿帶動電容轉動，且保證在對應的弧形鐵片的范圍內轉動一圈，進一步使得引腳與檢測針連通一次，從而避免損壞的電容受到弧形鐵片磁性的影響，從而保證在主轉盤的左前方完成對電容是否通電的檢測。

技術領域

本發明涉及半導體分立器件制造技術領域，具體為一種半導體分立器柱形電容的制造用檢測設備。

背景技術

半導體分立器件泛指半導體晶體二極管、半導體三極管簡稱二極管、三極管及半導體特殊器件,在產品應用方面，電子整機產品對功率變換、電源管理等日益增長的需求直接推動了功率晶體管產品的向前發展。隨著全球經濟對節能環保的重視，功率半導體技術將進一步得到發展，從而帶動分立器件市場的快速增長。

其中在柱形電容的的生產制造中，需要對柱形電容進行是否通電的檢測，而這種檢測的裝置一方面不能對柱形電容帶動引腳的方向進行調整，另一方面檢測和檢測后的柱形電容的分離需要人工操作，不僅工作效率低，且人為的檢測和放置易存在誤差，為了解決這一問題我們提出了一種半導體分立器柱形電容的制造用檢測設備。

發明內容

（一）解決的技術問題

針對現有技術的不足，本發明提供了一種半導體分立器柱形電容的制造用檢測設備，具備自動對電容調向、自動進行檢測、檢測精度高和工作效率高的優點，解決了現有的電容生產制造檢測不能自動對電容調向、不能自動進行檢測、檢測精度低和工作效率低的問題。

（二）技術方案

為實現上述具備自動對電容調向、自動進行檢測、檢測精度高和工作效率高的目的，本發明提供如下技術方案：一種半導體分立器柱形電容的制造用檢測設備，包括底座，所述底座的中部固定連接有固定柱，固定柱的上部設置有扭矩彈簧，扭矩彈簧的左部設置有檢測針，固定柱的偏上中部外側設置有固定盤，固定盤的內部左側設置有弧形鐵片，弧形鐵片的右側設置有與檢測針對應的線圈，固定盤的內部右側設置有矩形磁塊，固定柱的外側轉動連接有主轉盤，主轉盤的內部環繞開設有通槽，主轉盤的下側設置有圓盤，主轉盤的內部且在通槽內轉動連接有與固定盤對應的從動盤，從動盤的上部外側環繞設置有固定塊，從動盤的上部轉動連接有螺紋盤，螺紋盤的上部滑動連接有滑動磁塊，滑動磁塊的里側端且在固定塊上均固定連接有第一彈簧，滑動磁塊的里側端均固定連接有支撐桿，支撐桿的里側端均設置有彈性塊，彈性塊的上側且在通槽內設置有電容，電容的上部設置有引腳，圓盤的外側設置有皮帶，皮帶的左側且在底座上轉動連接有驅動裝置，主轉盤的上側設置有導向管，導向管的左上方設置有弧形磁塊。

優選的，所述弧形鐵片弧度對應的角度小于相鄰通槽之間的角度，通過轉盤轉動，帶動從動盤沿著固定盤轉動，保證在對應的弧形鐵片的范圍內轉動一圈，進一步使得引腳與檢測針連通一次，從而避免損壞的電容受到弧形鐵片磁性的影響。

優選的，所述線圈產生的磁場與弧形鐵片一側的滑動磁塊的磁極相反。

優選的，所述矩形磁塊的磁極與其右側的滑動磁塊相對面的磁極相反。

優選的，所述螺紋盤的上側設置有螺旋紋，且滑動磁塊的下部設置有與該螺旋紋對應的滑槽，從而保證其中一個滑動磁塊帶動螺紋盤轉動，螺紋盤轉動帶動其它滑動磁塊同步移動。

優選的，所述通槽的上部設置為錐形，且錐形的下側設置有與彈性塊對應的凹槽。

優選的，所述導向管與后側的通槽相對應，從而保證電容下落到通槽內。

（三）有益效果