[發(fā)明專利]一種三軸磁強(qiáng)計(jì)的校正方法及裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011128039.3 | 申請(qǐng)日： | 2020-10-20 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN112505599A | 公開（公告）日： | 2021-03-16 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 徐娟娟;張海軍;黃光輝;農(nóng)海革 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 深圳市華信天線技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào)： | G01R35/00 | 分類號(hào)： | G01R35/00;G01V13/00 |
| 代理公司： | 深圳智匯遠(yuǎn)見知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44481 | 代理人： | 王旭;李俊 |
| 地址： | 518055 廣東省深圳市南山區(qū)西麗街道曙光*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 磁強(qiáng)計(jì) 校正 方法 裝置 | ||
1.一種三軸磁強(qiáng)計(jì)的校正方法，其特征在于，所述校正方法應(yīng)用于安裝有目標(biāo)三軸磁強(qiáng)計(jì)和參考三軸磁強(qiáng)計(jì)的載體，其中，所述目標(biāo)三軸磁強(qiáng)計(jì)的Z軸方向和所述參考三軸磁強(qiáng)計(jì)的Z軸方向相反；所述校正方法包括：
在所述載體移動(dòng)時(shí)，采集所述目標(biāo)三軸磁強(qiáng)計(jì)在Z軸方向上的至少一個(gè)目標(biāo)測量值；以及，采集所述參考三軸磁強(qiáng)計(jì)在Z軸方向上的至少一個(gè)參考測量值；
利用所述至少一個(gè)目標(biāo)測量值和所述至少一個(gè)參考測量值，計(jì)算所述目標(biāo)三軸磁強(qiáng)計(jì)在Z軸方向上的校正參數(shù)；
利用所述目標(biāo)三軸磁強(qiáng)計(jì)在Z軸方向上的校正參數(shù)對(duì)所述目標(biāo)測量值進(jìn)行校正，得到所述目標(biāo)三軸磁強(qiáng)計(jì)校正后的Z軸測量值。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的校正方法，其特征在于，所述采集所述目標(biāo)三軸磁強(qiáng)計(jì)在Z軸方向上的至少一個(gè)目標(biāo)測量值，包括：
采集所述目標(biāo)三軸磁強(qiáng)計(jì)在Z軸方向上的多個(gè)Z軸歷史測量值；
從所述目標(biāo)三軸磁強(qiáng)計(jì)在Z軸方向上的多個(gè)Z軸歷史測量值中查找測量值最大的第一歷史測量值和測量值最小的第二歷史測量值；
將所述第一歷史測量值和第二歷史測量值分別作為一個(gè)所述目標(biāo)測量值。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的校正方法，其特征在于，所述采集所述參考三軸磁強(qiáng)計(jì)在Z軸方向上的至少一個(gè)參考測量值，包括：
采集所述參考三軸磁強(qiáng)計(jì)在Z軸方向上的多個(gè)Z軸歷史測量值；
從所述參考三軸磁強(qiáng)計(jì)在Z軸方向上的多個(gè)Z軸歷史測量值中查找測量值最大的第三歷史測量值和測量值最小的第四歷史測量值；
將所述第三歷史測量值和第四歷史測量值分別作為一個(gè)所述參考測量值。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的校正方法，其特征在于，所述利用所述至少一個(gè)目標(biāo)測量值和所述至少一個(gè)參考測量值，計(jì)算所述目標(biāo)三軸磁強(qiáng)計(jì)在Z軸方向上的校正參數(shù)，包括：
獲取所述第一歷史測量值、第二歷史測量值、第三歷史測量值和第四歷史測量值；
對(duì)所述第一歷史測量值、第二歷史測量值、第三歷史測量值和第四歷史測量值進(jìn)行均值計(jì)算，將均值計(jì)算的結(jié)果作為所述目標(biāo)三軸磁強(qiáng)計(jì)在Z軸方向上的校正參數(shù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的校正方法，其特征在于，所述校正方法還包括：
在所述載體在X軸和Y軸所組成的平面上進(jìn)行畫圓運(yùn)動(dòng)時(shí)，采集所述目標(biāo)三軸磁強(qiáng)計(jì)在X軸和Y軸所組成的平面上的平面測量值；
利用所述平面測量值計(jì)算出所述目標(biāo)三軸磁強(qiáng)計(jì)的平面零偏值；
利用所述平面測量值和所述平面零偏值計(jì)算出所述目標(biāo)三軸磁強(qiáng)計(jì)的平面校正參數(shù)；
利用所述目標(biāo)三軸磁強(qiáng)計(jì)的平面校正參數(shù)對(duì)所述平面測量值進(jìn)行平面校正，得到所述目標(biāo)三軸磁強(qiáng)計(jì)的平面校正值。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的校正方法，其特征在于，所述平面測量值包括目標(biāo)三軸磁強(qiáng)計(jì)在X軸方向上的多個(gè)X軸歷史測量值和目標(biāo)三軸磁強(qiáng)計(jì)在Y軸方向上的多個(gè)Y軸歷史測量值；
所述利用所述平面測量值計(jì)算出所述目標(biāo)三軸磁強(qiáng)計(jì)的平面零偏值，包括：
從所述目標(biāo)三軸磁強(qiáng)計(jì)在X軸方向上的多個(gè)X軸歷史測量值中查找測量值最大的第五歷史測量值和測量值最小的第六歷史測量值；對(duì)所述第五歷史測量值和第六歷史測量值進(jìn)行均值計(jì)算，計(jì)算出所述目標(biāo)三軸磁強(qiáng)計(jì)的X軸零偏值；
以及，從所述目標(biāo)三軸磁強(qiáng)計(jì)在Y軸方向上的多個(gè)Y軸歷史測量值中查找測量值最大的第七歷史測量值和測量值最小的第八歷史測量值；對(duì)所述第七歷史測量值和第八歷史測量值進(jìn)行均值計(jì)算，計(jì)算出所述目標(biāo)三軸磁強(qiáng)計(jì)的Y軸零偏值。
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