[發明專利]一種漆層厚度紅外熱成像檢測裝置及檢測方法

有效

• 申請號: 202011127317.3
• 申請日: 2020-10-20
• 公開（公告）號: CN112098462B
• 公開（公告）日: 2022-07-12
• 發明（設計）人: 李波;陳俊衛;劉卓毅;樊磊;何錦航;劉君;施艷;陳飛;張凱;何濤;陳思琪
• 申請（專利權）人: 貴州電網有限責任公司
• 主分類號: G01N25/72
• 分類號: G01N25/72;G01B21/08
• 代理公司: 貴陽中新專利商標事務所 52100
• 代理人: 商小川

1.一種漆層厚度紅外熱成像檢測裝置的檢測方法，其特征在于：所述裝置包括：上位機(1)，上位機(1)與函數發生器(2)連接；函數發生器(2)與功率放大器(3)連接；功率放大器(3)與鹵素燈(5)連接；函數發生器(2)與熱成像儀(4)連接；所述檢測方法為：通過改變鎖相頻率反復測量并對比標準試塊與實際物體的幅值圖像以及相位圖像的方法將檢測結果圖中漆層厚度變化的影響與漆層風化的影響相互區分開來以此檢測電力設備漆層厚度。

2.根據權利要求1所述的一種漆層厚度紅外熱成像檢測裝置的檢測方法，其特征在于：它還包括固定罩(6)，所述熱成像儀(4)和鹵素燈(5)固定在固定罩(6)頂端。

3.根據權利要求2所述的一種漆層厚度紅外熱成像檢測裝置的檢測方法，其特征在于：固定罩(6)兩側固定有把手部件。

4.根據權利要求2所述的一種漆層厚度紅外熱成像檢測裝置的檢測方法，其特征在于：旋轉置物臺(7)固定在固定罩的中部位置。

5.根據權利要求1所述的一種漆層厚度紅外熱成像檢測裝置的檢測方法，其特征在于：它具體包括：

步驟1、將旋轉置物臺旋轉至最左方位置，使系統激勵及采集的目標為實際物體；

步驟2、通過上位機控制函數發生器生成一定頻率波形，激勵并采集樣品表面溫度分布；

步驟3、通過上位機控制函數發生器生成一定頻率波形，使得調制熱波可以傳播到達漆層與底部金屬的交界面，鎖相激勵并采集樣品表面溫度分布；

步驟4、通過上位機獲取上述步驟2和3中熱像儀所得圖像數據，并通過四點相關和傅里葉變換相關相位提取算法取得幅值圖像A以及相位圖像Φ；根據步驟2和3的幅值圖像和相位圖像判斷實際物體是否發生風化現象；

步驟5、將旋轉置物臺旋轉至最下方位置，使系統的檢測目標為標準漆層試塊，并重復進行上述步驟2、3和4；標準試塊可表示設備表面漆層厚度及風化程度的變化，并起到定標的作用；假定標準試塊漆層的厚度變化級數為N，風化程度變化級數為M，檢測后通過算法處理可得到N幅幅值圖像和相位圖像

步驟6、針對上述步驟4中出現的漆層無風化現象，即幅值圖像A′結果中各區域灰度值大小無差異，提取該位置在相位圖像Φ″中的相位差與步驟5中各不同深度位置相位圖像作對比，并提取其中相位差與相同的圖像，假定其序號為i；區域表示的漆層厚度d與實際物體中缺陷區域X的漆層厚度相同，即得到了該區域的漆層厚度；

步驟7、針對步驟4中出現的漆層某區域有風化現象，即幅值圖像A′結果中某區域X灰度值大小與其他區域存在差異，對比標準試塊不同風化程度的結果圖找到標準試塊中與步驟2中區域X的信號數值大小相同的區域j；再次執行步驟6，在中找到相位差與相同的圖像，假定其序號為i；區域表示的漆層厚度d與實際物體中缺陷區域X的漆層厚度相同，即得到了該區域的漆層厚度；最終可得到整幅表面漆層厚度變化的檢測結果圖。

6.根據權利要求5所述的一種漆層厚度紅外熱成像檢測裝置的檢測方法，其特征在于：所述根據步驟2和3的幅值圖像和相位圖像判斷實際物體是否發生風化現象的方法為：假定步驟2、3所得結果分別為A′,A″；Φ′,Φ″；觀察步驟2檢測結果中的幅值圖像A′，若結果中各區域灰度值大小無差異，則說明漆層無風化現象；若圖像中某區域X的信號數值大小與其他區域存在差異則說明該區域漆層存在風化現象。

7.根據權利要求5所述的一種漆層厚度紅外熱成像檢測裝置的檢測方法，其特征在于：所述標準漆層試塊為一塊漆層以及風化程度梯度變化的平板，材料與實際檢測設備所使用材料相同；從左至右，試塊表面漆層厚度呈梯度變化且每層內漆層的厚度均勻，變化范圍為所檢測設備實際漆層厚度的變化范圍；從上至下，漆層風化程度從未風化開始逐漸增加。