[發明專利]電遷移區域檢測方法、裝置、計算機設備和存儲介質

在審

• 申請號: 202011123112.8
• 申請日: 2020-10-20
• 公開（公告）號: CN112215827A
• 公開（公告）日: 2021-01-12
• 發明（設計）人: 吳長雷;李勇;丁俊超;浦黎;董世儒;紀慶泉
• 申請（專利權）人: 中廣核核電運營有限公司;中國廣核集團有限公司;中國廣核電力股份有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/11;G06T7/13;G06T7/62;G06T7/90;G06T5/30;G06T5/20;G06T5/00
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 李文淵

1.一種電遷移區域檢測方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取電路板圖像；

對所述電路板圖像進行邊緣檢測，得到所述電路板圖像的邊緣信息；

基于所述邊緣信息對所述電路板圖像中的干擾物進行識別；

將所述干擾物從所述電路板圖像中去除，得到無干擾物的目標電路板圖像；

通過視覺顯著性檢測算法，提取所述目標電路板圖像中的電遷移區域。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

獲取預設數量的樣本電路板圖像；

對所述樣本電路板圖像進行標注，得到訓練樣本；

將所述訓練樣本輸入目標檢測網絡進行訓練，得到干擾物識別模型；

所述基于所述邊緣信息對所述電路板圖像中的干擾物進行識別，包括：

通過所述干擾物識別模型基于所述邊緣信息對所述電路板圖像中的干擾物進行識別。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對所述電路板圖像進行邊緣檢測之前，所述方法還包括：

對所述電路板圖像進行預處理操作，所述預處理操作包括圖像灰度化、形態學處理、中值濾波處理。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述通過視覺顯著性檢測算法，提取所述目標電路板圖像中的電遷移區域，包括：

將所述無干擾物的電路板圖像轉換到預設顏色空間，得到預設顏色空間的無干擾物的電路板圖像；

通過視覺顯著性檢測算法，提取所述預設顏色空間的無干擾物的電路板圖像中的電遷移區域。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述通過視覺顯著性檢測算法，提取所述目標電路板圖像中的電遷移區域之后，所述方法還包括：

計算所述電路板圖像中的電遷移區域的面積；

根據所述面積確定所述電路板圖像對應電路板的短路風險等級；

生成與所述短路風險等級對應的風險提示信息并進行提示。

6.一種電遷移區域檢測裝置，其特征在于，所述裝置包括：

圖像獲取模塊，用于獲取電路板圖像；

邊緣檢測模塊，用于對所述電路板圖像進行邊緣檢測，得到所述電路板圖像的邊緣信息；

圖像識別模塊，用于基于所述邊緣信息對所述電路板圖像中的干擾物進行識別；

干擾物去除模塊，用于將所述干擾物從所述電路板圖像中去除，得到無干擾物的目標電路板圖像；

電遷移區域提取模塊，用于通過視覺顯著性檢測算法，提取所述目標電路板圖像中的電遷移區域。

7.根據權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括：

樣本電路板圖像獲取模塊，用于獲取預設數量的樣本電路板圖像；

標注模塊，用于對所述樣本電路板圖像進行標注，得到訓練樣本；

將所述訓練樣本輸入目標檢測網絡進行訓練，得到干擾物識別模型；

所述基于所述邊緣信息對所述電路板圖像中的干擾物進行識別，包括：

通過所述干擾物識別模型基于所述邊緣信息對所述電路板圖像中的干擾物進行識別。

8.根據權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括：

預處理模塊，用于對所述電路板圖像進行預處理操作，所述預處理操作包括圖像灰度化、形態學處理、中值濾波處理。

9.一種計算機設備，包括存儲器和處理器，所述存儲器存儲有計算機程序，其特征在于，所述處理器執行所述計算機程序時實現權利要求1至7中任一項所述方法的步驟。

10.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執行時實現權利要求1至7中任一項所述的方法的步驟。