[發(fā)明專利]一種兩個連接器之間導通的測試方法

在審

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• 申請日: 2020-10-20
• 公開（公告）號: CN114384441A
• 公開（公告）日: 2022-04-22
• 發(fā)明（設計）人: 李攀龍
• 申請（專利權）人: 深圳市國顯科技有限公司
• 主分類號: G01R31/52
• 分類號: G01R31/52;G01R31/54;G01R31/68;G01R19/165
• 代理公司: 深圳市千納專利代理有限公司 44218
• 代理人: 胡堅

本發(fā)明是一種兩個連接器之間導通的測試方法，所述測試方法的步驟如下：A、測試排線上設有第一連接器和第二連接器，被測排線設有第三連接器和第四連接器；B、所述測試排線上第一連接器與被測排線第三連接器相連，所述測試排線上第二連接器與被測排線的第四連接器相連；C、運用串聯(lián)電阻的分壓原理，在電阻R1一側設有電壓測試點；D、采用走線將測試排線及被測排線pin依次連成一個完整的分壓電路，并確保測試排線相鄰不同pin定義的pin在不同的電壓區(qū)間；E、通過測量測試點的電壓值U來判斷被測排線第三連接器和第四連接器導通情況，屬于電子測試技術領域。目的是提供一種制作相對較為簡單方便，可有效的降低測試成本的測試方法。

技術領域

本發(fā)明涉及一種導通測試方法，特別是一種兩個連接器之間導通的測試方法。

背景技術

現(xiàn)有的技術中利用與兩個連接器pin數(shù)相同的探針治具進行一對一的導通測試，一方面治具的成本比較高，另外一方面治具的體積比較大，攜帶不方便。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是在于解決現(xiàn)有測試裝置的體積較大和攜帶不方便，而提供一種兩個連接器之間導通的測試方法。

一種兩個連接器之間導通的測試方法，所述測試方法的步驟如下：

A、測試排線上設有第一連接器和第二連接器，被測排線設有第三連接器和第四連接器；

B、所述測試排線上第一連接器與被測排線第三連接器相連，所述測試排線上第二連接器與被測排線的第四連接器相連；

C、運用串聯(lián)電阻的分壓原理，在電阻R1一側設有電壓測試點；

D、采用走線將測試排線及被測排線pin依次連成一個完整的分壓電路，并確保測試排線相鄰不同pin定義的pin(同一個連接器相同的pin定義的pin算作同一個pin)在不同的電壓區(qū)間；

E、通過測量測試點的電壓值U來判斷被測排線第三連接器和第四連接器導通情況。

進一步的，所述第一連接器和第三連接器為相同型號連接器的公座和母座。

進一步的，所述第二連接器和第四連接器為相同型號連接器的公座和母座。

進一步的，所述步驟(E)中判斷被測排線第三連接器和第四連接器導通的方法如下：

如果U1U2：

連接正常：U＝(U1-U2)(R2+R3)/(R1+R2+R3)，

連接短路：U＝U2或者U＝(U1-U2)R3/(R1+R3)或者U＝(U1-U2)R2/(R1+R2)

連接開路：U＝U1；

如果U1U2：

連接正常U＝(U2-U1)R1/(R1+R2+R3)，

連接短路：U＝U2或者U＝(U2-U1)R1/(R1+R3)或者U＝(U2-U1)R1/(R1+R2)，

連接開路：U＝U1。

采用上述技術方案的有益效果是：采用本方案中的方法，制作相對較為簡單方便，可有效的降低測試成本。

附圖說明

圖1為本發(fā)明測試原理圖；

圖2為本發(fā)明測試排線連接示意圖；

圖3為本發(fā)明被測排線連接示意圖。

具體實施方式

以下結合附圖和本發(fā)明優(yōu)選的具體實施例對本發(fā)明的內(nèi)容作進一步地說明。所舉實例只用于解釋本發(fā)明，并非用于限定本發(fā)明的范圍。