[發明專利]一種大淺孔的檢測方法及裝置

在審

• 申請號: 202011121500.2
• 申請日: 2020-10-20
• 公開（公告）號: CN112129202A
• 公開（公告）日: 2020-12-25
• 發明（設計）人: 曾春華;石年平;彭杰;李廷飛
• 申請（專利權）人: 貴州群建精密機械有限公司
• 主分類號: G01B5/12
• 分類號: G01B5/12;G01B5/20;G01B5/00
• 代理公司: 貴陽中新專利商標事務所 52100
• 代理人: 劉楠

本發明公開了一種大淺孔的檢測方法及裝置，本發明通過連接桿延長了百分表的檢測范圍，實現了對大淺孔的檢測；所用檢測裝置包括連接桿（1）；連接桿一端為光桿段（2），連接桿另一端為螺紋段（3）；光桿段經連接桿鎖緊螺釘（4）與固定測頭安裝座（5）固定連接；螺紋段與百分表安裝座（6）螺紋連接；固定測頭安裝座底部安裝有固定測頭（7）；百分表安裝座上安裝有百分表（8）。本發明結構簡單、操作方便、通用性強、測量精度高，能夠準確檢測普通量具無法檢測的大淺孔的尺寸。由于本發明可減少零件周轉的工作量，所以在對大批量零件進行檢測時其優點尤為顯著。

技術領域

本發明涉及一種大淺孔的檢測方法及裝置，屬于大型機械零件檢測技術領域。

背景技術

內孔是機械零件常見的結構特征，其中大淺孔因其直徑較大、深度較淺，導致常規檢具無法對其進行檢測，所以大淺孔的檢測一直是工業生產中的一個難點。

現有技術在對內孔檢測時，常采用塞規、內徑百分表、內徑千分尺、檢測儀等量具進行檢測。對于大淺孔零件而言（孔徑大于或等于300毫米、孔的深度小于或等于10毫米的一般稱為大淺孔），尺寸較大、深度較淺，若仍采用現有技術進行檢測，由于大淺孔尺寸大，對應塞規的制造、檢測及使用難度大；由于內孔較淺現有的內徑百分表、內徑千分尺通常因干涉而無法使用；現有檢測儀器通常是安裝在專用工作臺上，因而很難在機床上進行檢測，無法在加工現場進行實時檢測，一旦加工超差后造成無法彌補的損失。如果將零件從機床上拆下進行檢測，由于零配件較大、較重拆下檢測的工作量很大。另外拆下檢測也很難保證加工精度。因此現有技術仍存在不足，有待進一步改進。

發明內容

本發明的目的在于，提供一種大淺孔的檢測方法及裝置，以能夠方便、快捷的檢測出大淺孔精確數據，從而解決現有技術存在的不足。

為實現上述目的，本發明采用如下技術方案：

本發明的一種大淺孔的檢測方法為，該方法對于孔徑大于或等于300毫米、孔的深度小于或等于10毫米的大淺孔，按以下步驟檢測其尺寸和橢圓度：

步驟1、根據大淺孔深度選取固定測頭；并將固定測頭的螺桿旋入固定測頭安裝座底部的螺孔內；

步驟2、將百分表安裝座安裝在連接桿的螺紋段；并通過一對百分表安裝座鎖緊螺母將百分表安裝座鎖緊在連接桿上，防止百分表安裝座沿連接桿軸向移動；

步驟3、將固定測頭安裝座套在連接桿的光桿段；然后將固定測頭安裝座和百分表安裝座同時放在校準平臺上校平，確保固定測頭安裝座和百分表安裝座底面位于同一平面；

步驟4、根據被檢零件上大淺孔直徑尺寸，沿連接桿軸線平移固定測頭安裝座，調整固定測頭球面最左點與百分表探頭之間的距離至合適位置，并通過連接桿鎖緊螺釘將固定測頭安裝座鎖定在連接桿上；

步驟5、將百分表通過百分表鎖緊螺釘安裝在百分表安裝座上，使百分表探頭與檢測基準適量接觸，并將百分表指針調至零位；

步驟6、根據大淺孔尺寸，沿連接桿軸線平移固定測頭安裝座，調整固定測頭球面最高點與百分表探頭之間的距離至合適位置，使用對應量程及精度的外徑千分尺進行校調，將固定測頭球面最左點與百分表探頭球面最右點之間的距離調整至大淺孔尺寸的合格范圍內，并記錄此數據d ，并將百分表調至0位，并通過連接桿鎖緊螺釘鎖定固定測頭安裝座在連接桿上的位置；

步驟7、將固定測頭球面與大淺孔內壁接觸并記錄固定測頭球面與對應180°位置處百分表探頭球面與大淺孔內壁接觸時的百分表數據距離δ；

步驟8、以大淺孔軸線為軸心緩慢旋轉連接桿，這樣即可測量得到大淺孔不同方向的數據距離δ，選取最大值δmax和最小值δmin,即可計算出大淺孔最小直徑尺寸d1為：d1=d ＋δmin，大淺孔最大直徑尺寸d2為： d2=d ＋δmax，大淺孔橢圓度=δmax-δmin。