[發明專利]一種水果內部品質評價的光譜儀及衰減斜率計算方法在審
| 申請號: | 202011120187.0 | 申請日: | 2020-10-19 |
| 公開(公告)號: | CN112485202A | 公開(公告)日: | 2021-03-12 |
| 發明(設計)人: | 周晶;盧軍;謝靜;劉玉紅 | 申請(專利權)人: | 武漢優科瑞特信息技術有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/25 | 分類號: | G01N21/25;G01J11/00 |
| 代理公司: | 武漢瑞創星知識產權代理事務所(普通合伙) 42274 | 代理人: | 劉艷麗 |
| 地址: | 430000 湖北省武漢市東湖新技術開發*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 水果 內部 品質 評價 光譜儀 衰減 斜率 計算方法 | ||
1.一種水果內部品質評價的光譜儀,其特征在于:包括:計算機(1)、半導體激光器(2)、準直鏡(3)、多模光纖(4)、非接觸式探頭(5)、單模光纖(7)、單光子探測器(8)、數據采集卡(9)和光衰減器(14);
其中,半導體激光器(2)出光口前設置準直鏡(3),半導體激光器(2)發射的激光經準直鏡(3)準直后的導入光衰減器(14),通過光衰減器調節入射激光的強度;
光衰減器(14)出光口采用FC接口接多模光纖(4)的一端;
多模光纖(4)的另一端通過FC接口垂直固定于非接觸式探頭(5);
單模光纖(7)的一端通過FC接口垂直固定于非接觸式探頭(5),另一端連接單光子探測器(8);非接觸式探頭(5)采集到的斷續的隨機光子流經過單模光纖(7)傳輸至單光子探測器(8),并由單光子探測器(8)轉換為電脈沖流;
單光子探測器(8)與數據采集卡(9)的輸入端電性連接;數據采集卡(9)根據所述電脈沖流對單位時間內的光子總數進行采樣;
數據采集卡(9)的輸出端電性連接至計算機(1);計算機(1)獲取數據采集卡(9)的采樣結果并存儲于內存,進行光強的歸一化計算。
2.如權利要求1所述的一種水果內部品質評價的光譜儀,其特征在于:所述準直鏡(3)為非球面透鏡準直鏡。
3.如權利要求1所述的一種水果內部品質評價的光譜儀,其特征在于:所述非接觸式探頭(5)包括:成像鏡頭(6)、長通濾光片(12)、光源和探測器光纖探頭板(13);長通濾光片(12)與成像鏡頭(6)同軸設置,且安裝在成像鏡頭(6)前方,光源和探測器光纖探頭板(13)安裝在成像鏡頭(6)的像平面處;成像鏡頭(6)、長通濾光片(12)、光源和探測器光纖探頭板(13)用殼體封裝后組成非接觸式探頭(5)。
4.如權利要求3所述的一種水果內部品質評價的光譜儀,其特征在于:所述殼體的材質為鋁合金。
5.如權利要求3所述的一種水果內部品質評價的光譜儀,其特征在于:多模光纖(4)通過FC接口垂直固定于光源和探測器光纖探頭板(13),探測用的單模光纖(7)通過FC接口垂直固定于光源和探測器光纖探頭板(13)。
6.如權利要求1所述的一種水果內部品質評價的光譜儀,其特征在于:數據采集卡(9)帶有數字I/O線的(8)通道計數器;數據采集卡(9)的所述計數器通過所述電脈沖流對單位時間內的光子總數進行采樣。
7.一種水果內部品質評價的衰減斜率計算方法,應用于如權利1-6任意一項所述的一種水果內部品質評價的光譜儀中;其特征在于:所述一種水果內部品質評價的衰減斜率計算方法,具體包括如下步驟:
S101:半導體激光器(2)發射激光,所述激光通過準直鏡(3)準直后進入多模光纖(4),多模光纖(4)中的激光通過非接觸式探頭(5)入射至待測水果(11)表面;
S102:入射至待測水果(11)的激光進入水果(11)組織內部被散射,在水果(11)組織表面與入射位置不同距離溢出漫射光,漫射光由非接觸式探頭(5)收集后進入單模光纖(7),單模光纖(7)采集到的斷續的隨機光子流由單光子探測器(8)轉換為電脈沖流;
S103:數據采集卡(9)接收所述電脈沖流,并通過數據采集卡(9)的輸出采樣時鐘控制計數器的時鐘端,對輸入到計數器的單位采樣時鐘內的光子計數,得到計數結果,并將所述計數結果傳輸至數據采集卡(9);
S104:數據采集卡(9)獲取所述計數結果,并發送至計算機(1),計算機(1)將所述計數結果存儲于本地內存中;同時對計數結果進行歸一化自相關計算,擬合計算得到歸一化自相關衰減斜率。
8.如權利要求7所述的一種水果內部品質評價的衰減斜率計算方法,其特征在于:步驟S104中,采用光強的歸一化自相關函數對計數結果進行歸一化自相關計算,具體公式如下:
其中,g(i,τ)為光強的歸一化自相關函數;n(i)表示第iΔt時刻的光子數;n(i+τ)表示(i+τ)Δt時刻的光子數,·表示時間平均;Δt為采集時間;i為當前第i次采樣;τ表示延遲時間;k為計算時從內存中提取的數據個數;η為自相關計算時平移操作的數據個數;計算機(1)從內存中提取k個數據,利用差分計算單位時間內的光子數,對光子數數組進行η平移,然后相乘,即實現延遲時間為ηΔt的自相關計算,擬合計算歸一化自相關衰減斜率。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于武漢優科瑞特信息技術有限公司,未經武漢優科瑞特信息技術有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202011120187.0/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:六輥成型機組
- 下一篇:一種具有定位功能的智能檢測機器人





