[發(fā)明專利]基于光子計數(shù)能譜CT的含能材料等效原子序數(shù)測量方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011120012.X
• 申請日: 2020-10-19
• 公開（公告）號: CN112304987A
• 公開（公告）日: 2021-02-02
• 發(fā)明（設計）人: 黃魁東;楊亞飛
• 申請（專利權）人: 西北工業(yè)大學
• 主分類號: G01N23/046
• 分類號: G01N23/046;G01T1/36
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種基于光子計數(shù)能譜CT的含能材料等效原子序數(shù)測量方法，其特征在于包括下述步驟：

步驟1：獲取3個材質組成已知的標定物的等效原子序數(shù)Z_k,eff，k為標定物序號；

步驟2：利用光子計數(shù)能譜CT，將待測樣品和3個標定物同時進行CT掃描，并重建低能區(qū)CT圖像S_L(x,y)和高能區(qū)CT圖像S_H(x,y)；

步驟3：將S_L(x,y)除以S_H(x,y)，得到待測樣品和標定物的相對比值圖像S_R(x,y)；

步驟4：利用標定物的等效原子序數(shù)及其相對比值，擬合等效原子序數(shù)與相對比值的關系曲線；

步驟5：利用S_R(x,y)和步驟4的關系曲線，計算得到待測樣品和標定物的等效原子序數(shù)圖像Z_eff(x,y)。

2.根據(jù)權利要求1所述的一種基于光子計數(shù)能譜CT的含能材料等效原子序數(shù)測量方法，其特征在于：在所述步驟4中，利用標定物的等效原子序數(shù)及其相對比值，擬合等效原子序數(shù)與相對比值的關系曲線為R為相應標定物在S_R(x,y)中的相對比值，a、b、c為關系曲線參數(shù)。

3.根據(jù)權利要求1所述的一種基于光子計數(shù)能譜CT的含能材料等效原子序數(shù)測量方法，其特征在于：在所述步驟5中，根據(jù)步驟4的關系曲線R，可以得到等效原子序數(shù)圖像計算公式再根據(jù)S_R(x,y)即可計算得到待測樣品和標定物的等效原子序數(shù)圖像Z_eff(x,y)，其中a、b、c的取值與步驟4中相同。

4.根據(jù)權利要求1所述的一種基于光子計數(shù)能譜CT的含能材料等效原子序數(shù)測量方法，其特征在于：該方法所得到的等效原子序數(shù)圖像計算公式，在同一光子計數(shù)能譜CT和相同掃描參數(shù)的情況下可以重復利用，即此時只需對待測樣品(無標定物)執(zhí)行步驟2、步驟3和步驟5，即可得到待測樣品的等效原子序數(shù)圖像。