[發明專利]LCR測試裝置

在審

• 申請號: 202011119378.5
• 申請日: 2020-10-19
• 公開（公告）號: CN112474432A
• 公開（公告）日: 2021-03-12
• 發明（設計）人: 胡珂珂;康國慶;楊磊磊
• 申請（專利權）人: 深圳市景旺電子股份有限公司
• 主分類號: B07C5/344
• 分類號: B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36
• 代理公司: 深圳中一聯合知識產權代理有限公司 44414
• 代理人: 陳延僑

1.一種LCR測試裝置，其特征在于，包括：

測試架，用于定位產品，所述測試架包括上模和下模，所述上模和所述下模上分別設有探針；

LCR測試儀，與所述測試架電連接，用于對產品的測試參數進行測試；及

第一光耦隔離板，電連接于所述測試架與所述LCR測試儀之間。

2.如權利要求1所述的LCR測試裝置，其特征在于，所述測試架還包括輸出端口，所述輸出端口與所述LCR測試儀通過并行數據線實現電連接；

所述并行數據線的長度小于或等于1.5米。

3.如權利要求2所述的LCR測試裝置，其特征在于，所述探針為高頻探針；所述輸出端口為鍍金的SMA標準接口。

4.如權利要求1所述的LCR測試裝置，其特征在于，所述LCR測試裝置還包括自動機，所述自動機包括電源及控制模塊，所述測試架、所述LCR測試儀均與所述電源及控制模塊電連接；

所述LCR測試裝置還包括第二光耦隔離板，所述第二光耦隔離板電連接于所述電源及控制模塊與所述測試架之間。

5.如權利要求4所述的LCR測試裝置，其特征在于，所述自動機還包括與所述電源及控制模塊電連接的升降機構，所述升降機構與所述上模相連且用于驅動所述上模升降，使所述上模與所述下模開模或合模。

6.如權利要求5所述的LCR測試裝置，其特征在于，所述自動機還包括測試平臺，和設于所述測試平臺上且與所述電源及控制模塊電連接的平移機構，所述平移機構連接所述測試架的下模，用于驅動所述下模在平行于所述測試平臺的方向移動。

7.如權利要求6所述的LCR測試裝置，其特征在于，所述自動機還包括設于所述測試平臺上且沿第一方向延伸的第一導軌，所述平移機構滑動連接于所述第一導軌。

8.如權利要求7所述的LCR測試裝置，其特征在于，所述LCR測試裝置還包括數據處理器，所述數據處理器用于接收所述LCR測試儀發出的測試數據，依據所述測試數據判定所述產品的測試參數是否合格，并輸出控制信號。

9.如權利要求8所述的LCR測試裝置，其特征在于，所述自動機還包括設于所述測試平臺上的移轉機構，所述移轉機構用于抓取并移轉產品；

所述移轉機構上設有視覺感應器，所述視覺感應器用于識別產品和獲取產品的位置。

10.如權利要求9所述的LCR測試裝置，其特征在于，所述自動機還包括設于所述測試平臺上的待測品放置臺、以及相鄰設置的不良品放置臺和良品放置臺；

所述測試平臺上設有與所述第一導軌垂直的第二導軌和第三導軌，所述移轉機構包括上料移轉件和下料移轉件，所述上料移轉件滑動連接于所述第二導軌，用于將所述待測品放置臺上的產品放置于所述下模；所述下料移轉件滑動連接于所述第三導軌，用于依據所述控制信號將所述下模中的產品放置于所述良品放置臺或所述不良品放置臺。