[發明專利]一種用于顯微物鏡裝調及檢測的顯微成像系統

在審

• 申請號: 202011119203.4
• 申請日: 2020-10-19
• 公開（公告）號: CN112114424A
• 公開（公告）日: 2020-12-22
• 發明（設計）人: 郎松;鞏巖;王宏偉;張艷微;胡慧杰
• 申請（專利權）人: 中國科學院蘇州生物醫學工程技術研究所
• 主分類號: G02B21/24
• 分類號: G02B21/24;G02B21/34;G02B21/26
• 代理公司: 北京三聚陽光知識產權代理有限公司 11250
• 代理人: 張樂樂

本發明提供一種用于顯微物鏡裝調及檢測的顯微成像系統，需要裝調特殊顯微物鏡時，將原來的顯微物鏡從第二轉接件上拆卸下，將特殊顯微物鏡安裝到第二轉接件上；同時拆下第一轉接件上的管鏡，將入瞳與特殊顯微物鏡的出瞳相匹配的管鏡安裝到第一轉接件上，以解決特殊顯微物鏡與管鏡的不匹配問題。光源模塊為不同顯微物鏡提供相應波段的光源。待觀測樣品放置在載物臺上，通過探測機構對顯微物鏡各視場的點擴散函數及傳遞函數進行定性或定量測試，獲得顯微物鏡各項像差大小，滑動像差調校裝置使其驅動端對準顯微物鏡上的像差調整孔位，調整顯微物鏡中敏感鏡片的方位完成顯微物鏡像差調校，以滿足特殊顯微物鏡的裝配和調校、保證特殊顯微物鏡成像效果。

技術領域

本發明涉及顯微鏡技術領域，具體涉及一種用于顯微物鏡裝調及檢測的顯微成像系統。

背景技術

近年來，隨著基因測序、超分辨顯微成像及病理切片技術的發展，高端顯微系統的需求日益增長。高端顯微系統的發展對其核心部件顯微物鏡的質量提出了更高的要求。

顯微物鏡的裝調及檢測是保證顯微物鏡質量的關鍵。顯微物鏡裝調和檢測通常需要借助傳統光學顯微鏡，通過對顯微物鏡各視場的點擴散函數及傳遞函數進行定性或定量測試，獲得顯微物鏡各項像差大小，進而通過頂絲調整顯微物鏡中敏感鏡片的方位，對顯微物鏡像差進行調校，獲得最佳的成像質量。

然而，市場上現有的成品顯微鏡主要面向普通用戶，其結構滿足普通用戶需求即可，成品顯微鏡結構緊湊，其上的管鏡固定在顯微鏡主體上，管鏡不可更換，因此如果借助成品顯微鏡裝配和調校特殊的顯微物鏡，因物鏡和管鏡不匹配，以及不同顯微物鏡的工作波段不同，會存在特殊物鏡齊焦距離與顯微鏡調焦距離不匹配、特殊顯微物鏡出瞳與顯微鏡管鏡入瞳不匹配、以及特殊顯微物鏡光譜與顯微鏡光源不匹配等技術問題，不能達到最佳的顯微成像效果。

例如，當研制寬光譜、長工作距、不同浸液介質、大視場等特殊平場復消色差顯微物鏡時，受照明條件、工作距、操作空間等限制，現有的成品顯微鏡沒有一款能同時滿足上述顯微物鏡的裝配需求。

發明內容

因此，本發明要解決的技術問題在于克服現有技術中的成品顯微鏡無法滿足特殊顯微物鏡的裝配和調校、導致特殊顯微物鏡成像效果差的缺陷。

為此，本發明提供一種用于顯微物鏡裝調及檢測的顯微成像系統，包括

立柱和第一底座，所述立柱設置在所述第一底座上；

觀察切換裝置和管鏡，所述觀察切換裝置可上下滑動地設于所述立柱上；所述管鏡通過第一轉接件可拆卸地設置在所述觀察切換裝置上；所述觀察切換裝置上設有探測機構；

物鏡轉換裝置和顯微物鏡，所述物鏡轉換裝置可上下滑動地設于所述立柱上；所述顯微物鏡通過第二轉接件可拆卸地設置在所述物鏡轉換裝置上；

像差調校裝置，可相對所述立柱上下滑動地設于所述立柱上；所述像差調校裝置用于對所述顯微物鏡進行像差調校；

照明裝置，其包括光源模塊和照明模塊，所述光源模塊設于所述第一底座內，所述光源模塊適于提供不同波長的光源；照明模塊設于所述第一底座上并位于所述光源模塊頂部；所述管鏡、顯微物鏡、像差調校裝置、照明模塊的軸線均與主光軸重合；

載物臺，可上下滑動地設于所述立柱上；所述載物臺位于所述照明模塊頂部。

可選地，上述的用于顯微物鏡裝調及檢測的顯微成像系統，所述光源模塊包括多個不同波長的光源和第一轉盤；

所述第一轉盤可轉動地設于所述第一底座上；所述第一轉盤上設有與所述光源數量對應的安裝腔，多個所述安裝腔分布在同一圓周上，所述光源設于所述安裝腔內，轉動所述第一轉盤以將所需波長的光源轉動至主光路上。