[發(fā)明專利]數(shù)據(jù)輸入電路和包括數(shù)據(jù)輸入電路的存儲器裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011112570.1
• 申請日: 2020-10-16
• 公開（公告）號: CN113409877A
• 公開（公告）日: 2021-09-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 樸憐浚;丘泳埈;樸明宰;樸智煥;崔錫佑
• 申請（專利權(quán)）人: 愛思開海力士有限公司
• 主分類號: G11C29/12
• 分類號: G11C29/12
• 代理公司: 北京市金杜律師事務(wù)所 11256
• 代理人: 崔卿虎

本文描述了數(shù)據(jù)輸入電路和包括數(shù)據(jù)輸入電路的存儲器裝置。存儲器裝置包括多個數(shù)據(jù)輸入焊盤和至少一個測試數(shù)據(jù)輸入焊盤。存儲器裝置還包括與多個通道分別相對應(yīng)的多個數(shù)據(jù)輸入電路，多個數(shù)據(jù)輸入電路適于將通過數(shù)據(jù)輸入焊盤接收的相應(yīng)數(shù)據(jù)傳輸?shù)綄?yīng)的通道。存儲器裝置進(jìn)一步包括測試控制電路，測試控制電路適于在測試操作期間，基于測試模式信息來在多個數(shù)據(jù)輸入電路之中選擇至少一個數(shù)據(jù)輸入電路，并且適于控制所選擇的數(shù)據(jù)輸入電路以將設(shè)定數(shù)據(jù)傳輸?shù)綄?yīng)的通道。

相關(guān)申請的交叉引用

本申請要求于2020年3月17日提交的韓國專利申請?zhí)?0-2020-0032629的優(yōu)先權(quán)，其全部內(nèi)容通過引用并入本文。

技術(shù)領(lǐng)域

本公開的實(shí)施例涉及存儲器裝置，并且更具體地涉及通過測試數(shù)據(jù)輸入焊盤來接收測試數(shù)據(jù)的存儲器裝置。

背景技術(shù)

隨著半導(dǎo)體存儲器技術(shù)的飛速發(fā)展，在封裝半導(dǎo)體存儲器裝置中需要高水平的集成度和性能。為了滿足這種需求，研究人員和工業(yè)界正在開發(fā)與三維結(jié)構(gòu)而不是二維結(jié)構(gòu)相關(guān)的各種技術(shù)，在三維結(jié)構(gòu)中，多個半導(dǎo)體存儲器芯片被垂直堆疊，在二維結(jié)構(gòu)中，半導(dǎo)體存儲器芯片使用導(dǎo)線或凸塊而被平面地設(shè)置在印刷電路板(PCB)上。

此外，隨著半導(dǎo)體存儲器裝置的操作速度增加，系統(tǒng)級封裝(SIP)形式的半導(dǎo)體存儲器系統(tǒng)被廣泛使用，在系統(tǒng)級封裝形式中，諸如中央處理單元(CPU)或圖形處理單元(GPU)的存儲器控制器和半導(dǎo)體存儲器裝置被集成到一個封裝中。由于堆疊結(jié)構(gòu)或SIP結(jié)構(gòu)的半導(dǎo)體存儲器裝置的焊盤沒有暴露于半導(dǎo)體存儲器裝置的外部，因此難以通過使用測試設(shè)備的引腳來執(zhí)行直接測試。

因此，半導(dǎo)體存儲器裝置可以被提供有用于測試的附加焊盤。不可避免地，集成且小型化的半導(dǎo)體存儲器裝置的測試焊盤的數(shù)目可能受到限制，導(dǎo)致需要開發(fā)能夠利用有限數(shù)目的測試焊盤來測試半導(dǎo)體存儲器裝置的技術(shù)。

發(fā)明內(nèi)容

本教導(dǎo)的一些實(shí)施例針對能夠以各種模式設(shè)置和復(fù)制輸入數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)輸入電路、以及包括數(shù)據(jù)輸入電路的存儲器裝置。

根據(jù)本公開的一個實(shí)施例，一種存儲器裝置包括多個數(shù)據(jù)輸入焊盤和至少一個測試數(shù)據(jù)輸入焊盤。存儲器裝置還包括與多個通道分別相對應(yīng)的多個數(shù)據(jù)輸入電路，多個數(shù)據(jù)輸入電路適于將通過數(shù)據(jù)輸入焊盤接收的相應(yīng)數(shù)據(jù)傳輸?shù)綄?yīng)的通道。存儲器裝置進(jìn)一步包括測試控制電路，測試控制電路適于在測試操作期間，基于測試模式信息來在多個數(shù)據(jù)輸入電路之中選擇至少一個數(shù)據(jù)輸入電路，并且適于控制所選擇的數(shù)據(jù)輸入電路以將設(shè)定數(shù)據(jù)傳輸?shù)綄?yīng)的通道。

根據(jù)本公開的另一實(shí)施例，一種存儲器裝置包括至少一個測試數(shù)據(jù)輸入焊盤。存儲器裝置還包括測試控制電路，測試控制電路適于響應(yīng)于在測試操作期間激活的測試使能信號，基于測試模式信息來生成第一控制信號和多個第二控制信號。存儲器裝置進(jìn)一步包括與多個通道分別相對應(yīng)的多個數(shù)據(jù)輸入電路，多個數(shù)據(jù)輸入電路適于響應(yīng)于第一控制信號和多個第二控制信號，將設(shè)定數(shù)據(jù)或通過至少一個測試數(shù)據(jù)輸入焊盤接收的測試數(shù)據(jù)分別傳輸?shù)綄?yīng)的通道。

根據(jù)本公開的又一實(shí)施例，一種存儲器裝置包括基部管芯和堆疊在基部管芯之上的多個核心管芯。基部管芯包括至少一個測試數(shù)據(jù)輸入焊盤。基部管芯還包括多個數(shù)據(jù)輸入電路，多個數(shù)據(jù)輸入電路適于在測試操作期間，復(fù)制通過至少一個測試數(shù)據(jù)輸入焊盤接收的測試數(shù)據(jù)，并且適于將所復(fù)制的測試數(shù)據(jù)傳輸至核心管芯。基部管芯進(jìn)一步包括測試控制電路，測試控制電路適于在測試操作期間，基于測試模式信息來在多個數(shù)據(jù)輸入電路之中選擇至少一個數(shù)據(jù)輸入電路，并且適于控制所選擇的數(shù)據(jù)輸入電路以將設(shè)定數(shù)據(jù)傳輸?shù)胶诵墓苄尽?/p>

附圖說明

圖1是圖示根據(jù)本公開的一個實(shí)施例的存儲器系統(tǒng)的平面圖。

圖2是圖示圖1所示的存儲器系統(tǒng)的截面圖。

圖3是圖示圖1所示的存儲器裝置的框圖。