[發明專利]毫米波雷達自動校準系統與方法在審
| 申請號: | 202011112204.6 | 申請日: | 2020-10-16 |
| 公開(公告)號: | CN112198485A | 公開(公告)日: | 2021-01-08 |
| 發明(設計)人: | 紀永飛;岳靚;韓邵君;屈操;閆紅宇;梅靜棟 | 申請(專利權)人: | 無錫威孚高科技集團股份有限公司 |
| 主分類號: | G01S7/40 | 分類號: | G01S7/40 |
| 代理公司: | 無錫市大為專利商標事務所(普通合伙) 32104 | 代理人: | 曹祖良;屠志力 |
| 地址: | 214028 *** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 毫米波 雷達 自動 校準 系統 方法 | ||
本發明提供一種毫米波雷達自動校準方法,適用于一種毫米波雷達自動校準系統,包括:根據設計的接收天線間距和波長值計算出接收天線標準相位信息;毫米波雷達實際探測目標進行處理得到一維FFT數據,該一維FFT數據包含接收天線實際相位信息,通過計算實際相位和標準相位的相位差信息,用于校準后的相位信息補償。本發明通過自動進行多次校準計算,對計算結果進行均值處理,得到毫米波雷達校準相位陣列,并自動更新到毫米波雷達中。
技術領域
本發明屬于雷達校準技術領域,具體涉及一種毫米波雷達自動校準方法。
背景技術
毫米波雷達具有頻率高、波長短、頻帶寬、體積小、重量輕、隱蔽性和機動性好等特點,在車載、制導、軍事等領域具有非常光明的應用前景。毫米波雷達是利用目標對電磁波的反射來發現并測定目標位置的。通常,為了提高角度分辨率,毫米波雷達采用多接收天線的布局,通過計算接收天線相位,得到目標角度信息。
但是,由于天線存在加工誤差、工藝差異、材料差異等,實際的天線參數同設計參數往往存在較大的差異,這會導致接收天線相位發生改變。故,需要對相位進行校準,實現對毫米波雷達測角的修正。
在傳統的雷達校準方法中,使用目標模擬器來執行毫米波雷達的相位校準。然而,由于目標模擬器本身存在系統誤差,以及雷達探測目標也存在誤差,因此,通過單次測試不能精確計算并存儲用于毫米波雷達校準相位陣列。
發明內容
本發明的目的是在于克服現有技術中存在的不足,提供一種毫米波雷達自動校準方法,通過自動進行多次校準計算,對計算結果進行均值處理,得到毫米波雷達校準相位陣列,并自動更新到毫米波雷達中。
本發明實施例采用的技術方案是:
本發明實施例提出一種毫米波雷達自動校準系統,包括:目標模擬器、上位機、測試轉臺、底座;
上位機分別與目標模擬器和毫米波雷達連接;測試轉臺安裝在底座上,毫米波雷達安裝在測試轉臺上,能夠跟隨測試轉臺一起水平和俯仰轉動;目標模擬器設置在毫米波雷達前方數米處。
進一步地,測試轉臺的水平和俯仰角度經過零位校準。
本發明實施例還提出一種毫米波雷達自動校準方法,適用于如上文所述的毫米波雷達自動校準系統,包括:
根據設計的接收天線間距和波長值計算出接收天線標準相位信息;毫米波雷達實際探測目標進行處理得到一維FFT數據,該一維FFT數據包含接收天線實際相位信息,通過計算實際相位和標準相位的相位差信息,用于校準后的相位信息補償。
進一步地。該方法具體包括以下步驟:
S1.毫米波雷達中的存儲器中預設相位參數矩陣Pa;
S4.通過上位機設置目標模擬器的系統參數;
S5.在上位機中設置模擬目標參數,包括:開始距離Rs、結束距離Rf、速度Vt、校準源角度At、雷達散射截面積RCS;開始模擬,模擬目標以Vt的速度沿著角度At從Rs對應的位置往Rf對應的位置運動;其中設置的模擬目標參數要在毫米波雷達目標探測范圍內;
S6.開始模擬的同時,上位機將模擬目標參數發送給毫米波雷達;
S7.毫米波雷達的處理器,根據n根接收天線間距陣列D=[0,d1,…,dn-1],波長為λ,校準源角度為At,計算出標準方向陣列AR=exp(-i*2*π*D*sin(At)/λ),其中i為虛數單位;
S8.根據當前毫米波雷達探測的目標距離值Rt,計算對應在一維FFT數據中的距離維坐標Rc=目標距離值Rt/距離分辨率Rd,其中Rd=光速c/(2*有效帶寬B);
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