[發(fā)明專利]一種天線組件及其設(shè)計(jì)方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011110998.2 | 申請日: | 2020-10-16 |
| 公開(公告)號: | CN112257247A | 公開(公告)日: | 2021-01-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 瞿楊雄 | 申請(專利權(quán))人: | 昆山睿翔訊通通信技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | G06F30/20 | 分類號: | G06F30/20;H01Q1/36;H01Q1/50 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 215300 江蘇省蘇州市*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 天線 組件 及其 設(shè)計(jì) 方法 | ||
1.一種天線組件的設(shè)計(jì)方法,其特征在于,包括:
步驟一,建立天線支架;
步驟二,在所述天線支架的表面上設(shè)計(jì)天線,包括設(shè)計(jì)所述天線中天線主體的走線和地點(diǎn)的設(shè)置位置;
步驟三,設(shè)計(jì)衍生枝節(jié),所述衍生枝節(jié)的一端與所述地點(diǎn)相連,所述衍生枝節(jié)用以與所述天線主體發(fā)生寄生耦合;
步驟四,測試所述天線的SAR分布,并在所述天線上標(biāo)記出SAR峰值區(qū)域;
步驟五,調(diào)整所述衍生枝節(jié),并使所述衍生枝節(jié)穿過所述天線支架后繞回至所述天線主體的側(cè)邊;
步驟六,再次測試所述天線的SAR分布,并確認(rèn)所述SAR峰值區(qū)域的峰值是否滿足要求,若滿足要求,則輸出設(shè)計(jì)方案;若不滿足要求,則重復(fù)步驟四至步驟五。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的天線組件的設(shè)計(jì)方法,其特征在于,所述調(diào)整所述衍生枝節(jié)的方法包括:調(diào)整所述衍生枝節(jié)的走線寬度、走線長度、距離所述天線主體的距離和/或與所述天線主體的相對位置。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的天線組件的設(shè)計(jì)方法,其特征在于,所述衍生枝節(jié)在所述天線支架表面上的垂直投影與所述SAR峰值區(qū)域交叉。
4.一種利用如權(quán)利要求1~3任一項(xiàng)所述的天線組件的設(shè)計(jì)方法設(shè)計(jì)的天線組件,其特征在于,所述天線組件包括天線支架和天線,所述天線支架包括相對設(shè)置的第一表面和第二表面,所述天線包括天線主體和衍生枝節(jié),所述天線主體位于所述天線支架的第一表面,所述天線主體包括地點(diǎn),所述衍生枝節(jié)的一端和所述地點(diǎn)相連,所述衍生枝節(jié)穿過所述天線支架至所述天線支架的第二表面,并從所述第二表面穿回至所述第一表面,所述衍生枝節(jié)用于與所述天線主體發(fā)生寄生耦合。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的天線組件,其特征在于,所述天線主體還包括饋電點(diǎn),所述饋電點(diǎn)和所述地點(diǎn)之間的所述天線主體的部分為SAR峰值區(qū)域。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的天線組件,其特征在于,所述衍生枝節(jié)在所述第一表面上的垂直投影與所述SAR峰值區(qū)域交叉。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的天線組件,其特征在于,位于所述第一表面上的所述衍生枝節(jié)至少部分與所述SAR峰值區(qū)域的至少部分區(qū)域平行設(shè)置。
8.根據(jù)權(quán)利要求4所述的天線組件,其特征在于,所述天線主體為LOOP型天線,所述衍生枝節(jié)位于所述LOOP天線的外側(cè)。
9.根據(jù)權(quán)利要求4所述的天線組件,其特征在于,所述天線為LDS天線,利用LDS工藝將所述天線形成在所述天線支架中。
10.根據(jù)權(quán)利要求4所述的天線組件,其特征在于,所述天線為金屬天線,利用鑲件注塑工藝將所述天線與所述天線支架一體成型注塑。
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