[發明專利]一種抑制調制紋波的LC諧振磁通門漏電流檢測方法

在審

• 申請號: 202011108660.3
• 申請日: 2020-10-16
• 公開（公告）號: CN112269050A
• 公開（公告）日: 2021-01-26
• 發明（設計）人: 馬慧卓;安琪;蘇陽;張亞杰;臧志斌;李波;許志國
• 申請（專利權）人: 國網河北省電力有限公司雄安新區供電公司;國網思極神往位置服務（北京）有限公司;國家電網有限公司
• 主分類號: G01R19/00
• 分類號: G01R19/00;G01R31/52;G01R31/56
• 代理公司: 南京縱橫知識產權代理有限公司 32224
• 代理人: 董建林

1.一種抑制調制紋波的LC諧振磁通門漏電流檢測方法，用于獲得純凈的漏電流信號，其特征在于，包括以下步驟：

步驟S1：激磁電流i_ex1包括與基波和奇次諧波頻率相同的第一高頻分量和由被測電流產生的第一直流分量；

步驟S2：激磁電流i_ex2包括與基波和奇次諧波頻率相同的第二高頻分量和由被測電流產生的第二直流分量；

步驟S3：激磁電流i_ex1的第一高頻分量和激磁電流i_ex2的第二高頻分量之間幅值相等而相位相反，并且將激磁電流i_ex1和激磁電流i_ex2通過求和電路Sum1，以將第一高頻分量和第二高頻分量抵消；

步驟S4：將通過求和電路Sum1的激磁電流i_ex1和激磁電流i_ex2再通過低通濾波器LPF進行進一步衰減，以獲得純凈的漏電流信號V_dc。

2.根據權利要求1所述的一種抑制調制紋波的LC諧振磁通門漏電流檢測方法，其特征在于，步驟S1具體實施為以下步驟：

步驟S1.1：與基波和奇次諧波頻率相同的第一高頻分量和由被測電流產生的第一直流分量均由激磁電流采樣電阻R_S1上的電壓V_sn1產生。

3.根據權利要求2所述的一種抑制調制紋波的LC諧振磁通門漏電流檢測方法，其特征在于，步驟S2具體實施為以下步驟：

步驟S2.1：與基波和奇次諧波頻率相同的第二高頻分量和由被測電流產生的第二直流分量均由激磁電流采樣電阻R_S2上的電壓V_sn2產生；

步驟S2.2：激磁電流i_ex2通過第一處理后濾除第二直流分量，而將第二高頻分量保留并且未被衰減。

4.根據權利要求3所述的一種抑制調制紋波的LC諧振磁通門漏電流檢測方法，其特征在于，步驟S2.2具體實施為以下步驟：

步驟S2.2.1：激磁電流i_ex2中由被測電流產生的第二直流分量并不與被測電流呈線性關系，以將第二直流分量判斷為無用直流分量；

步驟S2.2.2：將激磁電流i_ex2通過高通濾波器HPL，以將第二直流分量濾除，并且將第二高頻分量保留并且未被衰減。

5.根據權利要求4所述的一種抑制調制紋波的LC諧振磁通門漏電流檢測方法，其特征在于，步驟S3具體實施為以下步驟：

步驟S3.1：降低激磁電流采樣電阻R_S1和R_S2；

步驟S3.2：降低激磁電流i_ex1和激磁電流i_ex2的峰值。