[發(fā)明專利]一種在WES數(shù)據(jù)中檢測(cè)單樣本SMN基因拷貝數(shù)的方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011107940.2 | 申請(qǐng)日: | 2020-10-16 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112435710A | 公開(公告)日: | 2021-03-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 余偉師;梁萌萌;鮑遠(yuǎn)亮;栗海波;賀洪鑫 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 賽福解碼(北京)基因科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G16B20/10 | 分類號(hào): | G16B20/10 |
| 代理公司: | 南京九致知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 32307 | 代理人: | 嚴(yán)巧巧 |
| 地址: | 100089 北京市海*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 wes 數(shù)據(jù) 檢測(cè) 樣本 smn 基因 拷貝 方法 | ||
1.一種在WES數(shù)據(jù)中檢測(cè)單樣本SMN基因拷貝數(shù)的方法,其特征在于:
S1、收集不同批次WES數(shù)據(jù)的已知SMN基因?qū)嶋H拷貝數(shù)的陰性樣本和已知SMN基因?qū)嶋H拷貝數(shù)的陽性樣本,在全外顯子Bed區(qū)間內(nèi)尋找與SMN基因拷貝數(shù)高相關(guān)性的對(duì)照區(qū)間;
S2、利用所述對(duì)照區(qū)間的resds覆蓋度校正所述陰性樣本和陽性樣本間的批次效應(yīng),定義所述不同批次WES數(shù)據(jù)的已知SMN基因?qū)嶋H拷貝數(shù)的陰性樣本和已知SMN基因?qū)嶋H拷貝數(shù)的陽性樣本為所有樣本,計(jì)算所述所有樣本的SMN1基因的相應(yīng)拷貝數(shù)時(shí)的P1值分布范圍和SMN2基因的相應(yīng)拷貝數(shù)時(shí)的P2值分布范圍;
統(tǒng)計(jì)所述所有樣本中已經(jīng)驗(yàn)證為是靜默攜帶者的樣本的7號(hào)內(nèi)含子的g.27134TG位點(diǎn)的校正后覆蓋度P_silent值分布范圍;
S3、計(jì)算單個(gè)測(cè)試樣本的SMN1基因的7號(hào)外顯子和8號(hào)外顯子的p1值、SMN2基因的7號(hào)外顯子和8號(hào)外顯子的p2值,根據(jù)S2中計(jì)算所得的P1值和P2值的分布范圍判斷本步驟中p1值和p2值所對(duì)應(yīng)的SMN1基因和SMN2基因的拷貝數(shù);
統(tǒng)計(jì)單個(gè)測(cè)試樣本的7號(hào)內(nèi)含子上的g.27134TG位點(diǎn)的覆蓋度p_silent值;根據(jù)所述p_silent值和所述單個(gè)測(cè)試樣本的SMN1基因的拷貝數(shù),判斷該單個(gè)測(cè)試樣本靜默攜帶者的狀態(tài):
當(dāng)p_silent值在S2中計(jì)算的P_silent值分布范圍內(nèi)且所述單個(gè)測(cè)試樣本的SMN1基因的拷貝數(shù)是2時(shí),判斷所述單個(gè)測(cè)試樣本為靜默攜帶者;
當(dāng)p_silent值在S2中計(jì)算的P_silent值分布范圍內(nèi)但所述單個(gè)測(cè)試樣本的SMN1基因的拷貝數(shù)不是2,判斷所述單個(gè)測(cè)試樣本為疑似靜默攜帶者;
其他情況時(shí)均判斷所述單個(gè)測(cè)試樣本為非靜默攜帶者。
2.如權(quán)利要求1所述的在WES數(shù)據(jù)中檢測(cè)單樣本SMN基因拷貝數(shù)的方法,其特征在于:所述S1中尋找所述對(duì)照區(qū)間的步驟包括:
S101、用MLPA平臺(tái)驗(yàn)證所述所有樣本的SMN1基因和SMN2基因的實(shí)際拷貝數(shù),使用生信分析流程進(jìn)行處理后得到Bam文件;
S102、預(yù)先篩選出兩拷貝基因的Bed區(qū)間,統(tǒng)計(jì)所述所有樣本在全外顯子組的Bed區(qū)間內(nèi)的覆蓋度;
S103、把所述所有樣本的覆蓋度校正到100X,得到樣本校正后覆蓋度;
S104、根據(jù)所述所有樣本校正后覆蓋度計(jì)算相關(guān)性和方差,查找相關(guān)性好且方差值低的Bed區(qū)間作為對(duì)照區(qū)間。
3.如權(quán)利要求2所述的在WES數(shù)據(jù)中檢測(cè)單樣本SMN基因拷貝數(shù)的方法,其特征在于:所述對(duì)照區(qū)間為相關(guān)性好且方差值低的前5個(gè)Bed區(qū)間。
4.如權(quán)利要求3所述的在WES數(shù)據(jù)中檢測(cè)單樣本SMN基因拷貝數(shù)的方法,其特征在于:所述S2的步驟包括:
S201、統(tǒng)計(jì)所述所有樣本在SMN1基因和SMN2基因的7號(hào)外顯子和8號(hào)外顯子的總覆蓋度并校正,得到SMN1基因和SMN2基因7號(hào)外顯子和8號(hào)外顯子的校正后總覆蓋度;
S202、統(tǒng)計(jì)所述所有樣本在5個(gè)所述對(duì)照區(qū)間的總覆蓋度并校正,得到對(duì)照區(qū)間的校正覆蓋度均值;
S203、統(tǒng)計(jì)所述所有樣本的3個(gè)點(diǎn)突變的覆蓋度并校正,得到3個(gè)點(diǎn)突變的校正后覆蓋度;所述3個(gè)點(diǎn)突變的覆蓋度包括7號(hào)外顯子上的c.840CT位點(diǎn)的覆蓋度、8號(hào)外顯子上的c.*239GA位點(diǎn)的覆蓋度和7號(hào)內(nèi)含子上的g.27134TG位點(diǎn)的覆蓋度;計(jì)算SMN1基因的校正后覆蓋度在7號(hào)外顯子、8號(hào)外顯子的ratio值;計(jì)算SMN2基因的的校正后覆蓋度在7號(hào)外顯子、8號(hào)外顯子的ratio值;
S204、根據(jù)所述SMN1基因和SMN2基因的7號(hào)外顯子和8號(hào)外顯子的校正后總覆蓋度、對(duì)照區(qū)間的校正覆蓋度均值、所述ratio值,計(jì)算SMN1基因的7號(hào)外顯子的拷貝數(shù)p_e7_s1值和8號(hào)外顯子的拷貝數(shù)p_e8_s1值;計(jì)算SMN2基因的7號(hào)外顯子的拷貝數(shù)p_e7_s2值和8號(hào)外顯子的拷貝數(shù)p_e8_s2值;根據(jù)p_e7_s1值和p_e8_s1值計(jì)算p1值;根據(jù)p_e7_s2值和p_e8_s2值計(jì)算p2值;所述所有樣本根據(jù)相應(yīng)拷貝數(shù)統(tǒng)計(jì)的p1值的分布范圍為P1,所述所有樣本根據(jù)相應(yīng)拷貝數(shù)統(tǒng)計(jì)的p2值的分布范圍為P2。
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