[發明專利]晶振的時鐘頻率的校準方法、裝置及電子設備

有效

• 申請號: 202011107224.4
• 申請日: 2020-10-16
• 公開（公告）號: CN112383301B
• 公開（公告）日: 2023-03-24
• 發明（設計）人: 陳昊然;姜濱;遲小羽
• 申請（專利權）人: 歌爾科技有限公司
• 主分類號: H03L1/02
• 分類號: H03L1/02;H03L7/24;H04J3/06;G01S19/14
• 代理公司: 北京博雅睿泉專利代理事務所(特殊普通合伙) 11442
• 代理人: 吳秀娥

1.一種晶振的時鐘頻率的校準方法，其特征在于，應用于電子設備，所述方法包括：

在所述電子設備定位成功后，啟動晶振校準流程；

所述晶振校準流程包括：控制所述電子設備執行升溫指令；以及，在所述電子設備的設備溫度的升高幅度達到第一幅度閾值時，對所述電子設備的晶振的時鐘頻率進行校準；

其中，所述晶振校準流程包括依序排列的三個校準階段，所述啟動晶振校準流程包括：依序執行每一所述校準階段；

所述執行每一所述校準階段包括：

確定與當前校準階段對應的目標信號量；

在接收到的衛星信號的信號量達到目標信號量時，控制所述電子設備執行升溫指令；以及，

在所述電子設備的設備溫度的升高幅度達到第一幅度閾值時，根據所述衛星信號對所述晶振的時鐘頻率進行一次校準。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在執行每一所述校準階段之后，所述方法還包括：

獲取所述電子設備的設備溫度；

在所述設備溫度達到預設的第一溫度時，獲取當前校準階段對應的校準結果。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，在獲取當前校準階段對應的校準結果之后，所述方法還包括：

比較當前校準階段對應的校準結果與預存的當前校準階段對應的目標校準結果；

在所述當前校準階段對應的校準結果與預存的當前校準階段對應的目標校準結果一致的情況下，確定當前校準階段校準成功；

在確定當前校準階段校準成功之后，進入下一校準階段；

在確定最后一個校準階段校準成功之后，確定晶振校準成功，并結束所述晶振校準流程。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

在所述當前校準階段對應的校準結果與預存的當前校準階段對應的目標校準結果一致的情況下，確定當前校準階段校準失敗。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

在確定當前校準階段校準失敗的情況下，判斷校準時長是否超過預設的時間閾值；

在所述校準時長未超過預設的時間閾值的情況下，重新啟動晶振校準流程；

在所述校準時長超過預設的時間閾值的情況下，確定晶振校準失敗，并結束所述晶振校準流程。

6.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

在確定當前校準階段校準失敗的情況下，判斷當前校準階段的校準次數是否超過預設的次數閾值；

在所述校準次數未超過預設的次數閾值的情況下，重新啟動晶振校準流程；

在所述校準次數超過預設的次數閾值的情況下，確定晶振校準失敗，并結束所述晶振校準流程。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：接收衛星信號的步驟；

所述接收衛星信號，包括：

控制所述電子設備執行升溫指令；

在所述電子設備的設備溫度達到預設的第二溫度時，接收衛星信號。

8.一種晶振的時鐘頻率的校準裝置，其特征在于，包括：

校準模塊，用于在所述電子設備定位成功后，啟動晶振校準流程；

所述校準模塊，包括：

升溫單元，用于控制所述電子設備執行升溫指令；

校準單元，用于在所述電子設備的設備溫度的升高幅度達到第一幅度閾值時，對所述電子設備的晶振的時鐘頻率進行校準；

其中，所述晶振校準流程包括依序排列的三個校準階段，所述校準模塊，具體用于依序執行每一所述校準階段；所述執行每一所述校準階段包括：確定與當前校準階段對應的目標信號量；在接收到的衛星信號的信號量達到目標信號量時，控制所述電子設備執行升溫指令；以及，在所述電子設備的設備溫度的升高幅度達到第一幅度閾值時，根據所述衛星信號對所述晶振的時鐘頻率進行一次校準；

或者，

包括存儲器和處理器，所述存儲器用于存儲可執行的指令；所述處理器用于根據所述指令的控制進行操作以執行如權利要求1至7中任一項所述的方法。

9.一種電子設備，其特征在于，包括定位模塊和如權利要求8所述的晶振的時鐘頻率的校準裝置。