[發明專利]一種電子產品表面靜電檢測電路以及方法

在審

• 申請號: 202011106245.4
• 申請日: 2020-10-15
• 公開（公告）號: CN114371327A
• 公開（公告）日: 2022-04-19
• 發明（設計）人: 溫安安;黃宇
• 申請（專利權）人: 深圳長城開發科技股份有限公司
• 主分類號: G01R19/00
• 分類號: G01R19/00
• 代理公司: 深圳市順天達專利商標代理有限公司 44217
• 代理人: 郭偉剛;張蓉

1.一種電子產品表面靜電檢測電路，其特征在于，包括：

探頭，用于耦合式靜電檢測；

正向處理電路，與所述探頭連接，用于對探頭檢測到的靜電信號進行阻抗變換、放大處理、電壓抬升處理；

反向處理電路，與所述探頭連接，用于對探頭檢測到的靜電信號進行阻抗變換、反向放大處理；

微控制單元，其第一ADC檢測引腳連接所述正向處理電路，其第二ADC檢測引腳連接所述反向處理電路，所述微控制單元用于根據第一ADC檢測引腳、第二ADC檢測引腳檢測到的電壓確定靜電信號。

2.根據權利要求1所述的電子產品表面靜電檢測電路，其特征在于，所述的根據第一ADC檢測引腳、第二ADC檢測引腳檢測到的電壓確定靜電信號，包括：

如果第一ADC檢測引腳檢測到有效正電壓，則確定探頭檢測到的是正靜電信號，并將檢測到的有效正電壓減去第一基準電壓得到第一電壓，基于預先校準確定的轉換關系，將所述第一電壓轉換為對應的正靜電信號的電壓，所述第一基準電壓是探頭空檢時第一ADC檢測引腳檢測到電壓；

如果第一ADC檢測引腳檢測到有效正電壓，則確定探頭檢測到的是負靜電信號，并將檢測到的有效正電壓減去第二基準電壓得到第二電壓，基于預先校準確定的轉換關系，將所述第二電壓轉換為對應的負靜電信號的電壓，所述第二基準電壓是探頭空檢時第二ADC檢測引腳檢測到電壓。

3.根據權利要求1所述的電子產品表面靜電檢測電路，其特征在于，所述正向處理電路包括：

第一阻抗變換電路，與探頭連接，用于將探頭檢測到的高阻抗的靜電信號轉換為低阻抗的靜電信號；

前置正向放大電路，與所述第一阻抗變換電路連接，用于將第一阻抗變換電路輸出的微弱的靜電信號進行正向等比例放大；

電壓抬升電路，連接所述前置正向放大電路和微控制單元的第一ADC檢測引腳，用于將前置正向放大電路輸出的靜電信號抬升一個基準值，所述基準值使得經過阻抗變換、放大處理后的探頭上的默認負壓可以被抬升為微控制單元可識別的正電壓。

4.根據權利要求1所述的電子產品表面靜電檢測電路，其特征在于，所述反向處理電路包括：

第二阻抗變換電路，與探頭連接，用于將探頭檢測到的高阻抗的靜電信號轉換為低阻抗的靜電信號；

前置反向放大電路，連接所述第二阻抗變換電路連接和微控制單元的第二ADC檢測引腳，用于將第二阻抗變換電路輸出的微弱的靜電信號進行反向等比例放大。

5.根據權利要求4所述的電子產品表面靜電檢測電路，其特征在于，所述反向處理電路還包括：

瞬間電壓處理電路，連接所述前置反向放大電路與所述微控制單元的第二ADC檢測引腳，用于將前置反向放大電路放大后的信號的瞬間電壓處理掉后再送往所述微控制單元的第二ADC檢測引腳。

6.一種電子產品表面靜電檢測方法，其特征在于，包括：

探頭檢測靜電信號；

正向處理電路對探頭檢測到的靜電信號進行阻抗變換、放大處理、電壓抬升處理；

反向處理電路對探頭檢測到的靜電信號進行阻抗變換、反向放大處理；

微控制單元根據與正向處理電路連接的第一ADC檢測引腳、與反向處理電路連接的第二ADC檢測引腳檢測到的電壓確定靜電信號。

7.根據權利要求6所述的電子產品表面靜電檢測方法，其特征在于，所述的根據第一ADC檢測引腳、第二ADC檢測引腳檢測到的電壓確定靜電信號，包括：

如果第一ADC檢測引腳檢測到有效正電壓，則確定探頭檢測到的是正靜電信號，并將檢測到的有效正電壓減去第一基準電壓得到第一電壓，基于預先校準確定的轉換關系，將所述第一電壓轉換為對應的正靜電信號的電壓，所述第一基準電壓是探頭空檢時第一ADC檢測引腳檢測到電壓；

如果第一ADC檢測引腳檢測到有效正電壓，則確定探頭檢測到的是負靜電信號，并將檢測到的有效正電壓減去第二基準電壓得到第二電壓，基于預先校準確定的轉換關系，將所述第二電壓轉換為對應的負靜電信號的電壓，所述第二基準電壓是探頭空檢時第二ADC檢測引腳檢測到電壓。