[發明專利]提升審計精度的方法及系統

在審

• 申請號: 202011103618.2
• 申請日: 2020-10-15
• 公開（公告）號: CN112241512A
• 公開（公告）日: 2021-01-19
• 發明（設計）人: 王洪賀;孫永強
• 申請（專利權）人: 四川長虹電器股份有限公司
• 主分類號: G06F17/18
• 分類號: G06F17/18
• 代理公司: 成都虹橋專利事務所(普通合伙) 51124
• 代理人: 吳中偉

1.提升審計精度的方法，其特征在于，包括：

步驟(1)、對數據進行預處理，確定審計數據；

步驟(2)、對審計數據運用格拉布斯檢驗法剔除異常值，進行數據清洗；

步驟(3)、根據清洗之后的數據建立正態分布模型并進行仿真；

步驟(4)、在仿真過程中，引入偏度以及峰度模型修正正態分布模型提升審計精度。

2.根據權利要求1所述的提升審計精度的方法，其特征在于，在步驟(2)中，異常值包括：人工錄入的異常數據以及審計系統存在的異常數據。

3.根據權利要求1所述的提升審計精度的方法，其特征在于，在步驟(2)中，運用格拉布斯檢驗法剔除異常值的具體方法包括：

21、對原始審計數據進行異常值剔除以及異常離散值剔除；

22、剔除異常值及異常離散值后，確定審計數據中的最大值和最小值；

23、將最大值及最小值與審計數據均值差值最大的的值作為可疑值；

24、運用格拉布斯模型剔除可疑值，并進行二次格拉布斯模型異常值剔除。

4.根據權利要求1所述的提升審計精度的方法，其特征在于，在步驟(4)中，引入偏度模型修正正態分布模型的具體方法包括：

41A、獲取正態分布模型處理后的審計數據；

42A、根據正態分布模型處理后的審計數據建立偏度模型；

43A、根據偏度模型分析審計數據偏度，若偏度大于零，則設定偏度值對正態分布模型進行修正；若偏度小于零，則采取剔除異常值之后進行二次正態分布模型運算；

44A、對正態分布模型進行偏度修正或二次正態分布模型運算后，根據仿真結果調整偏度系數，得到最優審計數據。

5.根據權利要求4所述的提升審計精度的方法，其特征在于，在步驟44A中，得到最優審計數據的具體方法包括：根據仿真結果調整偏度系數，再次對正態分布模型進行偏度修正，然后通過修正后的正態分布模型對審計數據進行處理，得到最優審計數據。

6.根據權利要求1所述的提升審計精度的方法，其特征在于，在步驟(4)中，引入峰度模型修正正態分布模型的具體方法包括：

41B、獲取正態分布模型處理后的審計數據；

42B、根據正態分布模型處理后的審計數據建立峰度模型；

43B、根據峰度模型分析審計數據峰度，根據審計數據峰度設定峰度值修正正態分布模型；

44B、對正態分布模型進行峰度修正后，根據仿真結果調整峰度系數，得到最優審計數據。

7.根據權利要求6所述的提升審計精度的方法，其特征在于，在步驟44B中，得到最優審計數據的具體方法包括：根據仿真結果調整峰度系數，再次對正態分布模型進行偏度修正，然后通過修正后的正態分布模型對審計數據進行處理，得到最優審計數據。

8.提升審計精度的系統，其特征在于，包括：

數據預處理模塊，用于對數據進行預處理，確定審計數據；

數據清洗模塊，用于對審計數據運用格拉布斯檢驗法剔除異常值，進行數據清洗；

仿真模塊，用于根據清洗之后的數據建立正態分布模型并進行仿真；

修正模塊，用于在仿真過程中，引入偏度以及峰度模型修正正態分布模型提升審計精度。