[發明專利]一種鉆頭的放置臺、檢測裝置及檢測方法

在審

• 申請號: 202011098160.6
• 申請日: 2020-10-14
• 公開（公告）號: CN112254659A
• 公開（公告）日: 2021-01-22
• 發明（設計）人: 孫玉雙;張輝
• 申請（專利權）人: 深圳市金洲精工科技股份有限公司
• 主分類號: G01B11/06
• 分類號: G01B11/06;G01B11/26;G01N21/84;B25H1/00
• 代理公司: 深圳青年人專利商標代理有限公司 44350
• 代理人: 黃桂仕

本發明適用于檢測設備領域，公開了一種鉆頭的放置臺、檢測裝置及檢測方法，上述放置臺包括底座、調節桿、滑軌、連桿組件、滑塊組件、第一聯動組件和第二聯動組件，底座設置有調節桿和滑軌；連桿組件包括滑動連接于底座的第一連桿和第二連桿；滑塊組件包括調節滑塊、連接于調節滑塊的第一隨動滑塊和第二隨動滑塊；第一聯動組件包括第一支撐件和用于連接鉆頭的第一轉軸，第一轉軸通過第一拉繩連接于第一隨動滑塊，第二聯動組件包括第二支撐件和第二轉軸，第二轉軸通過第一拉繩連接于第二隨動滑塊，且第二轉軸通過第三拉繩連接于第一轉軸。本發明提供的一種鉆頭的放置臺、檢測裝置及檢測方法，操作簡單，適用于多種規格鉆頭的參數測量，實用性佳。

技術領域

本發明屬于檢測設備領域，尤其涉及一種鉆頭的放置臺、檢測裝置及檢測方法。

背景技術

鉆頭螺旋槽的內表面質量、芯厚和芯厚錐度等參數是評價鉆頭排屑性能的重要指標，為了觀察和檢測鉆頭螺旋槽的前述參數，需要用專業設備進行檢測。

目前，市面上大多數無損檢測設備一般是采用定點觀測，如果想得到鉆頭螺旋槽內的連續變化數據，則需要進行多次多點測量，效率低下，尤其是在觀測微鉆時，由于微鉆本身尺寸小，需要用到顯微鏡和超景深等放大設備進行觀測，在高倍放大的情況下，視野較小，且受到物體高度變化影響較大，不易實現微鉆螺旋槽內的連續整體觀測。并且，現有的檢測設備其鏡頭一般是固定設置，針對不同尺寸和型號的鉆頭，往往需要定制相關設備，成本高昂。

發明內容

本發明旨在至少解決上述技術問題之一，提供了一種鉆頭的放置臺、檢測裝置及檢測方法，其可以對鉆頭螺旋槽的各類參數進行連續觀測，操作簡單，并且可以放置臺可以結合現有的測量檢測設備，適用于多種規格鉆頭的參數測量，實用性佳。

本發明的技術方案是：一種鉆頭的放置臺，包括：

底座；

調節桿，所述調節桿連接于所述底座；

滑軌，所述滑軌設置于所述底座；

連桿組件，所述連桿組件包括可上下交錯滑動的第一連桿和第二連桿，所述第一連桿沿第一方向滑動連接于所述底座，所述第二連桿沿第二方向滑動連接于所述底座；

滑塊組件，所述滑塊組件包括調節滑塊、轉動連接于所述調節滑塊的第一隨動滑塊和轉動連接于所述調節滑塊的第二隨動滑塊，所述第一隨動滑塊滑動連接于所述第一連桿，所述第二隨動滑塊滑動連接于所述第二連桿，所述調節滑塊滑動連接于所述調節桿；

第一聯動組件，所述第一聯動組件包括第一支撐件和用于連接鉆頭的第一轉軸，所述第一支撐件連接于所述第一連桿，所述第一轉軸轉動連接于所述第一支撐件且可相對于所述第一支撐件沿軸向滑動，所述第一隨動滑塊連接有于所述第一隨動滑塊滑動時帶動所述第一轉軸轉動的第一拉繩；

第二聯動組件，所述第二聯動組件包括第二支撐件和第二轉軸，所述第二支撐件連接于所述第二連桿，所述第二轉軸轉動連接于所述第二支撐件，所述第二隨動滑塊連接有于所述第二隨動滑塊滑動時帶動所述第二轉軸轉動的第二拉繩，且所述第二轉軸連接有于轉動時帶動所述第一轉軸沿所述滑軌滑動的第三拉繩。

可選地，所述第一聯動組件還包括聯動滑塊，所述聯動滑塊滑動連接于所述滑軌，所述第一轉軸轉動穿過于所述聯動滑塊且可隨所述聯動滑塊沿所述滑軌軸向滑動，且所述第三拉繩連接于所述聯動滑塊。

可選地，所述第一聯動組件還包括第一轉動轂和第一滑輪部件，所述第一轉動轂連接于所述第一支撐件，且所述第一轉軸連接于所述第一轉動轂，所述第一滑輪部件連接于所述第一連桿，所述第一拉繩的一端連接于第一隨動滑塊，所述第一拉繩繞于所述第一滑輪部件，且所述第一拉繩的另一端連接于所述第一隨動滑塊。

可選地，所述聯動滑塊連接有用于使所述聯動滑塊復位的彈性復位件，且所述第一轉動轂設置有用于使所述第一轉動轂復位的轉動轂復位件。