[發(fā)明專利]小漏率正壓漏孔校準方法及裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011095026.0
• 申請日: 2020-10-14
• 公開（公告）號: CN112113707A
• 公開（公告）日: 2020-12-22
• 發(fā)明（設計）人: 劉貝貝;許紅;張忠立;王燦;張斯宏;金愿
• 申請（專利權）人: 上海市計量測試技術研究院
• 主分類號: G01M3/00
• 分類號: G01M3/00;G01M3/26
• 代理公司: 上海伯瑞杰知識產(chǎn)權代理有限公司 31227
• 代理人: 王一琦

1.一種小漏率正壓漏孔校準方法，其特征在于:

設置一校準室和與校準室同等材質(zhì)的參考室，二者由差壓薄膜規(guī)和截止閥隔開；

所述參考室的管路上設置一可排氣的放空閥(6)，所述校準室的管路上設置一測試閥(14)，校準室通過所述測試閥(14)與漏孔連通；

氣體量Q﹒t正比于差壓薄膜規(guī)讀數(shù)P；可得出其中Q代表漏率,t代表時間；

在校準室設置一活塞(10)，通過先測量推進活塞(10)引起的壓差，等效于漏孔流入的氣體量，計算出體積系數(shù)k；

k＝P₀·x·A/(P₂-P₁)；

其中：A為活塞截面積；x為活塞移動距離；P₁、P₂為活塞移動前后薄膜計示值；

再測量由被檢漏孔流入校準室引起的壓力P隨時間t的變化率，從而得出被檢漏孔的漏率。

2.如權利要求1所述的小漏率正壓漏孔校準方法，其特征在于:所述校準室與參考室均設置于一密閉空間內(nèi)，對所述密閉空間實施溫控。

3.如權利要求2所述的小漏率正壓漏孔校準方法，其特征在于:所述溫控采用PID控制系統(tǒng)(2)對半導體制冷恒溫控制系統(tǒng)實施溫控。

4.如權利要求1所述的小漏率正壓漏孔校準方法，其特征在于:將被校漏孔通過測試閥與校準室相連，讀取差壓薄膜計示值P1，氣動控制活塞推進一定的距離△L，讀取差壓薄膜計示值P2，則壓力變化量△P1＝P2-P1。將活塞退回原位置，讀取差壓薄膜計示值P3，△P2＝P3-P1，則由活塞推進體積引起的壓力變化量△P＝△P1-1/2△P2；如此重復測量N次，取N次測量平均值。

5.一種小漏率正壓漏孔校準裝置，其特征在于：

采用權利要求2所述的小漏率正壓漏孔校準方法；

所述活塞(10)由氣動控制裝置(16)控制，采用容柵尺(9)測量活塞行程，所述活塞(10)、氣動控制裝置(16)、容柵尺(9)構成容柵尺活塞測量系統(tǒng)；

所述密閉空間上設有半導體制冷模塊(4)，使密閉空間成為恒溫箱(5)；

所述半導體制冷恒溫控制系統(tǒng)包括依次相連的電源模塊、半導體制冷模塊、溫度檢測模塊，控制模塊同時連接電源模塊的輸入端及溫度檢測模塊的輸出端。

6.如權利要求5所述的小漏率正壓漏孔校準裝置，其特征在于：漏孔設置于一空間內(nèi)，空間內(nèi)設置一三維移動工作臺，漏孔設置于該三維移動工作臺上，便于漏孔與校準室密封連接，檢測時，用隔離蓋使漏孔、漏孔與校準裝置的連接部分與空氣隔離。

7.如權利要求5所述的小漏率正壓漏孔校準裝置，其特征在于：

在參考室管道上設置一放空閥(6)，所述放空閥(6)通過管路與外接的機械泵連接；

當下一個漏孔與上一個漏孔的氣體不同時，則在上一個漏孔檢測結束后，關閉測試閥(14)，打開截止閥(7)和放空閥(6)，開啟機械泵，快速排空校準室和參考室內(nèi)部氣體。

8.如權利要求5所述的小漏率正壓漏孔校準裝置，其特征在于：還包括數(shù)據(jù)采集與控制系統(tǒng)，所述數(shù)據(jù)采集與控制系統(tǒng)與所述PID控制系統(tǒng)(2)、差壓薄膜規(guī)(8)、三維移動工作臺信號連接。