[發明專利]一種測試LED壽命的試驗裝置

在審

• 申請號: 202011091958.8
• 申請日: 2020-10-13
• 公開（公告）號: CN112213588A
• 公開（公告）日: 2021-01-12
• 發明（設計）人: 朱蘇學
• 申請（專利權）人: 深圳永貴技術有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R31/44;G01R1/02
• 代理公司: 北京輕創知識產權代理有限公司 11212
• 代理人: 劉宇波

本發明公開了一種測試LED壽命的試驗裝置，包括高溫試驗箱1、高低溫交變濕熱試驗箱9以及控制連接的電氣控制柜8，電氣控制柜8與高溫試驗箱1、高低溫交變濕熱試驗箱9之間均設置有控制線路5，高溫試驗箱1、高低溫交變濕熱試驗箱9內均設置有封閉工作室2，高溫試驗箱1外端面上設置有控制面板3，封閉工作室2內設置有加熱器4，封閉工作室2邊側設置有排氣口6，排氣口6側設置有氣泵7。有益之處：一種測試LED壽命的試驗裝置，多路不同電壓自動切換，供電給LED；可以滿足按極限條件測試；正常和極限測試，兩種測試模式可以同時進行；大大縮短測試周期；可以根據實際測試需求，自定義測試周期和期間切換時間頻次。

技術領域

本發明涉及元器件測試可靠性測試領域，特別涉及一種測試LED壽命的試驗裝置。

背景技術

LED燈是一種目前廣泛使用的照明燈具，由于LED燈的使用環境可能是高溫、低溫、干燥、潮濕等不同情況，而LED燈的生產量又比較大，不可能每個LED燈都進行極端環境測試，又由于LED燈的單個成本低，可以更換，因此，只需提供一批產品的正常可期待壽命就可以滿足出廠要求。因此，需要一種設備能夠方便地測試一批產品的正常壽命。

發明內容

針對以上不足，本發明提供了一種測試LED壽命的試驗裝置，其目的是解決現有技術存在的缺點，提供一種方便的設備使其可以測試LED燈14壽命。

本發明解決其技術問題所采用的技術方案是：一種測試LED壽命的試驗裝置，其中，包括高溫試驗箱1、高低溫交變濕熱試驗箱9以及控制連接的電氣控制柜8，所述電氣控制柜8與所述高溫試驗箱1、所述高低溫交變濕熱試驗箱9之間均設置有控制線路5，所述高溫試驗箱1、所述高低溫交變濕熱試驗箱9內均設置有封閉工作室2，所述高溫試驗箱1外端面上設置有控制面板3，所述封閉工作室2內設置有加熱器4，所述封閉工作室2邊側設置有排氣口6，所述排氣口6側設置有氣泵7；所述高低溫交變濕熱試驗箱9的所述封閉工作室2內設置有制冷器11，頂端設置有噴水霧噴頭10，其所述封閉工作室2邊側也設置有所述排氣口6，所述排氣口6側也設置有所述氣泵7，所述高溫試驗箱1、所述高低溫交變濕熱試驗箱9內設置安裝有需要測試的LED燈14，與所述LED燈14連接的電路通過所述高溫試驗箱1、所述高低溫交變濕熱試驗箱9內所述控制面板3進行控制，控制所述LED燈14的電路包括工況切換電路12和測試周期調節電路13，所述工況切換電路12包括各測試電壓范圍的支路，各支路之間并聯設置，電壓范圍以及電壓數值根據所述LED燈14測試需要設置，所述測試周期調節電路13通過時間繼電器控制所述LED燈14在某一環境內的時間周期，所述時間周期涵蓋不同的環境內容。