[發(fā)明專利]烤箱烘焙均勻性的評(píng)判方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011090223.3 | 申請(qǐng)日: | 2020-10-13 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112362596A | 公開(公告)日: | 2021-02-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張朋;李萍;劉文濤 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 青島海爾智慧廚房電器有限公司;海爾智家股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/27 | 分類號(hào): | G01N21/27;A47J37/06 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 胡彬 |
| 地址: | 266101 山東省青島市青*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 烤箱 烘焙 均勻 評(píng)判 方法 | ||
本發(fā)明涉及烤箱技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種烤箱烘焙均勻性的評(píng)判方法,包括以下步驟:獲取烤箱的不同設(shè)定溫度對(duì)應(yīng)的烤箱中心點(diǎn)的實(shí)際溫度;根據(jù)烘烤食材所需的溫度確定實(shí)際溫度,以對(duì)應(yīng)得出所需設(shè)定溫度,將烤箱的設(shè)定溫度調(diào)節(jié)到所需設(shè)定溫度,并加熱食材;測(cè)量同一層烤盤內(nèi)的食材正面的多個(gè)位置的色階號(hào),以獲得該層食材的正面平均色階號(hào),當(dāng)正面平均色階號(hào)達(dá)到第一預(yù)設(shè)范圍時(shí),判斷該層食材正面的最大色階號(hào)和最小色階號(hào)的差值是否在第二預(yù)設(shè)范圍內(nèi),以判斷烤箱的烘烤均勻性。該烤箱烘焙均勻性的評(píng)判方法,能夠判斷出烤箱的烘烤均勻性;能夠避免設(shè)定溫度和烤箱中心點(diǎn)的實(shí)際溫度之間的偏差影響烤箱烘烤均勻性的評(píng)判不準(zhǔn)確。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及烤箱技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種烤箱烘焙均勻性的評(píng)判方法。
背景技術(shù)
烤箱是一種用于烘烤食物的電器,其利用電熱元件所發(fā)出的輻射熱來烘烤食品,可以用來制作烤雞、烤鴨、烘烤面包、糕點(diǎn)等食物。根據(jù)烘烤食品的不同需要,烤箱的溫度一般可在50-250℃范圍內(nèi)調(diào)節(jié)。
為了保證烘烤食品的均勻性,通常在烤箱出廠前對(duì)其烘烤均勻性進(jìn)行評(píng)判,滿足要求后再出廠。現(xiàn)有烤箱,實(shí)際烘焙多為單層烘焙,其烘焙評(píng)判標(biāo)準(zhǔn)僅規(guī)定了烤箱內(nèi)食材的平均色階號(hào)滿足一定范圍即可,該單層烘焙評(píng)價(jià)體系會(huì)存在食材的最大色階號(hào)和最小色階號(hào)之間的差值較大的情況,進(jìn)而存在烤箱烘烤不均勻的情況。另外,由于烤箱的設(shè)定溫度與烤箱中心點(diǎn)的實(shí)際溫度存在一定的偏差,根據(jù)食材所需溫度設(shè)定烤箱的加熱溫度,會(huì)導(dǎo)致烘烤食材時(shí)由于未達(dá)到或者超過所需的加熱溫度而使食材顏色過淺或過深,進(jìn)而影響烤箱烘烤均勻性的評(píng)判。
因此,亟需設(shè)計(jì)一種烤箱烘焙均勻性的評(píng)價(jià)方法,以使得滿足該評(píng)價(jià)方法的烤箱的烘烤均勻性較好,而且避免烤箱的設(shè)定溫度與烤箱中心點(diǎn)的實(shí)際溫度存在偏差導(dǎo)致對(duì)烤箱烘烤均勻性的評(píng)判不準(zhǔn)確。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提出一種烤箱烘焙均勻性的評(píng)判方法,能夠?qū)鞠溥M(jìn)行烘烤均勻性的評(píng)判,使得滿足該評(píng)判方法的烤箱的烘烤均勻性較好,而且避免烤箱的設(shè)定溫度與烤箱中心點(diǎn)的實(shí)際溫度存在偏差導(dǎo)致對(duì)烤箱烘烤均勻性的評(píng)判不準(zhǔn)確。
為達(dá)此目的,本發(fā)明采用以下技術(shù)方案:
本發(fā)明提供一種烤箱烘焙均勻性的評(píng)判方法,包括以下步驟:
獲取烤箱的不同設(shè)定溫度對(duì)應(yīng)的烤箱中心點(diǎn)的實(shí)際溫度;
根據(jù)烘烤食材所需的溫度確定所述實(shí)際溫度,以對(duì)應(yīng)得出所需設(shè)定溫度,將所述烤箱的設(shè)定溫度調(diào)節(jié)到所述所需設(shè)定溫度,將食材放置于至少一層烤盤內(nèi)并加熱所述食材;
測(cè)量每層烤盤內(nèi)的所述食材正面的多個(gè)位置的色階號(hào),以獲得該層所述食材的正面平均色階號(hào),當(dāng)所述正面平均色階號(hào)達(dá)到第一預(yù)設(shè)范圍時(shí),判斷每層所述食材正面的最大色階號(hào)和最小色階號(hào)的差值是否在第二預(yù)設(shè)范圍內(nèi),以判斷所述烤箱的烘烤均勻性。
該烤箱烘焙均勻性的評(píng)判方法,能夠避免由于設(shè)定溫度和烤箱中心點(diǎn)的實(shí)際溫度有偏差導(dǎo)致無法使食材加熱到所需的加熱溫度,而導(dǎo)致影響烤箱烘烤均勻性的評(píng)判;通過測(cè)量同一層烤盤內(nèi)食材正面的多個(gè)位置的色階號(hào),以獲得正面平均色階號(hào),當(dāng)正面平均色階號(hào)達(dá)到第一預(yù)設(shè)范圍時(shí),判斷該層食材正面最大色階號(hào)和最小色階號(hào)的差值是否在第二預(yù)設(shè)范圍內(nèi),進(jìn)而能夠判斷出烤箱的烘烤均勻性。
作為上述烤箱烘焙均勻性的評(píng)判方法的一種優(yōu)選方案,烤箱內(nèi)放置多層烤盤,判斷每層的所述烤盤內(nèi)的所述食材正面的最大色階號(hào)和最小色階號(hào)的差值是否在第二預(yù)設(shè)范圍之后,還包括判斷多層烤盤中顏色最淺和顏色最深的所述烤盤內(nèi)的所述食材的正面平均色階號(hào)的差值是否在第三預(yù)設(shè)范圍內(nèi)。
通過上述方法判斷出烤箱內(nèi)放置多層烤盤時(shí)的烘烤均勻性,滿足該評(píng)判方法的烤箱的烘烤均勻性較好。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
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