[發(fā)明專利]一種氮化鎵三極管開關(guān)測(cè)試電路及測(cè)試方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011088859.4 | 申請(qǐng)日: | 2020-10-13 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112255537B | 公開(公告)日: | 2022-03-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 周峰;陸海;徐尉宗;任芳芳 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 南京大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01R31/327 | 分類號(hào): | G01R31/327;G01R31/26;G01R31/54 |
| 代理公司: | 南京中律知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 32341 | 代理人: | 李建芳 |
| 地址: | 210023 江蘇省南京市*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 氮化 三極管 開關(guān) 測(cè)試 電路 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種氮化鎵三極管開關(guān)測(cè)試電路及測(cè)試方法,開關(guān)測(cè)試電路包括主電路和控制電路,主電路包含串聯(lián)的電源模塊、負(fù)載模塊和待測(cè)模塊;電源模塊包含直流DC電源和儲(chǔ)能電容C1;負(fù)載模塊包含負(fù)載電感L1、控制三級(jí)管Q3、續(xù)流二極管D1、負(fù)載電阻R1和控制三極管Q4;待測(cè)模塊包含控制三極管Q2和待測(cè)三極管Q1;控制電路分別連接待測(cè)三極管Q1的柵極、控制三極管Q2的柵極、控制三極管Q3的柵極和控制三極管Q4的柵極。本發(fā)明測(cè)試過程中待測(cè)三極管只需導(dǎo)通一次,有效避免了器件自熱,消除了與溫度相關(guān)的氮化鎵內(nèi)部缺陷引起的測(cè)試誤差,提高了測(cè)試精度,并且電路中集成了負(fù)載電阻和負(fù)載電感,擴(kuò)大了測(cè)試范圍,提升了測(cè)試效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種氮化鎵三極管開關(guān)測(cè)試電路及測(cè)試方法,屬于電子電路技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
氮化鎵三極管由于具有低柵極電荷、低寄生電容和高飽和漂移速度等優(yōu)勢(shì),在商業(yè)化應(yīng)用中可以顯著降低功率損耗,提高工作效率和增大功率密度。2020年初北京小米科技有限責(zé)任公司發(fā)布了65W氮化鎵充電器,這款搭載氮化鎵三極管的手機(jī)充電器大幅加快了充電速度,并且相比傳統(tǒng)充電器,其體積減小三分之一以上,但是,復(fù)雜的開關(guān)驅(qū)動(dòng)電路和較難的工藝制備都提高了產(chǎn)品成本。由于氮化鎵三極管的低閾值電壓和高開關(guān)速度,需要設(shè)計(jì)低振蕩、防過沖的開關(guān)電路配合器件正常工作,所以準(zhǔn)確評(píng)估氮化鎵三極管的開關(guān)參數(shù)至關(guān)重要。
傳統(tǒng)的雙脈沖開關(guān)測(cè)試是使待測(cè)器件進(jìn)行第一次導(dǎo)通和第二次導(dǎo)通,第一次導(dǎo)通使負(fù)載電感中儲(chǔ)存電流,在第二次導(dǎo)通的瞬間負(fù)載電感電流會(huì)流過待測(cè)器件,從而獲取器件的開關(guān)參數(shù)。但是,由于第一次導(dǎo)通過程中有電流流過待測(cè)器件,待測(cè)器件內(nèi)部會(huì)自熱升溫,與溫度相關(guān)的氮化鎵內(nèi)部缺陷會(huì)使第二次導(dǎo)通時(shí)的開關(guān)參數(shù)測(cè)量結(jié)果出現(xiàn)誤差。
因此,針對(duì)待測(cè)器件在第一次導(dǎo)通時(shí)的自熱問題,以及考慮到負(fù)載電感需要首先導(dǎo)通儲(chǔ)存電流,需要提供一種精確、可靠的氮化鎵三極管開關(guān)參數(shù)測(cè)試方法。
發(fā)明內(nèi)容
為了解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明提供一種氮化鎵三極管開關(guān)測(cè)試電路及測(cè)試方法,待測(cè)三極管只需在測(cè)試過程中導(dǎo)通一次,有效避免了器件自熱,提高了測(cè)試精度;測(cè)試電路集成了負(fù)載電阻和負(fù)載電感,更加全面、細(xì)致的評(píng)估了待測(cè)器件的開關(guān)參數(shù);并可以在負(fù)載電阻和負(fù)載電感間進(jìn)行快速切換測(cè)試,擴(kuò)大了測(cè)試范圍,提升了測(cè)試效率。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明所采用的技術(shù)方案如下:
一種氮化鎵三極管開關(guān)測(cè)試電路,包括主電路和控制電路;主電路包含電源模塊、負(fù)載模塊和待測(cè)模塊;
電源模塊、負(fù)載模塊和待測(cè)模塊串聯(lián);
電源模塊包含直流DC電源和儲(chǔ)能電容C1,儲(chǔ)能電容C1并聯(lián)在直流DC電源的兩端;
負(fù)載模塊包含負(fù)載電感L1、控制三級(jí)管Q3、續(xù)流二極管D1、負(fù)載電阻R1和控制三極管Q4,負(fù)載電感L1的一側(cè)與控制三極管Q3的源極串聯(lián),負(fù)載電感L1的另一側(cè)連接續(xù)流二極管D1的陰極,負(fù)載電阻R1的一側(cè)與控制三極管Q4的源極串聯(lián),負(fù)載電阻R1的另一側(cè)連接續(xù)流二極管D1的陰極,續(xù)流二極管D1的陰極連接直流DC電源的正端,控制三極管Q3的漏極與控制三極管Q4的漏極并接于續(xù)流二極管D1的陽(yáng)極;
待測(cè)模塊包含控制三極管Q2和待測(cè)三極管Q1,控制三極管Q2的漏極與待測(cè)三極管Q1的漏極并接于續(xù)流二極管D1的陽(yáng)極,控制三極管Q2的源極與待測(cè)三極管Q1的源極并接于直流DC電源的負(fù)端;
控制電路分別連接待測(cè)三極管Q1的柵極、控制三極管Q2的柵極、控制三極管Q3的柵極和控制三極管Q4的柵極。
控制電路為SILICON LABS公司生產(chǎn)的Si827x驅(qū)動(dòng)芯片,為主電路提供四個(gè)隔離的三極管柵極控制信號(hào)。
上述電源模塊、負(fù)載模塊和測(cè)試模塊構(gòu)成兩條導(dǎo)通回路、分別為第一導(dǎo)通回路和第二導(dǎo)通回路;直流DC電源、負(fù)載模塊和控制三極管Q2構(gòu)成第一導(dǎo)通回路;直流DC電源、負(fù)載模塊和待測(cè)三極管Q1構(gòu)成第二導(dǎo)通回路。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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