[發明專利]利用光的衍射測量金屬絲楊氏模量的裝置及方法有效
| 申請號: | 202011087977.3 | 申請日: | 2020-10-13 |
| 公開(公告)號: | CN112284917B | 公開(公告)日: | 2022-05-13 |
| 發明(設計)人: | 王風軍;馬東偉 | 申請(專利權)人: | 青島濱海學院 |
| 主分類號: | G01N3/14 | 分類號: | G01N3/14;G01N3/06;G01B5/02;G01B5/30;G09B23/10;G09B23/22 |
| 代理公司: | 青島易維申知識產權代理事務所(普通合伙) 37310 | 代理人: | 王愛麗 |
| 地址: | 266555 山東省青*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 利用 衍射 測量 金屬絲 楊氏模量 裝置 方法 | ||
本發明提供了一種利用光的衍射測量金屬絲楊氏模量的裝置,包括左側光源、測量裝置以及右側光屏,所述測量裝置包括單縫A、單縫B、擋板、螺旋測微器和金屬絲,所述單縫A和單縫B的寬度相等,且單縫B放置在單縫A的上端,擋板與金屬絲固定,且擋板位于單縫A和單縫B的中間,擋板的下邊緣與單縫A的上邊緣平行,單縫A的下邊緣與螺旋測微器相連且跟隨螺旋測微器移動。本發明還提出了一種基于上述裝置的測量方法。本發明利用單縫衍射的條紋特點,在同一豎直方向上寬度相同的多條單縫,在接收屏上的衍射圖樣相同。還利用光的直線傳播,采用遮擋技術來改變通光單縫的寬度,測定出金屬絲的微小形變量,巧妙的利用了光放大原理。
技術領域
本發明涉及力學裝置技術領域,特別涉及一種利用光的衍射測量金屬絲楊氏模量的裝置,還涉及一種利用光的衍射測量金屬絲楊氏模量的方法。
背景技術
《用拉伸法測金屬絲的楊氏模量》是大學物理實驗教學中的一個經典力學實驗范例,主要是采用靜態拉伸法,用光杠桿裝置來測量微小形變量,從而測定金屬絲的楊氏模量。利用光杠桿測量金屬絲的楊氏模量較為常見。但該方法存在以下缺點:1)光杠桿裝置繁雜,占地面積大;2)光路調節復雜,由于望遠鏡到反射鏡距離較遠,使得在望遠鏡中調出標尺的清晰刻度變得困難;3)讀數時抖動明顯,拉伸架上的金屬絲總長度達到一米多,最下端的托盤放上砝碼后,擺動明顯,很難徹底靜止下來,干擾望遠鏡端的讀數;4)測量精確度較低,標尺的最小刻度僅到毫米,使得對金屬絲伸長量的測量精度無法進一步提高。
在光學實驗中,最為困難的是儀器的調節和使用,以及如何將條紋清晰的展現在光屏上。只有將儀器的位置擺放準確,高度協調,角度合適,才能在顯示屏上呈現清晰可見的圖像,以完成課堂實驗要求。而我們做實驗時,常常會因為儀器的位置,角度尋找困難。因此,需要一種裝置解決如何方便、快捷、精確地測量金屬絲的微小形量。
發明內容
本發明提出一種利用光的衍射測量金屬絲楊氏模量的裝置及方法,解決了現有技術中楊氏模量測量精確度低的問題。
本發明的技術方案是這樣實現的:
利用光的衍射測量金屬絲楊氏模量的裝置,包括左側光源、測量裝置以及右側光屏,所述測量裝置包括單縫A、單縫B、擋板、螺旋測微器和金屬絲,所述單縫A和單縫B的寬度相等,且單縫B放置在單縫A的上端,擋板與金屬絲固定,且擋板位于單縫A和單縫B的中間,擋板的下邊緣與單縫A的上邊緣平行,單縫A的下邊緣與螺旋測微器相連且跟隨螺旋測微器移動。
可選地,所述光源為面光源。
可選地,所述金屬絲下端連接托盤。
可選地,所述螺旋測微器還包括調節裝置,所述調節裝置包括固定尺架和可活動尺架,所述可活動尺架內部貫穿有刻度桿,且刻度桿一端處于可活動尺架外側,所述刻度桿端部固定有第二粗調旋鈕,且可活動尺架和刻度桿通過第二粗調旋鈕螺紋連接,遠離所述第二粗調旋鈕的刻度桿的端部設有螺紋孔,且螺紋孔位于固定尺架內部,且刻度桿端部和螺紋孔螺紋連接,且固定尺架端部和可活動尺架端部相抵。
可選地,所述固定尺架頂部設有測量螺桿,且測量螺桿貫穿固定尺架內部,且測量螺桿和固定尺架內部活動連接。
可選地,所述可活動尺架表面設有支撐柱,且支撐柱的頂部和固定尺架頂部在同一水平線上,且支撐柱和可活動尺架固定連接,所述支撐柱內壁固定有測氈,且測氈和測量螺桿的直徑相等,且測氈和測量螺桿的端部相抵。
可選地,所述測量螺桿表面套接有可動刻度,且可動刻度和測量螺桿表面活動連接,靠近所述可動刻度的測量螺桿表面套接有固定刻度,且固定刻度和測量螺桿固定連接,所述固定刻度表面設有第一粗調旋鈕活動連接,且第一粗調旋鈕和測量螺桿螺紋連接。
可選地,遠離所述固定尺架的測量螺桿的端部設有微調旋鈕,且微調旋鈕和測量螺桿固定連接。
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