[發(fā)明專利]一種電子元器件引腳測試裝置

在審

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• 申請日: 2020-10-12
• 公開（公告）號: CN112230085A
• 公開（公告）日: 2021-01-15
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 陳偉;徐勇;葉建國;韓宙
• 申請（專利權(quán)）人: 江陰亨德拉科技有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R1/04
• 代理公司: 江陰市輕舟專利代理事務(wù)所(普通合伙) 32380
• 代理人: 曹鍵

1.一種電子元器件引腳測試裝置，其特征在于：包括底板(1)，所述底板(1)上設(shè)置有測試平臺(3)，所述測試平臺(3)的前后兩側(cè)分別設(shè)置有轉(zhuǎn)盤和固定支架(4)，所述轉(zhuǎn)盤上設(shè)置有多個旋轉(zhuǎn)工位，所述旋轉(zhuǎn)工位上設(shè)置有夾具組件(7)，所述夾具組件(7)內(nèi)放置有待測產(chǎn)品(8)，所述固定支架(4)上設(shè)置有上下布置的測試組件(5)和下壓組件(6)，所述下壓組件(6)與夾具組件(7)相配合用以將待測產(chǎn)品(8)定位在測試平臺(3)上，所述測試組件(5)用以對定位之后的待測產(chǎn)品(8)進行引腳測試。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電子元器件引腳測試裝置，其特征在于：所述測試組件(5)包括輸出端向上的測試組件氣缸(501)，所述測試組件氣缸(501)設(shè)置于固定支架(4)的后側(cè)面，所述測試組件氣缸(501)的輸出端設(shè)置有測試組件升降塊(504)，所述測試組件升降塊(504)與固定支架(4)的前側(cè)面滑動連接，所述測試組件升降塊(504)上向下設(shè)置有左右兩個緩沖柱(506)，所述左右兩個緩沖柱(506)的底端之間設(shè)置有測試組件第二連接塊(507)，所述測試組件第二連接塊(507)上設(shè)置有測試座(509)，所述測試座(509)上設(shè)置有左右兩個向下延伸的測試片(510)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種電子元器件引腳測試裝置，其特征在于：所述緩沖柱(506)上套裝有緩沖彈簧(511)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電子元器件引腳測試裝置，其特征在于：所述下壓組件(6)包括輸出端向上的下壓組件氣缸(601)，所述下壓組件氣缸(601)的輸出端設(shè)置有下壓組件升降塊(602)，所述下壓組件升降塊(602)與固定支架(4)的前側(cè)面滑動連接，所述下壓組件升降塊(602)的頂部設(shè)置有向測試平臺(3)延伸的下壓塊(606)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種電子元器件引腳測試裝置，其特征在于：所述下壓組件升降塊(602)的上方設(shè)置有左右兩個固定塊(603)，所述左右兩個固定塊(603)分別與固定支架(4)的左右兩側(cè)固定連接，所述左右兩個固定塊(603)分別與下壓組件升降塊(602)的左右兩側(cè)之間設(shè)置有下壓組件導(dǎo)向柱(604)，所述下壓組件導(dǎo)向柱(604)的底端穿裝于下壓組件升降塊(602)內(nèi)，所述下壓組件導(dǎo)向柱(604)上套裝有下壓組件彈簧(605)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電子元器件引腳測試裝置，其特征在于：所述夾具組件(7)包括平放的固定板(701)，所述固定板(701)的外段與轉(zhuǎn)盤相連接，所述固定板(701)的外段設(shè)置有夾具組件固定座(702)，所述固定板(701)的內(nèi)段設(shè)置有與固定板(701)滑動連接的移動塊(705)，所述移動塊(705)的外端與夾具組件固定座(702)之間設(shè)置有左右兩個夾具組件導(dǎo)向柱(706)，所述夾具組件導(dǎo)向柱(706)的外端穿裝于夾具組件固定座(702)內(nèi)，所述夾具組件導(dǎo)向柱(706)上套裝有夾具組件彈簧(707)，所述移動塊(705)的內(nèi)端設(shè)置有夾具組件固定塊(708)，所述夾具組件固定塊(708)上設(shè)置有向測試平臺(3)延伸的夾塊(710)，所述夾塊(710)的頂面設(shè)置有放置槽。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種電子元器件引腳測試裝置，其特征在于：所述移動塊(705)的左右兩側(cè)向下設(shè)置有導(dǎo)向塊(711)。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電子元器件引腳測試裝置，其特征在于：所述固定支架(4)包括底座(401)，所述底座(401)的前側(cè)設(shè)置有豎立的支撐板(402)。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的一種電子元器件引腳測試裝置，其特征在于：所述底座(401)的后側(cè)與支撐板(402)的后側(cè)面之間設(shè)置有加強板(403)。