[發明專利]茶葉和大豆套種的栽培方法和播種裝置在審
| 申請號: | 202011087756.6 | 申請日: | 2020-10-13 |
| 公開(公告)號: | CN112219664A | 公開(公告)日: | 2021-01-15 |
| 發明(設計)人: | 覃瀟敏;韋持章;李金婷;農玉琴;廖春文;覃宏宇;韋錦堅;陽景陽;駱妍妃;陳遠權;陸金梅;陳杏;吳琴斯 | 申請(專利權)人: | 廣西南亞熱帶農業科學研究所 |
| 主分類號: | A01G22/40 | 分類號: | A01G22/40;A01G17/00;A01C7/00 |
| 代理公司: | 北京卓嵐智財知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 11624 | 代理人: | 任漱晨 |
| 地址: | 532415 廣西壯族*** | 國省代碼: | 廣西;45 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 茶葉 大豆 套種 栽培 方法 播種 裝置 | ||
本發明公開一種茶葉和大豆套種的栽培方法和播種裝置,其中,該茶葉和大豆套種的栽培方法的步驟包括選地、整地、施基肥、種植、追肥、田間管理以及采收,本發明中通過在茶樹種植坑中預先施入基肥,使得茶樹幼苗可以較為充分的吸收到基肥中的氮元素。進一步的,選擇在2月、5月、8月分別進行第一次追肥、第二次追肥、第三次追肥,使得茶樹具有充足的營養。更進一步地,通過在兩棵茶樹之間套種兩行大豆,利用大豆的生物固氮特性,可以減少氮肥的流失,從而降低氮肥的投入。同時也可以提高田地的利用率,進而提高種植效益。
技術領域
本發明涉及農業種植技術領域,特別涉及一種茶葉和大豆套種的栽培方法和播種裝置。
背景技術
茶葉源于中國,茶葉最早是被作為祭品使用的。但從春秋后期就被人們作為菜食,在西漢中期發展為藥用,西漢后期才發展為宮廷高級飲料,普及民間作為普通飲料那是西晉以后的事。發現最早人工種植茶葉的遺跡在浙江余姚的田螺山遺址,已有6000多年的歷史。飲茶始于中國。葉革質,長圓形或橢圓形,可以用開水直接泡飲,依據品種和制作方式以及產品外形分成六大類。依據季節采制可分為春茶、夏茶、秋茶、冬茶。以各種毛茶或精制茶葉再加工形成再加茶,包括分為花茶、緊壓茶、萃取茶、藥用保健茶、茶食品、含茶飲料等。
相關技術中,茶葉需要使用大量的氮肥,由于氮肥容易隨水土流失,因此使得氮肥的利用率不高。
發明內容
本發明的主要目的是提供一種茶葉和大豆套種的栽培方法,旨在提高減少氮肥的投入,節約種植成本。
為實現上述目的,本發明提出的茶葉和大豆套種的栽培方法,包括以下步驟:
選地:選擇氣候良好,地勢平坦,土壤肥沃的土地作為種植地;
整地:清除地表的雜草,對土地進行深翻后用泥耙將土壤耙細,在土地表面挖茶樹種植坑,其中茶樹種植坑的行間距為1.0cm-1.5m,株間距為25cm-40cm,在兩個茶樹種植坑之間挖大豆種植坑,大豆種植坑的行間距為50cm-75cm,株間距為25cm-40cm;
施基肥:選擇10月份在所述茶樹種植坑中施入氮肥作為基肥;
種植:將茶樹幼苗植入所述茶樹種植坑中,將大豆種子撒入所述大豆種植坑,回填土壤、壓實、澆水;
追肥:使用氮肥在次年2月進行第一次追肥、5月進行第二次追肥、8月份進行第三次追肥;
田間管理:定期對茶樹和大豆進行澆水和除蟲;
采收:在茶葉和大豆成熟后,及時摘取茶葉和對大豆進行采收。
可選地,所述茶樹種植坑的行間距為1.0m,株間距為25cm,大豆種植坑的行間距為50cm,株間距為25cm。
可選地,所述基肥占氮肥施用總量的30%;
第一次追肥占氮肥施用總量的30%,第二次追肥占氮肥施用總量的20%,第三次追肥占氮肥施用總量的20%。
本發明還提出一種播種裝置,其特征在于,包括:
機架;
四個萬向輪,四個所述萬向輪間隔設于所述機架;
播種組件,所述播種組件包括多個安裝座和多個導管,多個安裝座滑動連接于所述機架,一所述導管可拆卸連接于一所述安裝座,所述導管具有入料口和出料口,所述入料口和所述出料口呈上下間隔設置。
可選地,所述播種組件還包括緊固螺釘,所述安裝座設有滑槽和連通所述滑槽的固定孔,所述機架穿設于所述滑槽,所述緊固螺釘由所述固定孔伸入所述滑槽,并可抵接于所述機架。
可選地,所述安裝座開設有貫穿其上下兩表面的插接孔,所述導管插接于所述插接孔內。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于廣西南亞熱帶農業科學研究所,未經廣西南亞熱帶農業科學研究所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202011087756.6/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種基于直流母線的可移動式充電樁
- 下一篇:一種電子元器件引腳測試裝置





