[發(fā)明專利]一種用于測試集成電路板的裝置

有效

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• 申請日: 2020-10-13
• 公開（公告）號: CN112213528B
• 公開（公告）日: 2021-05-14
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 杜駕麟
• 申請（專利權(quán)）人: 杜駕麟
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R31/28
• 代理公司: 北京馳納智財知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11367
• 代理人: 蔣路帆

1.一種用于測試集成電路板的裝置，其特征在于：包括測試機(jī)架、運(yùn)輸導(dǎo)軌、驅(qū)動電機(jī)、待測集成電路載板、壓頭、測試機(jī)和控制器，所述待測集成電路載板設(shè)置在運(yùn)輸導(dǎo)軌上，所述運(yùn)輸導(dǎo)軌與測試機(jī)架相連，所述壓頭和測試機(jī)均設(shè)置在測試機(jī)架上，所述驅(qū)動電機(jī)和運(yùn)輸導(dǎo)軌相連，所述驅(qū)動電機(jī)、壓頭和測試機(jī)均與控制器相連，所述運(yùn)輸導(dǎo)軌為雙層運(yùn)輸導(dǎo)軌，包括上層運(yùn)輸導(dǎo)軌、下層運(yùn)輸導(dǎo)軌和支撐架，所述支撐架設(shè)置在上層運(yùn)輸導(dǎo)軌和下層運(yùn)輸導(dǎo)軌的兩側(cè)，所述上層運(yùn)輸導(dǎo)軌和下層運(yùn)輸導(dǎo)軌從上至下呈階梯狀平行設(shè)置；所述上層運(yùn)輸導(dǎo)軌包括橢圓形軌道(1)、運(yùn)輸組件和降溫組件，所述運(yùn)輸組件包括若干個圓軸，所述圓軸通過軸承座固定均勻鋪設(shè)在軌道(1)上，所述降溫組件與圓軸相對應(yīng)的固定設(shè)置在軌道(1)的兩側(cè)；所述圓軸包括第一圓軸(21)、連接件(22)和第二圓軸(23)，所述第一圓軸(21)、連接件(22)和第二圓軸(23)依次相連，所述第一圓軸(21)和第二圓軸(23)為中空結(jié)構(gòu)，所述第一圓軸(21)和第二圓軸(23)上均均勻設(shè)置有通孔；所述連接件(22)中部兩側(cè)開設(shè)有凹槽(221)，連接件(22)兩側(cè)所述凹槽(221)內(nèi)部均設(shè)置有橫向固定組件和豎向固定組件，橫向固定組件突出凹槽與軌道(1)平行，豎向固定組件突出凹槽與軌道(1)垂直。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于測試集成電路板的裝置，其特征在于：所述連接件(22)兩側(cè)的凹槽(221)內(nèi)部的橫向組件背向設(shè)置，所述連接件(22)兩側(cè)的凹槽(221)內(nèi)部的豎向組件平行設(shè)置。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于測試集成電路板的裝置，其特征在于：所述橫向固定組件包括卡夾(2211)、彈簧(2212)和外永磁鐵(2213)，所述卡夾(2211)、彈簧(2212)和外永磁鐵(2213)依次固定相連，所述豎向固定組件包括內(nèi)永磁鐵(2214)和旋轉(zhuǎn)棒(2215)，所述內(nèi)永磁鐵(2214)和旋轉(zhuǎn)棒(2215)固定旋轉(zhuǎn)連接，所述內(nèi)永磁鐵(2214)和外永磁鐵(2213)的磁性相同。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種用于測試集成電路板的裝置，其特征在于：所述卡夾(2211)的內(nèi)側(cè)壁鋪設(shè)有導(dǎo)電橡膠塊。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種用于測試集成電路板的裝置，其特征在于：所述降溫組件包括噴氣裝置(31)和吸氣裝置(32)，所述噴氣裝置(31)和吸氣裝置(32)均勻間隔對應(yīng)圓軸的間距設(shè)置。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種用于測試集成電路板的裝置，其特征在于：所述上層運(yùn)輸導(dǎo)軌的上方設(shè)置有溫度測試儀，所述溫度測試儀與控制器相連。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種用于測試集成電路板的裝置，其特征在于：所述下層運(yùn)輸導(dǎo)軌上鋪設(shè)有防靜電墊，且防靜電墊接地，所述下層運(yùn)輸導(dǎo)軌和測試機(jī)架相連，所述上層運(yùn)輸導(dǎo)軌和下層運(yùn)輸導(dǎo)軌之間的垂直距離為5cm～10cm。